基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法技术

本发明专利技术公开了一种基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法，它可以将Hammersley序列映射到根据加工误差模型建立的离散表面来决定采样点的位置。包括以下步骤：根据检测曲面的CAD模型，建立曲面的加工误差模型MEM；确定采样数量，并生成Hammersley序列；根据加工误差模型MEM将检测曲面自适应离散化，获得检测曲面的自适应离散模型；将Hammersley序列映射到根据加工误差模型MEM建立的离散表面，得到基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法，指导采样点的分配。本发明专利技术一方面加工误差模型(MEM)可以确保采样能够更加接近加工误差的分配，另一方面，采用二维Hammersley序列可以有效的避免混叠现象的产生，可以更好地捕捉到加工表面上偏差较大的区域。

Adaptive sampling method based on machining error model and Hammersley sequence

The invention discloses an adaptive sampling method based on the processing error model and the Hammersley sequence, which can map the Hammersley sequence to the discrete surface established by the machining error model to determine the location of the sampling point. The following steps are as follows: Based on the CAD model of the detected surface, the machining error model MEM of the surface is established, the number of samples is determined, and the Hammersley sequence is generated, and the adaptive discrete model of the detection surface is obtained according to the machining error model MEM, and the Hammersley sequence is mapped to the machining error model. Based on the discrete surface created by type MEM, an adaptive sampling method based on machining error model and Hammersley sequence is obtained to guide the allocation of sampling points. On the one hand, the machining error model (MEM) can ensure that the sampling can be more close to the distribution of the machining error. On the other hand, the two-dimensional Hammersley sequence can effectively avoid the generation of the aliasing phenomenon, and can better capture the areas with larger deviations on the machined surface.

【技术实现步骤摘要】
基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法
本专利技术涉及加工误差测量领域，具体涉及一种基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法。
技术介绍
自由曲面在工程中有广泛的应用，自由曲面复杂的几何特征对机床和检测方法提出了很大的挑战。在自由曲面的检测方面，采样过程包括设置采样点数量和选取采样点的布点策略两个部分。但是，很多情况下样本点的分配是决定采样点数量的一个主要因素。因此，此专利主要研究采样点布点策略。研究表明，采样策略和检查较大偏差的能力之间存在很大的相互关系[1]。就是说，除了检查模式外，采样策略同样影响检查的准确性[2]。在许多情况下，采样点的分配影响采样采样点数量。一个合理的采样点分配可以准确的描述实际的加工表面质量，所以一个较小的样本数是必要的。因此，一个用于质量控制的采样策略有效性的评价标准被定义为：用最小的采样数量最大可能的将采样点分配于有最大偏差的区域[3]。国内外许多学者致力于采样策略的研究。根据文献[4],采样策略可以分为三类：“blind”采样策略、自适应采样策略和基于加工实际的采样策略。“blind”采样策略并不依据具体加工表面本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)根据检测曲面的CAD模型，建立曲面的加工误差模型MEM；(2)确定采样数量，并生成Hammersley序列；(3)根据加工误差模型MEM将检测曲面自适应离散化，获得检测曲面的自适应离散模型；(4)将Hammersley序列映射到根据加工误差模型MEM建立的离散表面，得到基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法，指导采样点的分配。

【技术特征摘要】
1.基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)根据检测曲面的CAD模型，建立曲面的加工误差模型MEM；(2)确定采样数量，并生成Hammersley序列；(3)根据加工误差...

【专利技术属性】
技术研发人员：何改云，桑一村，庞凯瑞，孙静静，刘晨辉，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：天津,12