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本发明公开了一种基于加工误差模型和Hammersley序列的自适应采样方法，它可以将Hammersley序列映射到根据加工误差模型建立的离散表面来决定采样点的位置。包括以下步骤：根据检测曲面的CAD模型，建立曲面的加工误差模型MEM；确定采...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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