一种液晶面板不良像素点的检测方法技术

本发明专利技术公开了一种液晶面板不良像素点的检测方法，包括：S101：根据所述液晶面板的实际行扫描时间设置测试行扫描时间；S103：使用所述测试行扫描时间对所述液晶面板进行行扫描，并向所述液晶面板的公共电极施加偏置电压；S105：以所述液晶面板的一个行扫描起始信号为检测起点，在预设时间内在所述液晶面板的数据线上按顺序循环输入第一至第五阶段的测试电压信号；S107：将不良像素点以闪烁形式呈现给观察者。本发明专利技术能够在一帧画面下，同时检出液晶面板中存在的多种类型不良像素点，并同时减少画面个数，提高检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种液晶面板不良像素点的检测方法
本专利技术涉及显示
，特别是涉及一种液晶面板不良像素点的检测方法。
技术介绍
随着技术的发展和窄边框的要求，越来越多的液晶面板，采用GOA(gateonarray)或GIP(gateinpanel)技术实现行驱动功能，不再需要额外的行驱动芯片。对于此类液晶面板，目前的检测方法是采用常规的驱动方式(时序、帧频等)，扫描液晶面板的每一行，在液晶面板上显示黑、白、灰等多个画面，判别是否有点、线、不均等各种不良像素点存在。其中，在屏幕上显示黑画面或半屏白半屏黑(即半个屏幕显示为最高灰阶白色，另外半个屏幕显示为最低灰阶黑色)，如图1所示，若有薄膜晶体管液晶单元的像素电极2，和像素电极1，像素电极3之间存在短路现象，则此薄膜晶体管单元的动作异常，将会在屏幕上呈现为亮点。但是，在现场检测中发现有一种不良像素点，因为工艺等原因在液晶的像素电极上存在微小的泄露电流，而此时薄膜晶体管呈现正常动作，使用黑画面或者半屏黑半屏白画面进行测试，均观察不到亮点，因此将导致此类不良像素点的漏检。
技术实现思路
为了解决上述问题至少之一，本专利技术提供一种液晶面板不良像素点的检测方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶面板不良像素点的检测方法，其特征在于，包括：S101：根据所述液晶面板的实际行扫描时间设置测试行扫描时间；S103：使用所述测试行扫描时间对所述液晶面板进行行扫描，并向所述液晶面板的公共电极施加偏置电压；S105：以所述液晶面板的一个行扫描起始信号为检测起点，在预设时间内在所述液晶面板的数据线上按顺序循环输入第一至第五阶段的测试电压信号；S107：将不良像素点以闪烁形式呈现给观察者。

【技术特征摘要】
1.一种液晶面板不良像素点的检测方法，其特征在于，包括：S101：根据所述液晶面板的实际行扫描时间设置测试行扫描时间；S103：使用所述测试行扫描时间对所述液晶面板进行行扫描，并向所述液晶面板的公共电极施加偏置电压；S105：以所述液晶面板的一个行扫描起始信号为检测起点，在预设时间内在所述液晶面板的数据线上按顺序循环输入第一至第五阶段的测试电压信号；S107：将不良像素点以闪烁形式呈现给观察者。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述S101中，所述测试行扫描时间为所述液晶面板实际行扫描时间的[2.5，6]倍。3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述S103中，所述偏置电压的偏置范围为正负[0.5，2.5]V。4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述S105中，所述预设时间范围为大于等于1秒。5.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈文源，陆跟成，张可可，丁成聪，
申请(专利权)人：苏州华兴源创电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32