一种电工薄膜耐压测试仪测试方法技术

本发明专利技术一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，包括用于试样膜采样的采样工具以及用于试样膜测试的测试工具；所述采样工具包括工作台(6)、采样模板(3)、采样垫(2)及美工刀(5)；所述测试工具包括上电极(9)、下电极(10)、柔性橡胶块(8)及铝箔(7)。本发明专利技术偶然误差小，试样膜采集过程、测试过程中不损伤膜面，测试数据量增多，测试数据真实性提高。

【技术实现步骤摘要】
一种电工薄膜耐压测试仪测试方法
本专利技术涉及一种电工薄膜耐压测试仪，具体地说就是一种电工薄膜耐压测试仪测试方法。
技术介绍
随着用户对电工薄膜品质要求的提高，各电工薄膜生产厂家在生产过程中，都采取质量跟踪控制以便达到提高其品质的目的，随之而来的就是在生产过程中逐批对电工薄膜做耐压测试，同时记录测试数据供技术人员分析。电工薄膜耐压测试仪是用来对电工薄膜进行耐压试验的仪器，一般由设在工作台上方的测试部分和设在工作台下方的电控部分组成,CN201489083U公开的就是这样一种电工薄膜耐压测试仪，测试部分包括一对测试电极及绝缘支架，其中一个为固定电极，另一个为活动电极，测试部分通常设在绝缘测试室内，由于每次测试需要检测多个点位，因此测试结束后需打开测试室更换测试点。为了方便更换测试点，CN202362418U公开的电工薄膜耐压测试仪的耐压测试室具有推拉门结构，以方便工作人员更换测试点。现有的电工薄膜耐压测试仪，经常出现不同生产日生产的同规格的电工薄膜耐电压值差别大，同生产日生产的同规格的电工薄膜耐电压值最大最小值差距大，导致测试数据不准，数据失真。究其原因：1.薄膜标本采集处理不当，导致偶然误差增大；2.采集试样膜过程中导致膜面损伤；3.测试过程中上下电极钢性接触，损伤膜面；4.测试电极清洁不及时，电极上积累膜垢；5.测试数据量少，导致测试数据分散。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的不足，提供一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，测试数据真实性提高。技术方案：为实现上述目的，本专利技术一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，包括用于试样膜采样的采样工具以及用于试样膜测试的测试工具；所述采样工具包括工作台、采样模板、采样垫及美工刀；所述测试工具包括上电极、下电极、柔性橡胶块及铝箔。进一步的，所述工作台设置在实验室内且铺设桌布，所述工作台尺寸为4m*2m，适合放置大膜卷标本，且拖动大膜卷标本采样时不伤膜体。进一步的，所述采样模板设置有方便操作的提手，所述采样模板尺寸为200mm*200mm。进一步的，所述采样垫设置在工作台操作侧中心位，且置于工作台桌布上，所述采样垫尺寸为300mm*300mm。进一步的，所述上电极尺寸为Φ20mm的圆柱体；所述下电极尺寸为200mm*200mm的电极板。进一步的，所述柔性橡胶块尺寸为200mm*200mm*5mm；所述铝箔尺寸为300mm*150mm*1mm，用于包裹柔性橡胶块，收尾面与下电极电接触。优选的，所述采样模板为不锈钢材质，所述采样垫为玻璃材质，所述上电极及下电极为表面镀铬金属体。本专利技术采用如下技术方案得以实现：1.膜卷标本采集处理:1.1在生产线上剥除薄膜大膜卷外表5层，因大膜卷外表与外界接触,粘有灰尘,人员手上汗渍等；1.2用美工刀在剥除外表5层后的大膜卷上采集大膜卷标本，大膜卷标本采集数至少20层；2.实验室环境：温度25℃，湿度≤70；3.标本放置处理:将大膜卷标本放置在工作台上；4.试样膜采集：将大膜卷标本要采集试样区域放置在采样垫上，手提采样模板按在大膜卷标本上，用美工刀沿采样模板周边裁剪与采样模板同面积的200mm*200mm试样膜，拖动大膜卷标本膜体，至少在5个不同区域裁剪5份试样膜；5．机器预热10分钟，用无水酒精清洁上电极及下电极；6．将铝箔包裹在柔性橡胶块上，再将包裹了铝箔的柔性橡胶块放置在下电极板上，铝箔收尾面与下电极板接触；7.将单片试样膜放在铝箔上，上电极圆柱体轻放在试样膜上，启动测试；8.数据处理：单片试样膜测试5点，记录数据；一批次试验20片试样膜，一批次共100组数据；5批次试验数据平均值即为该规格某一生产日的耐压数据；9.清洁电极、更换铝箔频次：100组数据清洁电极一次；100组数据更换铝箔一次。与已有技术相比，本专利技术的有益效果：1.大膜卷标本至少采集20层，采集面更广，有利消除偶然误差；2.工作台铺设桌布，试样膜采集过程中不损伤膜面；3.包裹铝箔柔性橡胶块作测试时的下电极，上电极圆柱体与试样膜柔性接触，测试过程中不损伤膜面；4.定期清洁电极,及时清洁电极上的膜垢；5.单片试样膜测试5点，一批次试验20片试样膜，5批次试验平均数据作为耐压值数据,测试数据量增多。提高了测试数据真实性。附图说明：图1为本专利技术试样膜裁剪示意图；图2为本专利技术试样膜测试示意图；其中，1大膜卷标本，2采样垫，3采样模板，4提手，5美工刀，6工作台，7铝箔，8柔性橡胶块，9上电极，10下电极，11试样薄膜。具体实施方式：如图1-2所示，本专利技术一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，包括用于试样膜采样的采样工具以及用于试样膜测试的测试工具；所述采样工具包括工作台(6)、采样模板(3)、采样垫(2)及美工刀(5)；所述测试工具包括上电极(9)、下电极(10)、柔性橡胶块(8)及铝箔(7)。所述工作台(6)设置在实验室内且铺设桌布，所述工作台(6)尺寸为4m*2m，适合放置大膜卷标本(1)，且拖动大膜卷标本采样时不伤膜体。所述采样模板(3)设置有方便操作的提手(4)，所述采样模板(3)尺寸为200mm*200mm，所述采样模板(3)为不锈钢材质。所述采样垫(2)设置在工作台(6)操作侧中心位，且置于工作台(6)桌布上，所述采样垫(2)尺寸为300mm*300mm，所述采样垫(2)为玻璃材质。所述上电极(9)尺寸为Φ20mm的圆柱体；所述下电极(10)尺寸为200mm*200mm，所述上电极(8)及下电极(10)为表面镀铬金属体。所述柔性橡胶块(8)尺寸为200mm*200mm*5mm；所述铝箔(7)尺寸为300mm*150mm*1mm，用于包裹柔性橡胶块(8)，收尾面与下电极(10)电接触。本专利技术一种电工薄膜耐压测试仪测试方法采用如下技术方案得以实现：1.膜卷标本采集处理:1.1在生产线上剥除薄膜大膜卷外表5层，因大膜卷外表与外界接触,粘有灰尘,人员手上汗渍等；1.2用美工刀在剥除外表5层后的大膜卷上采集大膜卷标本(1)，大膜卷标本(1)采集数至少20层；2.实验室环境：温度25℃，湿度≤70；3.标本放置处理:将大膜卷标本(1)放置在工作台(6)上；4.试样膜采集：将大膜卷标本(1)要采集试样区域放置在采样垫(2)上，手提采样模板(3)按在大膜卷标本(1)上，用美工刀(5)沿采样模板(3)周边裁剪与采样模板同面积的200mm*200mm试样膜，拖动大膜卷标本(1)膜体，至少在5个不同区域裁剪5份试样膜；5．机器预热10分钟，用无水酒精清洁上电极(9)及下电极(10)；6．将铝箔(7)包裹在柔性橡胶块(8)上，再将包裹了铝箔(7)的柔性橡胶块(8)放置在下电极(10)板上，铝箔(7)收尾面与下电极(10)板接触；7.将单片试样薄膜(11)放在铝箔(7)上，上电极(9)圆柱体轻放在试样薄膜(11)上，启动测试；8.数据处理：单片试样薄膜(11)测试5点，记录数据；一批次试验20片试样薄膜(11)，一批次共100组数据；5批次试验数据平均值即为该规格某一生产日的耐压数据；9.清洁电极、更换铝箔频次：100组数据清洁电极一次；100组数据更换铝箔一次。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征在于包括用于试样膜采样的采样工具以及用于试样膜测试的测试工具；所述采样工具包括工作台(6)、采样模板(3)、采样垫(2)及美工刀(5)；所述测试工具包括上电极(9)、下电极(10)、柔性橡胶块(8)及铝箔(7)。

【技术特征摘要】
1.一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征在于包括用于试样膜采样的采样工具以及用于试样膜测试的测试工具；所述采样工具包括工作台(6)、采样模板(3)、采样垫(2)及美工刀(5)；所述测试工具包括上电极(9)、下电极(10)、柔性橡胶块(8)及铝箔(7)。2.根据权利要求1所述的一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征是：所述工作台(6)设置在实验室内且铺设桌布，所述工作台(6)尺寸为4m*2m，适合放置大膜卷标本(1)，且拖动大膜卷标本(1)采样时不伤膜体。3.根据权利要求1所述的一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征是：所述采样模板(3)设置有方便操作的提手(4)，所述采样模板(3)尺寸为200mm*200mm。4.根据权利要求1所述的一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征是：所述采样垫(2)设置在工作台(6)操作侧中心位，且置于工作台(6)桌布上，所述采样垫(2)尺寸为300mm*300mm。5.根据权利要求1所述的一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征是：所述上电极(9)尺寸为Φ20mm的圆柱体；所述下电极(10)尺寸为200mm*200mm的电极板。6.根据权利要求1所述的一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征是：所述柔性橡胶块(8)尺寸为200mm*200mm*5mm；所述铝箔(7)尺寸为300mm*150mm*1mm，用于包裹柔性橡胶块(8)，收尾面与下电极(10)电接触。7.根据权利要求1所述的一种电工薄膜耐压测试仪测试方法，其特征是：所述采样模板(3)为不锈...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱锦绣，
申请(专利权)人：钱立文，
类型：发明
国别省市：安徽,34