【技术实现步骤摘要】
一种角变化球面三元组天线辐射电磁场测量系统和方法
本专利技术涉及微波
,特别是涉及一种角变化球面三元组天线辐射电磁场测量系统和方法。
技术介绍
电磁场测量技术应用于天线参数测量、电磁微波器件测量以及散射测量等多个方面。更早时期,由于集成电路工艺水平发展限制,严重限制电磁场测量频率范围和精度。近十几年来由于电子电路工艺飞速发展,也出现了高精度的电磁场微波测量仪器,这就为更高频率电磁场的精确测量提供了仪器保证。与此同时,一些新兴测量技术得到了很好的发展和实践的检验,例如紧缩场测量技术等。在电磁场检测技术当中,天线作为基本的辐射单元,其参数测试技术已经趋于成熟。然而对于复杂射频体目标,如球面三元组天线,其辐射形成的复杂电磁场的测量缺乏较为精确的测量方法。因此很难从较为粗糙或者错误测量数据中提取有效场信息,这对复杂电磁环境下的目标识别设置了障碍。因此,需要提供一种可以有效测量的Ku波段角变化球面三元组天线辐射电磁场测量系统和方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种角变化球面三元组天线辐射电磁场测量系统和方法,能够对球面三元组天线辐射电磁场进行最大限度的精确测量 ...
【技术保护点】
一种角变化球面三元组天线辐射电磁场测量系统,其特征在于,包括:球面三元组天线,用于构成所述测量系统的电磁场辐射源;探头天线,用于测量所述测量系统的辐射电磁场;以及扫描架,在所述测量系统中用于架设和移动所述探头天线。
【技术特征摘要】
1.一种角变化球面三元组天线辐射电磁场测量系统,其特征在于,包括:球面三元组天线,用于构成所述测量系统的电磁场辐射源;探头天线,用于测量所述测量系统的辐射电磁场;以及扫描架,在所述测量系统中用于架设和移动所述探头天线。2.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,所述球面三元组天线设置为辐射天线阵列,包括1到N个子三元组天线,N为正整数。3.根据权利要求2所述的测量系统,其特征在于,所述子三元组天线为等边三角形排列。4.根据权利要求3所述的测量系统,其特征在于,所述子三元组天线为双极化天线,极化方式为水平极化或垂直极化。5.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,所述探头天线为Ku波段标准增益角锥喇叭天线,设置在所述球面三元组天线对应的所述球面的球心处。6.根据权利要求1所述的测量系统,其特征在于,所述扫描架在所述测量系统中的水平方向和竖直方向进行位移扫描。...
【专利技术属性】
技术研发人员:石彬,全绍辉,陶渝辉,马静,全从军,
申请(专利权)人:北京仿真中心,
类型:发明
国别省市:北京,11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。