激光器老化测试设备制造技术

一种激光器老化测试设备，用于对半导体激光器进行老化测试，该激光器老化测试设备包括测试架、设置在测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与电源机构电气连接的主控制器、及与降温板连接的供液组件；电源机构与半导体激光器电气连接，向若干半导体激光器提供电源；功率检测器与半导体激光器对应，以检测半导体激光器在老化测试过程中的发光功率；主控制器与功率检测器电气连接；电源机构设有电能输出口、温度检测口、及数据输出口；通过设置功率检测器及主控制器，可自动分析半导体激光器在老化测试过程中的发光性能，并实施对半导体激光器在老化测试过程中的保护控制，能同时对多个半导体激光器进行老化，提升了测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
激光器老化测试设备
本技术涉及检测设备，特别是涉及一种激光器老化测试设备。
技术介绍
半导体激光器在生产完成后，为保证出厂产品的合格率，需对生产完成的产品进行老化测试，所谓老化测试，即将半导体激光器通电，使其在一定条件下持续工作一段时间，通过老化测试的半导体激光器才允许提供给客户，从而确保了出售的半导体激光器能持续稳定工作。现有老化测试方式中，一般利用人工操作各种检测设备以启动老化测试、并记录老化测试过程中的各种电气参数。因此，现有老化测试的检测效率较低，无法满足半导体激光器批量生产的要求。
技术实现思路
基于此，本技术提供一种检测效率较高的激光器老化测试设备。为了实现本技术的目的，本技术采用以下技术方案：一种激光器老化测试设备，包括测试架、设置在所述测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与所述电源机构电气连接的主控制器、及与所述降温板连接的供液组件；所述测试架包括相对设置第一侧框、第二侧框、及安装在所述第一侧框与所述第二侧框之间的辅助基板、负载基板；所述主控制器与所述功率检测器电气连接。本技术的激光器老化测试设备通过设置功率检测器及主控制器，可自动分析半导体激光器在老化测试过程中的发光性本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光器老化测试设备，其特征在于，包括测试架、设置在所述测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与所述电源机构电气连接的主控制器、及与所述降温板连接的供液组件；所述测试架包括相对设置第一侧框、第二侧框、及安装在所述第一侧框与所述第二侧框之间的辅助基板、负载基板；所述主控制器与所述功率检测器电气连接。

【技术特征摘要】
1.一种激光器老化测试设备，其特征在于，包括测试架、设置在所述测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与所述电源机构电气连接的主控制器、及与所述降温板连接的供液组件；所述测试架包括相对设置第一侧框、第二侧框、及安装在所述第一侧框与所述第二侧框之间的辅助基板、负载基板；所述主控制器与所述功率检测器电气连接。2.根据权利要求1所述的激光器老化测试设备，其特征在于，所述电源机构设有电能输出口、温度检测口、及数据输出口；所述降温板上还设有测温槽；所述降温板上的测温槽中安装有温控元件；所述温控元件与所述电源机构的温度检测口连接。3.根据权利要求2所述的激光器老化测试设备，其特征在于，所述电源机构的数据输出口与所述主控制器连接。4.根据权利要求2所述的激光器老化测试设备，其特征在于，所述辅助基板与所述负载基板在垂直方向相互重合；所述负载基板上安装有若干所述降温板；所述功率检测器包括主体部、及与所述主体部连接的外延部；所述功率检测器的主体部安装在所述负载基板上，且处于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄海翔，廖东升，刘猛，文少剑，
申请(专利权)人：深圳市杰普特光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44