电子部件测试用分选机及其示教点调整方法技术

本发明专利技术涉及一种电子部件测试用分选机及其示教点调整方法。本发明专利技术涉及如下的技术：在启动分选机的过程中拍摄拾取模块的拾取部或者被拾取部抓持的半导体元件的抓持状态，并对拍摄的图像和已存储的图像进行比较，从而能够判断通过拾取模块的示教点的不良与否或者半导体元件的抓持不良与否。根据本发明专利技术，由于在分选机的启动过程中持续地调整示教点，所以可以提高半导体元件的移动作业的可靠性，且由于不发生基于示教点不良的启动中止状况，所以能够提升分选机的启动率而增加处理容量，并且能够确认半导体元件的抓持不良与否而迅速地作出对应。

Sorting machine for electronic component testing and its teaching point adjustment method

The invention relates to a sorting machine for electronic component testing and a teaching point adjustment method thereof. The invention relates to the following techniques: taking a pickup section of a pickup module or the grasping state of a semiconductor element held by the pickup unit during the start of the sorting machine, and comparing the captured images with the stored images, so as to determine the bad or not of the teaching points of the pickup module or the semiconductor components. Grasp the bad or not. According to the invention, the reliability of the mobile operation of the semiconductor element can be improved because of the continuous adjustment of the teaching point in the starting process of the sorting machine, and it can increase the starting rate of the sorting machine and increase the processing capacity, and can confirm the semiconductor, and can confirm the semiconductor. The corresponding grasp of the components is poor or not.

【技术实现步骤摘要】
电子部件测试用分选机及其示教点调整方法
本专利技术涉及一种将半导体元件电连接到测试机，并根据测试结果而对半导体元件进行分类的分选机。
技术介绍
电子部件测试用分选机(以下称之为“分选机(handler)”)是一种将通过预定的制造工序制造的电子部件电连接到测试机(tester)之后根据测试结果而对电子部件进行分类的设备。通常，分选机为了将多个电子部件一并测试而执行如下的工作：将堆载于客户托盘(customertray)的电子部件移动至测试托盘，并且在完成测试之后将堆载于测试托盘的电子部件移动到客户托盘。因此，在分选机中配备有用于使电子部件在互不相同的堆载要素和堆载要素之间移动的多个移动装置。在此，除了上述的客户托盘或测试托盘之外，堆载要素还包括用于临时堆载电子部件的缓冲部等能够在分选机内堆载电子部件的所有要素。移动装置在大多数情况下具有能够抓持电子部件或者能够解除抓持的多个拾取部(picker)。而且多个拾取部可以调整彼此之间的间距，以能够使电子部件在彼此不同的堆载要素之间移动。另外，为了使拾取部适当地抓持电子部件或者解除该抓持，需要在位于准确的示教点(teachingpoint)的状本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子部件测试用分选机，其中，包括：多个移动装置，在半导体元件的移动路径上，将位于前端的示教区域的电子部件移动到后端的示教区域；连接装置，在位于所述移动路径上的测试位置，使电子部件电连接到测试机；至少一个摄像机，用于判断借助所述多个移动装置中的至少一个移动装置的电子部件的示教不良与否；控制装置，控制所述多个移动装置、所述连接装置和所述至少一个摄像机，所述多个移动装置中的至少一个移动装置包括：拾取模块，具有至少一个拾取部，所述至少一个拾取部包含能够抓持电子部件或解除电子部件的抓持的基准拾取部；以及移动机，用于使所述拾取模块在前端的示教区域和后端的示教区域之间移动，所述摄像机拍摄位于特定位置的被...

【技术特征摘要】
2016.10.13 KR 10-2016-0132731;2017.07.21 KR 10-2011.一种电子部件测试用分选机，其中，包括：多个移动装置，在半导体元件的移动路径上，将位于前端的示教区域的电子部件移动到后端的示教区域；连接装置，在位于所述移动路径上的测试位置，使电子部件电连接到测试机；至少一个摄像机，用于判断借助所述多个移动装置中的至少一个移动装置的电子部件的示教不良与否；控制装置，控制所述多个移动装置、所述连接装置和所述至少一个摄像机，所述多个移动装置中的至少一个移动装置包括：拾取模块，具有至少一个拾取部，所述至少一个拾取部包含能够抓持电子部件或解除电子部件的抓持的基准拾取部；以及移动机，用于使所述拾取模块在前端的示教区域和后端的示教区域之间移动，所述摄像机拍摄位于特定位置的被所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面，所述控制装置利用在所述特定位置处被所述摄像机拍摄的、被所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面图像来判断所述基准拾取部的示教不良与否之后，如果所述基准拾取部的示教不良，则调整所述基准拾取部的示教点。2.如权利要求1所述的电子部件测试用分选机，其中，所述控制装置在利用所述摄像机而在所述特定位置拍摄所述基准拾取部的底面图像之后，进行分析而第一次调整所述基准拾取部的示教点，然后利用被第一次调整示教点的所述基准拾取部抓持的特定电子部件的底面图像来判断所述基准拾取部的示教不良与否。3.如权利要求2所述的电子部件测试用分选机，其中，所述控制装置利用所述基准拾取部的底面图像来使所述基准拾取部的底面中心与所述摄像机的中心对齐，并将底面中心与所述摄像机的中心对齐的所述基准拾取部所抓持的特定电子部件的底面图像的中心和所述摄像机的中心进行比较，从而判断所述基准拾取部的示教不良与否。4...

【专利技术属性】
技术研发人员：李相沅，金成元，尹相君，尹省植，罗闰成，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国,KR