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本发明涉及一种电子部件测试用分选机及其示教点调整方法。本发明涉及如下的技术：在启动分选机的过程中拍摄拾取模块的拾取部或者被拾取部抓持的半导体元件的抓持状态，并对拍摄的图像和已存储的图像进行比较，从而能够判断通过拾取模块的示教点的不良与否或者...
该专利属于泰克元有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克元有限公司授权不得商用。

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