电子部件测试用分选机制造技术

本发明专利技术涉及一种电子部件测试用分选机。根据本发明专利技术的电子部件测试用分选机具有从外部阻断位于测试插座的电子部件或将位于测试插座的电子部件开放于外部的屏蔽器，并且屏蔽器配备为相对于测试插座相对移动。根据本发明专利技术，由于能够对电子部件进行密闭或开放，因此具有确保测试的可靠性同时容易进行附带作业的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种通过将电子部件电连接至测试器来支持针对电子部件的测试的电子部件测试用分选机。

技术介绍

1、生产的电子部件经过测试器的测试，分类为合格品和不良品后，只有合格品出厂。在这个过程中，使用将电子部件电连接至测试器的电子部件测试用分选机。

2、通常，电子部件测试用分选机将电子部件供应到测试插座后加压，从而使电子部件与测试插座电连接。据此，电子部件与测试器电连接。

3、对电子部件的测试是以从测试器向电子部件输入测试信号，并且确认从电子部件返回的结果信号的方式实现。因此，只有将正常的测试信号输入到电子部件，才能确保针对测试的可靠性。

4、另外，在测试现场存在由大量电磁波引起的噪声，这些噪声可以与测试信号一同输入到被测试的电子部件。如果噪声输入到被测试的电子部件，则电子部件生成错误的结果信号并发送到测试器。为了防止这种情况，需要将被测试的电子部件与噪声隔离。

5、因此，在韩国公开专利20-2016-0004304号中提出了具备噪声防止机构的技术(以下，称为“现有技术”)。

6、根据现有技术的噪本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子部件测试用分选机，包括：

2.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机，其中，

3.根据权利要求2所述的电子部件测试用分选机，其中，

4.根据权利要求2所述的电子部件测试用分选机，其中，

5.根据权利要求4所述的电子部件测试用分选机，其中，

6.根据权利要求5所述的电子部件测试用分选机，其中，

7.根据权利要求6所述的电子部件测试用分选机，其中，

8.根据权利要求7所述的电子部件测试用分选机，其中，

9.一种电子部件测试用分选机，包括：

10.根据权利要求1或9所述的电...

【技术特征摘要】

1.一种电子部件测试用分选机，包括：

2.根据权利要求1所述的电子部件测试用分选机，其中，

3.根据权利要求2所述的电子部件测试用分选机，其中，

4.根据权利要求2所述的电子部件测试用分选机，其中，

5.根据权利要求4所述的电子部件测试用分选机，其中，

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【专利技术属性】
技术研发人员：罗闰成，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：