一种数控主板自动化测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种数控主板自动化测试系统，包括：测试数控主板(1100)和被测数控主板(1200)，测试数控主板(1100)与被测数控主板(1200)相连，用于在测试软件的控制下对被测数控主板(1200)进行测试。由于和被测数控主板(1200)的连接接口相应的测试模块都能使用测试数控主板(1100)自带的模块，因此只需通过软件改变测试数控主板(1100)的输入输出电路，例如将第一数据输出接口通过软件控制设置为第一数据输入接口，用于接收被测数控主板(1200)的第一数据输出接口输出的测试信号，或者将第二数据输入接口通过软件控制设置为第二数据输出接口，用于向被测数控主板(1200)的第二数据输入接口输出测试信号，便可使用测试数控主板(1100)测试被测数控主板(1200)，因此减少了数控测试板的开发成本。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请，说明书已公开。

【技术保护点】
PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】PCT国内申请，...

【专利技术属性】
技术研发人员：周瑜，杨书生，
申请(专利权)人：深圳配天智能技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44