一种聚合物熔融电阻率的测试方法技术

本发明专利技术涉及一种聚合物熔融电阻率的测试方法，将两个开口端分别由电极片Ⅰ和电极片Ⅱ进行覆盖的中空腔内填满聚合物熔体后，测量两电极片之间的电阻率，电极片Ⅰ和电极片Ⅱ的材料相同，中空腔设置在绝缘材料内，电极片Ⅰ覆盖的开口端上还覆盖有导电片，导电片位于电极片Ⅰ的下方且尺寸小于电极片Ⅰ，导电片上设有多个透气孔。本发明专利技术的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，操作简便，且对聚合物状态无特殊要求，测试要求低，效率高，对测试中容易产生的气泡和填充不实等现象，可及时排查解决，测试精确度高，重复操作性好且测试过程中消耗的聚合物少，实现了对于聚合物电阻率的快速精准的测量，有极好的经济价值和推广价值。

【技术实现步骤摘要】
一种聚合物熔融电阻率的测试方法
本专利技术属于测量领域，具体涉及一种聚合物熔融电阻率的测试方法。
技术介绍
PET聚合物不但具有优良的机械性能、耐化学性、电绝缘性和气密性，而且还具有不易破碎、无毒、无异嗅和易回收等优点，因此已被广泛应用于国防、石油、电器、药品和包装等多种领域。在实际应用中，如在易燃易爆场所和生产储运过程中往往需要PET聚合物具有较高的绝缘性和耐压强度，才能有效避免漏电和击穿等事故的发生，因此针对PET聚合物的电阻测量就非常重要，其对指导生产工艺参数的调整有着十分重要的意义。现有技术中的PET片材电阻的测量方法一般是采用圆柱形状的聚四氟乙烯圆杯作为测试容器，在圆杯内衬不锈钢板作为正电极，在圆杯底板正中心固定一根不锈钢棒作为负电极，然后使用电阻测试仪连接正负电极，从而达到测量杯内PET熔体电阻的目的。上述方法操作复杂，且在PET熔体电阻的测量过程中还会经常存在熔体填充不完全和有气泡等现象，导致测量结果真实性大幅度降低。此外，上述方法只能采样现成的PET熔体，对于PET熔体的需求量较多且测量时间有限，测量时间稍长熔体将会冷却凝固，只能重新采集PET熔体，容易造成资源浪费且PET聚合物的固定加热板不易清洁，导致测量速度和测量结果精确度都无法得到保障，测量可重复性不好，且正负电极有受损的潜在危险，如果一次检测的试样比较多，就需要很长时间才能完成，所以传统的聚合物电阻的测量方法往往不能够满足人们在工业生产活动中的要求，进而进一步影响了整个工业生产活动的连续性和安全性。因此，亟待研究出一种操作简便并且测试精确度高、效率高的聚合物熔融电阻率的测试方法。专利
技术实现思路
本专利技术的目的是为了克服现有技术中聚合物电阻测试方法操作复杂并且测试精确度低、效率低的缺点，从而提供了一种操作简便并且测试精确度高、效率高的聚合物熔融电阻率的测试方法。为了达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为：一种聚合物熔融电阻率的测试方法，将两个开口端分别由电极片Ⅰ和电极片Ⅱ进行覆盖的中空腔内填满聚合物熔体后，测量两电极片之间的电阻率；电极片Ⅰ和电极片Ⅱ的材料相同，中空腔设置在绝缘材料内，电极片Ⅰ和电极片Ⅱ为同样材料，避免不同材质间导电性能差异；可以不同样尺寸形状，但必须满足覆盖测量腔，而且满足不会导致熔体溢出电极片周边以影响测量；建议设置为同样厚度，方便使用操作；中空腔包围材料必须绝缘，如果中空腔周围材料不绝缘，测试方法不成立，无法使用扣除法进行结果比对。作为优选的技术方案：如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，电极片Ⅰ覆盖的开口端上还覆盖有导电片，导电片位于电极片Ⅰ的下方且尺寸小于电极片Ⅰ，导电片上设有多个透气孔以便于空腔内聚合物熔融状态下气体的排出，本专利技术在电极片I下设置导电片以保证能够全面接触到中空腔内的熔体，导电片的尺寸小于电极片Ⅰ的尺寸使得导电片更贴合空腔中聚合物，利于气体的排出。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，测试步骤具体如下：(1)将电极片Ⅱ固定并盖在测试板内部中空腔的一开口端，固定的目的是防止聚合物加热熔融后流动使电极片Ⅱ位移，导致聚合物流出或上下铝箔接触短路影响测定；(2)加热测试板并将聚合物切片加入中空腔内使其紧密均匀排列于中空腔内直至聚合物熔体填满中空腔，其中加热温度高于聚合物熔点，低于测试板的熔点；(3)将导电片盖在中空腔的另一开口端，按压排除导电片与聚合物熔体之间的空气后再将电极片Ⅰ置于导电片上；(4)保温一段时间后进行电阻测试；(5)冷却聚合物熔体后观察气泡或溢流量，超过设定值，则调整聚合物切片在中空腔内的排列密度以及导电片上透气孔的数量和大小后重新进行实验；反之，则进行平行实验。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，所述聚合物为PET，所述聚合物切片的质量为0.6g，精确至0.0001g。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，所述测试板为矩形板，测试板的厚度为20mm，长度为150mm，宽度为50mm；所述测试板的材质为聚四氟乙烯；所述中空腔为底面为正方形的腔体，腔体的深度为2mm，正方形的边长为15mm，可根据所测试聚合物的实际需求选用不同尺寸的中空腔及测试板，测试板及中空腔尺寸的设置与所测试聚合物中导电材质的含量相关，相应电极片Ⅰ、电极片Ⅱ及导电片的尺寸及厚度也要重新设置以满足要求。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，电极片Ⅰ、电极片Ⅱ和导电片都为铝箔。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，电极片Ⅱ为边长≤50mm的正方形，厚度为2mm；导电片为边长≤40mm的正方形，厚度为2mm；电极片Ⅰ为边长≤50mm的正方形，厚度为2mm，电极片Ⅰ、Ⅱ及导电片的形状尺寸等均可根据实际需求进行选择，只要能够确保完全覆盖中空腔开口即可，电极片Ⅰ、Ⅱ及导电片厚度可根据实际需求进行设置，可以不同，导电片厚度方便穿孔使用即可。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，所述电极片Ⅱ通过铝箔胶带固定在测试板上，铝箔胶带为铝箔面上自带粘胶面的边长≤50mm的正方形胶带。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，所述加热温度为285℃，所述保温的温度为285℃，保温时间为3min。如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，所述电阻测试采用万用表，具体测试方法为：将电阻测试仪旋钮调到测试档，并将万用表调到欧姆档，在停止保温1分钟内，温度需要稳定在285±1℃，观察万用表读数，待数值稳定后，记录下测定数值，如果测量过程出现“OL”,表示测量值超出范围或测量板面有短路情况，需要排除问题后再进行测量。有益效果：(1)本专利技术的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，操作简便，且对聚合物状态无特殊要求，测试要求低，效率高；(2)本专利技术的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，对测试中容易产生的气泡和填充不实等现象，可及时排查解决，测试精确度高，重复操作性好且测试过程中消耗的聚合物少，实现了对于聚合物电阻率的快速精准的测量，有极好的经济价值和推广价值。附图说明图1为本专利技术方法的测试示意图；其中，1-电极片Ⅰ，2-测试板，3-导电片，4-中空腔，5-电极片Ⅱ。具体实施方式下面结合具体实施方式，进一步阐述本专利技术。应理解，这些实施例仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。此外应理解，在阅读了本专利技术讲授的内容之后，本领域技术人员可以对本专利技术作各种改动或修改，这些等价形式同样落于本申请所附权利要求书所限定的范围。实施例1一种PET熔融电阻率的测试方法，其测试示意图如图1所示，具体测试步骤如下：(1)将电极片Ⅱ5通过铝箔胶带固定并盖在测试板2内部中空腔4的一开口端，其中测试板2为矩形板，厚度为20mm，长度为150mm，宽度为50mm，测试板2的材质为聚四氟乙烯，中空腔4为底面为正方形的腔体，腔体的深度为2mm，正方形的边长为15mm，电极片Ⅱ5为边长为50mm的正方形，厚度为2mm，铝箔胶带为边长为50mm的正方形胶带；(2)加热测试板2并将PET切片加入中空腔4内直至PET熔体填满中空腔4，其中加热温度为285℃，PET切片的质量为0.6g，精确至0.0001g；(3)将导电片3盖在中空腔4的另一开口端，按压排除导电片3与PET熔体之间的空气后再将电极片Ⅰ1置于导电片3上，其中导电片3上设有20个透气孔，电极片Ⅰ1、电极片Ⅱ5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征是：将两个开口端分别由电极片Ⅰ和电极片Ⅱ进行覆盖的中空腔内填满聚合物熔体后，测量两电极片之间的电阻率；电极片Ⅰ和电极片Ⅱ的材料相同，中空腔设置在绝缘材料内。

【技术特征摘要】
1.一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征是：将两个开口端分别由电极片Ⅰ和电极片Ⅱ进行覆盖的中空腔内填满聚合物熔体后，测量两电极片之间的电阻率；电极片Ⅰ和电极片Ⅱ的材料相同，中空腔设置在绝缘材料内。2.根据权利要求1所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，电极片Ⅰ覆盖的开口端上还覆盖有导电片，导电片位于电极片Ⅰ的下方且尺寸小于电极片Ⅰ，导电片上设有多个透气孔。3.根据权利要求2所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，测试步骤具体如下：(1)将电极片Ⅱ固定并盖在测试板内部中空腔的一开口端；(2)加热测试板并将聚合物切片加入中空腔内直至聚合物熔体填满中空腔，其中加热温度高于聚合物熔点，低于测试板的熔点；(3)将导电片盖在中空腔的另一开口端，按压排除导电片与聚合物熔体之间的空气后再将电极片Ⅰ置于导电片上；(4)保温一段时间后进行电阻测试；(5)冷却聚合物熔体后观察气泡或溢流量，超过设定值，则调整聚合物切片在中空腔内的排列密度以及导电片上透气孔的数量和大小后重新进行实验；反之，则进行平行实验。4.根据权利要求3所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，所述聚合物为PET，所述聚合物切片的质量为0.6g，精确至0.0001g。5.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭相华，王龙江，
申请(专利权)人：营口康辉石化有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁,21