测试夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及夹具领域，公开了一种测试夹具。本实用新型专利技术中，所述测试夹具包括箱体；支架，固定在所述箱体上；测试主板，设置于所述箱体内并凸出所述箱体，用于对待测模块进行测试；中间板，滑动设置于所述支架上并与所述箱体表面平行，用于在测试时保护所述待测模块；压合板，设置在所述中间板的上方，用于在测试时压合设置于所述中间板上方的所述待测模块、所述中间板以及所述测试主板以方便所述测试主板对所述待测模块进行测试，通过在测试夹具中设置中间板，所述中间板用于在测试时保护所述待测模块，可以有效防止测试时静电或者浪涌对待测模块造成的损坏。

【技术实现步骤摘要】
测试夹具
本技术涉及夹具领域，特别涉及一种测试夹具。
技术介绍
随着芯片制作工艺的发展，IC(integratedcircuit，集成电路)的集成度越来越高，又由于芯片的栅极氧化层厚度也越来越薄，这样会大大降低了芯片抗ESD(Electro-Staticdischarge,静电释放)能力。本专利技术的专利技术人发现：在设计模块或者移动终端主板等产品时，受限于结构尺寸等因素的影响，常常不能全方位的保护芯片的各功能引脚，这样会导致模块或者主板在产线测试阶段会出现一定概率的损坏，其中ESD造成的比率可能高达90％。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种测试夹具，可以有效防止测试时静电或者浪涌对待测模块造成的损坏。为解决上述技术问题，本技术的实施方式提供了一种测试夹具，包括：箱体；支架，固定在所述箱体上；测试主板，设置于所述箱体内并凸出所述箱体，用于对待测模块进行测试；中间板，滑动设置于所述支架上并与所述箱体表面平行，用于在测试时保护所述待测模块；压合板，设置在所述中间板的上方，用于在测试时压合设置于所述中间板上方的所述待测模块、所述中间板以及所述测试主板以方便所述测试主板对所述待测模块进行测试。本技术实施方式相对于现有技术而言，通过在测试夹具中设置中间板，所述中间板用于在测试时保护所述待测模块，可以有效防止测试时静电或者浪涌对待测模块造成的损坏。另外，所述中间板的靠近所述压合板的一侧设置有多个上顶针，所述中间板的靠近所述测试主板的一侧设置有分别与所述多个上顶针对应的多个下顶针，在测试时，所述多个上顶针与所述待测模块的引脚接触，用于接通所述待测模块，所述多个下顶针与所述测试主板接触，用于连接所述测试主板和所述中间板，从而接通所述中间板。另外，所述中间板包括保护电路，所述保护电路包括多个电阻和二极管，任一所述电阻的一端与其中一个所述上顶针连接，另一端与对应的所述下顶针以及所述二极管的负极连接，所述二极管的正极接地，任一所述下顶针和对应的所述上顶针之间都设置有一个电阻和一个二极管，测试时，所述二极管和所述电阻可以用于防止电流过大对所述待测模块造成的损坏。另外，所述测试夹具还包括定位块，设置于所述中间板上，用于对所述待测模块进行定位，从而使待测模块能够进行正常的测试。另外，所述定位块为四方形中空结构，设置在所述上顶针的外围。另外，所述测试夹具还包括压合把手和传动杆，所述压合把手设置于所述支架上，所述传动杆连接在所述支架和所述压合板之间，所述压合把手和所述传动杆在所述支架上有一个共同的支点。另外，测试时，所述压合把手下压，使所述传动杆与所述支架的夹角缩小，所述压合板下移，压合所述待测模块、所述中间板以及所述测试主板。另外，所述测试夹具还包括连接杆，所述压合板通过所述连接杆与所述支架连接，所述连接杆可滑动地设置在所述支架上。另外，所述测试夹具还包括接地排线，设置在所述支架上，且位于所述中间板与所述箱体之间，以使所述中间板与所述测试主板共地。另外，所述箱体上还设置有电源开关，所述电源开关用于接通或断开所述测试主板的电源。附图说明图1是本技术实施方式的测试夹具的结构示意图；图2是本技术实施方式的带待测模块的测试夹具的结构示意图；图3是本技术实施方式的中间板的电路结构示意图。具体实施方式为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本技术各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。本技术的实施方式涉及一种测试夹具100，如图1和图2所示，所述测试夹具包括：箱体1；支架2，固定在所述箱体1上；测试主板3，设置于所述箱体1内并凸出所述箱体1，用于对待测模块200进行测试；中间板4，滑动设置于所述支架2上并与所述箱体1表面平行，用于在测试时保护所述待测模块200；压合板5，设置在所述中间板4的上方，用于在测试时压合设置于所述中间板4上方的所述待测模块200、所述中间板4以及所述测试主板3以方便所述测试主板3对所述待测模块200进行测试。相对于现有技术而言，本技术实施方式通过在测试夹具100中设置中间板4，所述中间板4用于在测试时保护所述待测模块200，可以有效防止测试时静电或者浪涌对待测模块200造成的损坏。本实施方式中，所述中间板4的靠近所述压合板5的一侧设置有多个上顶针41，所述中间板4的靠近所述测试主板3的一侧设置有分别于所述多个上顶针对应的多个下顶针42，在测试时，所述多个上顶针41与所述待测模块200的引脚接触，用于接通所述待测模块200，所述多个下顶针42与所述测试主板3接触，用于连接所述测试主板3和所述中间板4，从而接通所述中间板4。本实施方式中，所述中间板4包括保护电路40，如图3所示，所述保护电路40包括多个电阻401和二极管402，任一所述电阻401的一端与其中一个所述上顶针41连接，另一端与对应的所述下顶针42以及所述二极管402的负极连接，所述二极管402的正极接地，任一所述下顶针42和对应的所述上顶针41之间都设置有一个电阻401和一个二极管402，测试时，所述电阻401和所述二极管402可以用于防止电流过大对所述待测模块200造成的损坏。本实施方式中，所述测试夹具100还包括定位块43，设置于所述中间板4上，用于对所述待测模块200进行定位，从而使待测模块200固定在所述中间板4上。所述定位块43为四方形中空结构，设置在所述上顶针41的外围，所述定位块43的形状可以与所述待测模块200的形状适配。本实施方式中，所述测试夹具100还包括压合把手61和传动杆62，所述压合把手61设置于所述支架2上，所述传动杆62连接在所述支架2和所述压合板5之间，所述压合把手61和所述传动杆62在所述支架2上有一个共同的支点，所述支点可以使所述压合把手61下压时带动所述传动杆62移动。测试时，所述压合把手61下压，所述传动杆62移动，使所述传动杆62与所述支架2的夹角缩小，所述压合板5下移，压合所述待测模块200、所述中间板4以及所述测试主板3。本实施方式中，所述压合板5通过所述连接杆51与所述支架2连接，所述连接杆51可滑动地设置在所述支架2上，测试时，所述压合把手61下压，所述压合板5下移，带动所述连接杆51在所述支架2上滑动。本实施方式中，所述测试夹具100还包括接地排线7，设置在所述支架2上，且位于所述中间板4与所述箱体1之间，以使所述中间板1与所述测试主板3共地，从而对所述中间板1和所述测试主板3进行保护。本实施方式中，所述箱体1上还设置有电源开关11，所述电源开关11用于接通或断开所述测试主板3的电源。需要说明的是，所述电源开关11一般在所述压合板5压合所述待测模块200、所述中间板4以及所述测试主板3完成之后才接通，然后测试主板3对待测模块200进行测试。本实施方式中，所述测试主板3上设置有电源、控制电路、通讯模块、相机以及液晶显示器，所述电源用于对测试主板3进行供电，所述控制电路用于控制对待测模块200进行测试，通讯模块包括SIM卡接口、SD卡接口、U本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试夹具，其特征在于，包括：箱体；支架，固定在所述箱体上；测试主板，设置于所述箱体内并凸出所述箱体，用于对待测模块进行测试；中间板，滑动设置于所述支架上并与所述箱体表面平行，用于在测试时保护所述待测模块；压合板，设置在所述中间板的上方，用于在测试时压合设置于所述中间板上方的所述待测模块、所述中间板以及所述测试主板以方便所述测试主板对所述待测模块进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种测试夹具，其特征在于，包括：箱体；支架，固定在所述箱体上；测试主板，设置于所述箱体内并凸出所述箱体，用于对待测模块进行测试；中间板，滑动设置于所述支架上并与所述箱体表面平行，用于在测试时保护所述待测模块；压合板，设置在所述中间板的上方，用于在测试时压合设置于所述中间板上方的所述待测模块、所述中间板以及所述测试主板以方便所述测试主板对所述待测模块进行测试。2.根据权利要求1所述的测试夹具，其特征在于，所述中间板的靠近所述压合板的一侧设置有多个上顶针，所述中间板的靠近所述测试主板的一侧设置有分别与所述多个上顶针对应的多个下顶针，在测试时，所述多个上顶针与所述待测模块的引脚接触，所述多个下顶针与所述测试主板接触。3.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，所述中间板包括保护电路，所述保护电路包括多个电阻和二极管，任一所述电阻的一端与其中一个所述上顶针连接，另一端与对应的所述下顶针以及所述二极管的负极连接，所述二极管的正极接地。4.根据权利要求2所述的测试夹具，其特征在于，所述测试夹具还包括定位块，设置于所述中间板上...

【专利技术属性】
技术研发人员：马洪刚，
申请(专利权)人：希姆通信息技术上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31