液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统制造方法及图纸

本公开涉及一种液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统，所述装置包括基座、玻璃基板固定板和玻璃基板高度限位块，所述基座上设置有用于将基座固定在粗糙度测量仪的载物台上的固定机构，所述玻璃基板固定板为间隔设置的两块且沿高度方向垂直于所述基座，两块所述玻璃基板固定板中沿高度方向贯穿有用于固定同一块玻璃基板的卡槽，所述玻璃基板固定板的侧面设置有紧固插入所述卡槽中的玻璃基板的紧固件，所述玻璃基板高度限位块为两块且通过开口分别设置在一块玻璃基板固定板的上方。本公开的研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统能够简单快速地使玻璃基板满足研磨幅粗糙度测量要求，使测量系统更加可靠科学。

The auxiliary measuring device and measuring system for the lapping amplitude roughness of liquid crystal glass substrate

The invention relates to a liquid crystal glass substrate grinding roughness amplitude auxiliary measuring device and measuring system, the device comprises a base plate, a glass substrate and glass substrate height limit block, wherein the base is provided with a fixing mechanism for the base fixed on a stage of the roughness measuring instrument of the glass the substrate fixed plate is arranged at intervals of two blocks along the height direction and perpendicular to the base, two pieces of the glass substrate fixing plate along the height direction through a clamping groove for fixing with a glass substrate, wherein the side of the glass substrate fixing plate is provided with a fastener is inserted into the card glass substrate in the slot, the glass substrate height limit block two and block through the upper opening are respectively arranged on a glass substrate fixing plate. The auxiliary measuring device and measuring system of grinding amplitude and roughness can make the glass substrate meet the requirements of roughness measurement of grinding width simply and quickly, and make the measurement system more reliable and scientific.

【技术实现步骤摘要】
液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统
本公开涉及液晶玻璃基板
，具体地，涉及一种液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统。
技术介绍
研磨幅粗糙度是评价研磨及研磨幅抛光质量的一项重要指标，传统研磨幅粗糙度测量采用橡皮泥或燕尾夹对玻璃样品进行固定，玻璃样品与粗糙度测量仪载物台的垂直情况、以及玻璃样品放置的位置很难把控，全靠个人经验。
技术实现思路
本公开的目的是提供一种简单高效的液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置和测量系统。为了实现上述目的，本公开提供一种液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置，其特征在于，所述装置包括基座、玻璃基板固定板和玻璃基板高度限位块，所述基座上设置有用于将基座固定在粗糙度测量仪的载物台上的固定机构，所述玻璃基板固定板为间隔设置的两块且沿高度方向垂直于所述基座，两块所述玻璃基板固定板中沿高度方向贯穿有用于固定同一块玻璃基板的卡槽，所述玻璃基板固定板的侧面设置有紧固插入所述卡槽中的玻璃基板的紧固件，所述玻璃基板高度限位块为两块且通过开口分别设置在一块玻璃基板固定板的上方。可选的，所述玻璃基板高度限位块为U形结构，所述玻璃基板固定板的顶部插入所述U形结本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置，其特征在于，所述装置包括基座(1)、玻璃基板固定板(4)和玻璃基板高度限位块(5)，所述基座(1)上设置有用于将基座(1)固定在粗糙度测量仪的载物台上的固定机构(2)，所述玻璃基板固定板(4)为间隔设置的两块且沿高度方向垂直于所述基座(1)，两块所述玻璃基板固定板(4)中沿高度方向贯穿有用于固定同一块玻璃基板(3)的卡槽(41)，所述玻璃基板固定板(4)的侧面设置有紧固插入所述卡槽(41)中的玻璃基板的紧固件(6)，所述玻璃基板高度限位块(5)为两块且通过开口分别设置在一块玻璃基板固定板(4)的上方。

【技术特征摘要】
1.一种液晶玻璃基板研磨幅粗糙度辅助测量装置，其特征在于，所述装置包括基座(1)、玻璃基板固定板(4)和玻璃基板高度限位块(5)，所述基座(1)上设置有用于将基座(1)固定在粗糙度测量仪的载物台上的固定机构(2)，所述玻璃基板固定板(4)为间隔设置的两块且沿高度方向垂直于所述基座(1)，两块所述玻璃基板固定板(4)中沿高度方向贯穿有用于固定同一块玻璃基板(3)的卡槽(41)，所述玻璃基板固定板(4)的侧面设置有紧固插入所述卡槽(41)中的玻璃基板的紧固件(6)，所述玻璃基板高度限位块(5)为两块且通过开口分别设置在一块玻璃基板固定板(4)的上方。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述玻璃基板高度限位块(5)为U形结构，所述玻璃基板固定板(4)的顶部插入所述U形结构的开口中并与所述U形结构相抵顶。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述固定机构(2)包括由上至下贯穿所述基座(1)...

【专利技术属性】
技术研发人员：张北斗，李兆廷，石志强，李震，李俊生，
申请(专利权)人：芜湖东旭光电科技有限公司，东旭光电科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽,34