标定方法及装置制造方法及图纸

技术编号:17595145 阅读:48 留言:0更新日期:2018-03-31 08:55
本发明专利技术提供了一种标定方法及装置,涉及激光测距领域。所述标定方法包括:在预设标定范围内选取多个采样点,获取每个采样点到观察点的真实距离;通过多项式拟合获取每个采样点对应的拟合距离多项式,并基于所述拟合距离多项式获取每个采样点对应的拟合距离;获取每个采样点对应的拟合距离与真实距离的方差,并从中筛选出最小方差对应的拟合距离多项式作为最佳拟合距离多项式。本发明专利技术提供的方法及装置通过多项式拟合来创造出多条与真实值逼近的拟合多项式,再通过比较方差从中筛选出最精确的函数,可以对不同性能参数的测距雷达提供具有针对性的标定,其操作方便且结果可靠,能够有效提高激光三角测距的测量精度。

Calibration method and device

【技术实现步骤摘要】
标定方法及装置
本专利技术涉及激光测距领域,具体而言,涉及一种标定方法及装置。
技术介绍
激光测距(LaserDistanceMeasuring)是以激光器作为光源进行测距。激光测距仪是利用激光对目标的距离进行准确测定的仪器。根据激光工作的方式分为连续激光器和脉冲激光器。氦氖、氩离子、氪镉等气体激光器工作于连续输出状态,用于相位式激光测距;双异质砷化镓半导体激光器,用于红外测距;红宝石、钕玻璃等固体激光器,用于脉冲式激光测距。激光测距仪由于激光的单色性好、方向性强等特点,加上电子线路半导体化集成化,与光电测距仪相比,不仅可以日夜作业,而且能提高测距精度,显著减少重量和功耗,被广泛运用于各种测量领域。作为一种常用的激光测距方法,利用激光三角测距的激光测距仪在工作时向目标射出一束很细的激光,由光电元件接收目标反射的激光束,反射回来的光束在光电探测器上形成一个激光光斑,通过获取该激光光斑的偏移量即可计算出从观测者到目标的距离。然而,在激光三角测距方法中,虽然距离远近的变化与激光光斑在CMOS上移动位移的变化是近似正比关系,但是该位移易受到外界环境与光学系统、材料、元器件性能等的影响,误差相本文档来自技高网...
标定方法及装置

【技术保护点】
一种标定方法,其特征在于,所述方法包括:在预设标定范围内选取多个采样点,获取每个采样点到观察点的真实距离;通过多项式拟合获取每个采样点对应的拟合距离多项式,并基于所述拟合距离多项式获取每个采样点对应的拟合距离;获取每个采样点对应的拟合距离与真实距离的方差,并从中筛选出最小方差对应的拟合距离多项式作为最佳拟合距离多项式。

【技术特征摘要】
1.一种标定方法,其特征在于,所述方法包括:在预设标定范围内选取多个采样点,获取每个采样点到观察点的真实距离;通过多项式拟合获取每个采样点对应的拟合距离多项式,并基于所述拟合距离多项式获取每个采样点对应的拟合距离;获取每个采样点对应的拟合距离与真实距离的方差,并从中筛选出最小方差对应的拟合距离多项式作为最佳拟合距离多项式。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过多项式拟合获取每个采样点对应的拟合距离多项式,并基于所述拟合距离多项式获取每个采样点对应的拟合距离,包括:获取每个采样点对应的像素位移;基于所述像素位移与所述真实距离,通过多项式拟合获取每个采样点对应的拟合距离多项式,并基于所述拟合距离多项式获取每个采样点对应的拟合距离。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述像素位移与所述真实距离,通过多项式拟合获取每个采样点对应的拟合距离多项式,并基于所述拟合距离多项式获取每个采样点对应的拟合距离,包括:基于所述像素位移与所述真实距离,从m个采样点中选取n个采样点进行多项式拟合,获取所述n个采样点对应的拟合距离多项式;将所述m个采样点中剩余的(m-n)个采样点对应的像素位移分别代入所述n个采样点对应的拟合距离多项式,获取所述(m-n)个采样点对应的拟合距离。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,获取每个采样点对应的拟合距离与真实距离的方差,并从中筛选出最小方差对应的拟合距离多项式作为最佳拟合距离多项式,包括:获取所述m个采样点中的所述(m-n)个采样点对应的拟合距离与真实距离的(m-n)点方差;从所有的所述(m-n)点方差中筛选出最小方差对应的拟合距离多项式作为最佳拟合距离多项式。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:获取当前测量点的像素位移,并通过相似三角形计算获取所述当前测量点到所述观察点的初步距离;将所述当前测量点的像素位移代入所述最佳拟...

【专利技术属性】
技术研发人员:李崇国杨勇宫海涛万军雷
申请(专利权)人:深圳市杉川机器人有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

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