光电探测器、电磁波测量装置以及电磁波测量方法制造方法及图纸

一种用于检测电磁波的光电探测器(101)，其具备电光晶体(52)以及与电光晶体(52)光学耦合的光纤(16)，被设为电光晶体(52)的固有轴的方向和入射到电光晶体(52)的来自光纤(16)的光的偏振方向对齐、或者电光晶体(52)的固有轴的方向和光纤(16)的固有偏振方向对齐。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光电探测器、电磁波测量装置以及电磁波测量方法
本专利技术涉及光电探测器、电磁波测量装置以及电磁波测量方法，尤其是，利用电光晶体的光电探测器、电磁波测量装置以及电磁波测量方法。本申请主张基于2015年6月29日申请的日本申请特愿2015-130280的优先权，引入其公开的所有内容。
技术介绍
开发出各种利用电光晶体等检测电磁波的装置。作为这样的检测电磁波的技术的一例，例如，专利文献1(特开2005-214892号公报)公开了如下技术。即、电场传感器具有：具备电光晶体的传感器头部；基于该传感器头部的输出检测被测量电场的信号处理部；将来自该信号处理部的光传输至所述传感器头部从而入射至所述电光晶体的第一面的保偏光纤；以及将在所述电光晶体内传播后从所述电光晶体的与第一面相对的第二面发射的光传输至所述信号处理部的光纤，所述信号处理部具备：发射直线偏振光，并且通过所述保偏光纤将该直线偏振光传输至所述传感器头部的光源；将通过所述光纤传输的光转换为具有事先设定角度的偏振面的直线偏振光的直线偏振光生成器；将该直线偏振光生成器的输出光分为S偏振光和P偏振光的偏振光分离元件；对所述S偏振光进行光电转换的第一光检测器；对所述P偏振光进行光电转换的第二光检测器；将所述第一光检测器的输出电信号和所述第二光检测器的输出电信号差分放大的差分放大器；以及基于该差分放大器的输出电信号检测被测量电场的电信号测量器，其中，入射所述电光晶体的第一面的直线偏振光的偏振面的角度设为相对于所述电光晶体的两个电主轴中的任一轴呈大致45度，所述直线偏振光生成器的响应速度低于所述被测量电场的频率的下限值。并且，专利文献2(特开2001-343410号公报)公开了如下技术。即、电场探测器具有：仅对与激光的前进方向平行或正交的电场具有灵敏度的电光晶体；对该电光晶体照射激光的激光照射单元；接收从该激光照射单元照射至所述电光晶体后被反射的激光，并且将激光的偏振变化转换为激光的强度变化的偏振光检测光学单元；将通过该偏振光检测光学单元转换的激光的强度变化转换为电信号的强度变化的检测信号的光检测单元；以及输出通过该光检测单元检测的检测信号的强度以及相位的输出单元。并且，专利文献3(特开2014-52272号公报)公开了如下技术。即、电磁波检测系统具备：第一光源；以与所述第一光源不同的频率发光的第二光源；将来自所述第一光源的光分支为两个的第一光分支器；将来自所述第二光源的光分支为两个的第二光分支器；将通过所述第一光分支器分支的两个光中的一个光以及通过所述第二光分支器分支的两个光中的一个光合波的第一光合波器；将通过所述第一光分支器分支的两个光中的另一个光以及通过所述第二光分支器分支的两个光中的另一个光合波的第二光合波器；以固定的频率输出振荡信号的振荡器；插入在所述第一光分支器与所述第一光合波器之间、所述第二光分支器与所述第一光合波器之间、所述第一光分支器与所述第二光合波器之间以及所述第二光分支器与所述第二光合波器之间的任一中，并且通过来自所述振荡器的振荡信号将光的频率仅移位所述振荡信号的频率的移频器；接收来自所述第一光合波器的不同频率的两个光，生成以两个光的差频率作为频率的第一RF(RadioFrequency：无线射频)信号，并且向被测量物照射所生成的第一RF信号的RF信号发生器；将来自所述第二光合波器的不同频率的两个光作为LO(LocalOscilating：bending振荡)信号，混合透过所述被测量物或者被所述被测量物反射的第一RF信号以及所述LO信号，进行外差检测，输出频率为构成所述LO信号的两个光的差频率与所述第一RF信号频率的差频率的检测信号的RF信号检测器；以及利用所述振荡器输出的振荡信号对所述RF信号检测器输出的检测信号进行2相位锁定检测，输出与所述RF信号检测器输出的检测信号同相位的同相位成分以及与所述RF信号检测器输出的检测信号的相位正交的正交成分的2相锁定检测器。先行技术文献专利文献专利文献1：日本特开2005-214892号公报专利文献2：日本特开2001-343410号公报专利文献3：日本特开2014-52272号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题希望研究出超过这样的专利文献1～3中记载的技术，可以良好第测量电磁波的技术。本专利技术是为了解决上述课题而提出，其目的在于提供利用电光晶体可以良好地测量电磁波的光电探测器、电磁波测量装置以及电磁波测量方法。用于解决课题的手段(1)为了解决上述问题，根据本专利技术一方面的光电探测器是用于检测电磁波的光电探测器，其具备：电光晶体；以及与所述电光晶体光学耦合的光纤，其中，被设为所述电光晶体的固有轴的方向和入射到所述电光晶体的来自所述光纤的光的偏振方向对齐。(6)为了解决上述问题，根据本专利技术一方面的光电探测器是用于检测电磁波的光电探测器，其具备：电光晶体；以及与所述电光晶体光学耦合的光纤，其中，被设为所述电光晶体的固有轴的方向和所述光纤的固有偏振方向对齐。(7)为了解决上述问题，根据本专利技术一方面的电磁波测量装置具备：光源；接收来自所述光源的光以及电磁波的光电探测器；接收从所述光电探测器输出的光的滤光器；将通过了所述滤光器的光转换为电信号的受光元件；以及检测器，其基于利用所述受光元件转换的所述电信号，测量所述电磁波，其中，所述光电探测器具备电光晶体以及与所述电光晶体光学耦合的光纤，被设为所述电光晶体的固有轴的方向和入射到所述电光晶体的来自所述光纤的光的偏振方向对齐。(8)为了解决上述问题，根据本专利技术一方面的电磁波测量装置具备：光源；接收来自所述光源的光以及电磁波的光电探测器；接收从所述光电探测器输出的光的滤光器；以及将通过了所述滤光器的光转换为电信号的受光元件，其中，所述光电探测器具备电光晶体以及与所述电光晶体光学耦合的光纤，被设为所述电光晶体的固有轴的方向和所述光纤的固有偏振方向对齐。(9)为了解决上述问题，根据本专利技术一方面的电磁波测量方法是利用光电探测器的电磁波测量方法，所述光电探测器具备电光晶体以及与所述电光晶体光学耦合的光纤，被设为所述电光晶体的固有轴的方向和入射到所述电光晶体的来自所述光纤的光的偏振方向对齐，其中，所述利用光电探测器的电磁波测量方法包括：将来自光源的光提供给所述光电探测器，并且将电磁波提供给所述光电探测器的步骤；以及基于从所述光电探测器输出的光，测量所述电磁波的步骤。(10)为了解决上述问题，根据本专利技术一方面的电磁波测量方法是利用光电探测器的电磁波测量方法，所述光电探测器具备电光晶体以及与所述电光晶体光学耦合的光纤，被设为所述电光晶体的固有轴的方向和所述光纤的固有偏振方向对齐，其中，所述利用光电探测器的电磁波测量方法包括：将来自光源的光提供给所述光电探测器，并且将电磁波提供给所述光电探测器的步骤；以及基于从所述光电探测器输出的光，测量所述电磁波的步骤。专利技术效果根据本专利技术，能够利用电光晶体良好地测量电磁波。附图说明图1是根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的构成示意图。图2是根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置变形例的构成示意图。图3是根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置变形例的构成示意图。图4是根据本专利技术第一实施方式的电磁波测量装置的测量原理示意图。图5是根据本专利技术第一实施方式的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光电探测器，其用于检测电磁波，且具备：电光晶体；以及光纤，其与所述电光晶体光学耦合，其中，该光电探测器被设为所述电光晶体的固有轴的方向和入射到所述电光晶体的来自所述光纤的光的偏振方向对齐。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.06.29 JP 2015-1302801.一种光电探测器，其用于检测电磁波，且具备：电光晶体；以及光纤，其与所述电光晶体光学耦合，其中，该光电探测器被设为所述电光晶体的固有轴的方向和入射到所述电光晶体的来自所述光纤的光的偏振方向对齐。2.根据权利要求1所述的光电探测器，其中，所述电光晶体具有自然双折射性。3.根据权利要求1或2所述的光电探测器，其中，所述电光晶体是有机非线性光学晶体。4.根据权利要求3所述的光电探测器，其中，所述电光晶体是DAST(4-N,N-二甲基氨基-4’-N’-苯乙烯基吡啶甲苯磺酸盐)、DASC(4-N,N-二甲基氨基-4’-N’-甲基-苯乙烯基吡啶对氯苯磺酸盐)、DSTMS(4-N,N-二甲氨基-4’-N’-甲基-苯乙烯基吡啶2,4,6-三甲基苯磺酸盐)或者OH1(2-(3-(4-羟基苯乙烯基)-5,5-二甲基环己-2-烯亚基)丙二腈)。5.根据权利要求1至4中的任意一项所述的光电探测器，其中，所述光纤是保偏光纤，该光电探测器被设为所述电光晶体的固有轴的方向和所述光纤的固有偏振方向对齐。6.一种光电探测器，其用于检测电磁波，且具备：电光晶体；以及光纤，其与所述电光晶体光学耦合，其中，该光电探测器被设为所述电光晶体的固有轴的方向和所述光纤的固有偏振方向对齐。7.一种电磁波测量装置，其具备：光源；光电探测器，其接收来自所述光源的光以及电磁波；滤光器，其接收从...

【专利技术属性】
技术研发人员：久武信太郎，永妻忠夫，内田裕久，
申请(专利权)人：国立大学法人大阪大学，
类型：发明
国别省市：日本,JP