一种用于滤膜过滤后菌数检查的方法技术

本发明专利技术公开了一种用于滤膜过滤后菌数检查的方法，它包括将待检样品介质在滤器的滤膜上进行过滤，使样品内含的微生物截留在滤膜上，再将固体或半固体培养基直接浇注于滤膜含菌面的背面，然后进行培养、菌落计数。用于直接浇注滤膜含菌面背面的固体或半固体培养基温度不超过４５℃，并在浇注时呈流体状态。这种菌数检查的方法，使之在过滤完成后滤膜无需转移，减少了滤膜转移过程带来的污染问题，明显提高结果的准确性；避免了滤膜与培养基之间气泡的产生和间隙存在，且不受滤膜的平整度、操作技术等因素影响；解决了贴膜不实、滤膜滑动的问题，大大降低人力物力和时间成本。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于滤膜过滤后菌数检查的方法，它包括将待检样品介质在滤器的滤膜上进行过滤，使样品内含的微生物截留在滤膜上，其特征是将固体或半固体培养基直接浇注于滤膜含菌面的背面，然后进行培养、菌落计数。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：叶大林，
申请(专利权)人：叶大林，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]