分支集成的质量检查方法、装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种分支集成的质量检查方法、装置、电子设备、存储介质，质量检查方法包括：获取N个分支合入集成分支的合入请求；按分支f0至分支fN‑1的顺序，将每个分支合入集成分支，包括：分支fi合入集成分支后，以发布模式运行合入后的集成分支，以对合入后的集成分支进行质量检查，该质量检查时间为K分钟；分支fi合入集成分支后，分别以预览模式并行地运行分支fi+1至分支fN‑1，以对分支fi+1至分支fN‑1进行质量检查，并分别将分支fi+1至分支fN‑1的质量检查结果与集成分支的质量检查结果进行比较；其中，当分支f0至分支fN‑1都合入集成分支后，不计f0的质量检查时间，则总质量检查时间为2K(N‑1)分钟。本发明专利技术提供的方法及装置提高分支合入效率。

A branch integrated quality inspection method, device, electronic device, storage medium

The present invention provides a method of branch and quality inspection of integrated storage device, electronic equipment, media, including quality inspection methods: to obtain N branch into the integrated branch into the branch of the F0 request; according to the order of 1 fN to the branch, each branch of the branch will be integrated, including: fi integrated into the branch branch, branch to integrated into the release mode, in order to check the quality of the integrated branch into the post, the quality inspection for K minutes; the branch of fi integrated branch, respectively in the preview mode to run in parallel to the branch branch of fi+1 fN 1 to fi+1 to fN Branch Branch 1 quality inspection, quality inspection results and compare the results of 1 Quality Inspection Branch of fi+1 fN and integrated to the branch branch respectively; among them, when the branch branch of fN F0 to 1 into the integrated branch, excluding f Check the quality of 0 of the time, the total quality inspection time is 2K (N 1 minutes). The method and device provided by the invention improve the branch - in efficiency.

【技术实现步骤摘要】
分支集成的质量检查方法、装置、电子设备、存储介质
本专利技术涉及计算机应用
，尤其涉及一种分支集成的质量检查方法、装置、电子设备、存储介质。
技术介绍
在进行项目研发时，通常将项目拆分为多个功能(例如每个功能对应一个分支)，并对该多个分支并行开发来提高项目研发的效率，为了保证分支集成的代码质量，当某个功能分支合入集成分支之前，一般分支的持续集成系统会自动预处理两个分支合入的结果，并会自动检查分支集成后的代码的质量。如果通过质量检查，则允许把此功能分支合入集成分支；如果不能通过质量检查，则不允许该功能分支合入集成分支。一般而言，在一个开发周期中，同时会进行多个功能分支的开发，并在某个发布时间节点上，这几个功能可能都需要上线发布，那么就需要同时把多个功能分支都合入(merge)到集成分支中，这样就会同时有多个合入到集成分支的请求，持续集成系统会对每个请求做自动合入和自动的质量检查。在分支合入的过程中，若集成分支代码发生变更，则所有要合入到该集成分支的各个分支必须重新进行质量检查。那么，按现有的方式进行分支合入，假设有6个功能分支(f0，f1，f2，f3，f4，f5)要合入到集成分支(release)，当f0符合质量要求顺利合入release分支后，其他f1到f5合入release分支的5个请求都需要重新做质量检查。例如，当f0符合质量要求顺利合入release分支后，当前的处理流程为：对release(f0合入后)进行质量检查，对分支f1进行质量检查，比较检查结果；对release(f0合入后)进行质量检查，对分支f2进行质量检查，比较检查结果；对release(f0合入后)进行质量检查，对分支f3进行质量检查，比较检查结果；对release(f0合入后)进行质量检查，对分支f4进行质量检查，比较检查结果；对release(f0合入后)进行质量检查，对分支f5进行质量检查，比较检查结果。可以此类推到f1到f5合入release分支后的质量检查。从上面的流程可以推测：如果并行开发的功能分支很多，并且单独一次的检查耗时很长的话，上面的集成时间将变得非常长。此外，上述f0符合质量要求顺利合入release分支后的各项质量检查不能够并行进行，由于对release(f0合入后)进行质量检查，并对分支fi进行质量检查，以获得检查结果时，会写入检查服务器，而服务器无法区分多个检查结果，进而导致并行错误。由此可见，假设6个并行分支待合入到相同的集成分支，每次检查要耗时5分钟，走完所有的检查流程，把这6个分支的功能均合入到集成分支的话(不计f0分支合入前的时间)，至少须耗时150分钟(即当N个分支合入集成分支时，不计f0分支合入前的时间，每次质量检查K分钟，质量检测的时间共为2K((N-1)+(N-2)+……+1)＝KN(N-1)分钟)。f0合入release后:(5+5)*5＝50f1合入release后:(5+5)*4＝40f2合入release后:(5+5)*3＝30f3合入release后:(5+5)*2＝20f4合入release后:(5+5)*1＝10f5合入release后:(5+5)*0＝0综上所述，为了保证集成后的代码质量，现有的分支合入时代码质量检查时间较长。如何加快分支集成和质量检查速度是亟待解决的问题。
技术实现思路
本专利技术为了克服上述现有技术存在的缺陷，提供一种分支集成的质量检查方法、装置、电子设备、存储介质，以提高分支集成效率。根据本专利技术的一个方面，提供一种分支集成的质量检查方法，包括：S110：获取N个分支合入集成分支的合入请求，N为大于等于2的整数；S120：按分支f0至分支fN-1的顺序，将每个分支合入集成分支，其中：S121：分支fi合入集成分支后，以发布模式运行合入后的集成分支，以对合入后的集成分支进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，i为大于等于0小于等于N-2的整数，K为大于0的自然数；S122：分支fi合入集成分支后，分别以预览模式并行地运行分支fi+1至分支fN-1，以对分支fi+1至分支fN-1进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，并分别将分支fi+1至分支fN-1的质量检查结果与步骤S121中的集成分支的质量检查结果进行比较来确定是否继续进行分支的合入操作；其中，当i取0至N-2时，重复N-1次步骤S121和步骤S122，当分支f0至分支fN-1都合入集成分支后，不计f0的质量检查时间，则总质量检查时间为2K(N-1)分钟。可选地，所述分别以预览模式并行地运行分支fi+1至分支fN-1，以对分支fi+1至分支fN-1进行质量检查的步骤包括：确定分支fi至分支fN-1的质量问题数量是否符合预定阈值，若符合则继续执行分支fi至分支fN-1的合入操作。可选地，所述分支fi合入集成分支后，以发布模式运行合入后的集成分支，以对合入后的集成分支进行质量检查的步骤包括：判断合入后的集成分支的质量问题数量是否不多于合入前的集成分支的质量问题的数量；若否，则提示质量检查警告，并暂停后续分支的合入操作。可选地，分别将分支fi+1至分支fN-1的质量检查结果与步骤S121中的集成分支的质量检查结果进行比较的步骤包括：将fi合入后的集成分支的质量问题数量分别与分支fi至分支fN-1的质量问题数量进行比较，以确定新增的质量问题数量差异。可选地，以发布模式运行合入后的集成分支以将质量检查结果更新到服务器中，以对合入前后的集成分支的质量问题的数量进行比较。可选地，所述预览模式下的质量检查在本地进行。可选地，对合入后的集成分支进行质量检查之前包括：判断该合入后的集成分支是否已进行质量检查，若已进行则不再对该合入后的集成分支进行质量检查。可选地，所述质量检查至少包括sonar静态检查。根据本专利技术的又一方面，还提供一种分支集成的质量检查装置，包括：请求获取模块，用于获取N个分支合入集成分支的合入请求，N为大于等于2的整数；合入模块，用于按分支f0至分支fN-1的顺序，将每个分支合入集成分支，所述合入模块包括：第一质量检查模块，用于当分支fi合入集成分支后，以发布模式运行合入后的集成分支，以对合入后的集成分支进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，i为大于等于0小于等于N-2的整数，K为大于0的自然数；第二质量检查模块，用于当分支fi合入集成分支后，分别以预览模式并行地运行分支fi+1至分支fN-1，以对分支fi+1至分支fN-1进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，并分别将分支fi+1至分支fN-1的质量检查结果与第一质量检查模块中的集成分支的质量检查结果进行比较来确定是否继续进行分支的合入操作，其中，当分支f0至分支fN-1都合入集成分支后，不计f0的质量检查时间，则总质量检查时间为2K(N-1)分钟。根据本专利技术的又一方面，还提供一种电子设备，所述电子设备包括：处理器；存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器运行时执行如上所述的步骤。根据本专利技术的又一方面，还提供一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如上所述的步骤。相比现有技术，本专利技术的优势在于：1)由于对各个分支采用预览(preview)模式进行质量检查，该检查不影响代码的发布，因此，可以本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分支集成的质量检查方法，其特征在于，包括：S110：获取N个分支合入集成分支的合入请求，N为大于等于2的整数；S120：按分支f0至分支fN‑1的顺序，将每个分支合入集成分支，包括：S121：分支fi合入集成分支后，以发布模式运行合入后的集成分支，以对合入后的集成分支进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，i为大于等于0小于等于N‑2的整数，K为大于0的自然数；S122：分支fi合入集成分支后，分别以预览模式并行地运行分支fi+1至分支fN‑1，以对分支fi+1至分支fN‑1进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，并分别将分支fi+1至分支fN‑1的质量检查结果与步骤S121中的集成分支的质量检查结果进行比较来确定是否继续进行分支的合入操作；其中，当i自0至N‑2取值时，重复步骤S121和步骤S122，重复次数为N‑1次，当分支f0至分支fN‑1都合入集成分支后，不计f0的质量检查时间，则总质量检查时间为2K(N‑1)分钟。

【技术特征摘要】
1.一种分支集成的质量检查方法，其特征在于，包括：S110：获取N个分支合入集成分支的合入请求，N为大于等于2的整数；S120：按分支f0至分支fN-1的顺序，将每个分支合入集成分支，包括：S121：分支fi合入集成分支后，以发布模式运行合入后的集成分支，以对合入后的集成分支进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，i为大于等于0小于等于N-2的整数，K为大于0的自然数；S122：分支fi合入集成分支后，分别以预览模式并行地运行分支fi+1至分支fN-1，以对分支fi+1至分支fN-1进行质量检查，该质量检查时间为K分钟，并分别将分支fi+1至分支fN-1的质量检查结果与步骤S121中的集成分支的质量检查结果进行比较来确定是否继续进行分支的合入操作；其中，当i自0至N-2取值时，重复步骤S121和步骤S122，重复次数为N-1次，当分支f0至分支fN-1都合入集成分支后，不计f0的质量检查时间，则总质量检查时间为2K(N-1)分钟。2.如权利要求1所述的质量检查方法，其特征在于，所述分别以预览模式并行地运行分支fi+1至分支fN-1，以对分支fi+1至分支fN-1进行质量检查的步骤包括：确定分支fi至分支fN-1的质量问题数量是否符合预定阈值，若符合则继续执行分支fi至分支fN-1的合入操作。3.如权利要求1所述的质量检查方法，其特征在于，所述分支fi合入集成分支后，以发布模式运行合入后的集成分支，以对合入后的集成分支进行质量检查的步骤包括：判断合入后的集成分支的质量问题数量是否不多于合入前的集成分支的质量问题的数量；若否，则提示质量检查警告，并暂停后续分支的合入操作。4.如权利要求1所述的质量检查方法，其特征在于，分别将分支fi+1至分支fN-1的质量检查结果与步骤S121中的集成分支的质量检查结果进行比较的步骤包括：将fi合入后的集成分支的质量问题数量分别与分支fi至分支fN-1的质量问题数量进行比较，以确定新...

【专利技术属性】
技术研发人员：周光明，李海涛，苏玲，刘芽，
申请(专利权)人：携程旅游网络技术上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31