有机发光显示面板、有机发光显示装置及短路检测方法制造方法及图纸

技术编号:17469362 阅读:32 留言:0更新日期:2018-03-15 06:16
有机发光显示面板、有机发光显示装置及短路检测方法。有机发光显示装置可以包括数据线、扫描线、子像素、数据驱动器以及扫描驱动器,其中,子像素中的每个包括:有机发光二极管;驱动晶体管,其连接至有机发光二极管;第一晶体管,其由施加至第一栅极节点的第一扫描信号控制,并且连接在驱动晶体管与数据线之间;第二晶体管,其由施加至第二栅极节点的第二扫描信号控制,并且连接在驱动晶体管与基准电压线之间;第三晶体管,其由施加至第三栅极节点的数据电压控制,并且连接在第二晶体管的第二栅极节点与第二扫描线之间;以及存储电容器,其连接在驱动晶体管的第一节点与第二节点之间。

【技术实现步骤摘要】
有机发光显示面板、有机发光显示装置及短路检测方法相关申请的交叉引用本申请要求于2016年8月31日提交的韩国专利申请第10-2016-0112176号的优先权,其出于全部目的如在此完全阐述一样通过引用并入本文。
本专利技术涉及有机发光显示面板、有机发光显示装置及其驱动方法。
技术介绍
作为显示装置近来引起广泛关注的有机发光显示装置使用自发光有机发光二极管OLED,并且因此具有高响应速度以及提高的发光效率、亮度和更宽的视角的优点。在有机发光显示装置中,包括OLED的子像素以矩阵形式设置,并且根据数据的灰度控制响应于扫描信号而选择的子像素的亮度。此外,OLED包括阳极电极和阴极电极,并且阳极电极和阴极电极可能通过制造过程中产生的异物、水分渗透或装运后产生的冲击而变得短路。OLED的这样的短路可能降低图像质量,或者可能在严重的情况下导致面板烧毁。然而,由于子像素的结构特性,有机发光显示面板不能准确地检测OLED的短路。
技术实现思路
本专利技术的一个方面提供一种具有子像素结构的有机发光显示面板、有机发光显示装置及其驱动方法,其中该子像素结构能够检测有机发光二极管的阳极电极与阴极电极之间的短路。本文档来自技高网...
有机发光显示面板、有机发光显示装置及短路检测方法

【技术保护点】
一种有机发光显示装置,包括:有机发光显示面板,其包括多个数据线、多个扫描线以及由所述多个数据线和所述多个扫描线限定的多个子像素;数据驱动器,其被配置成驱动所述多个数据线;以及扫描驱动器,其被配置成驱动所述多个扫描线,其中,所述多个子像素中的每个包括:有机发光二极管,其包括第一电极、有机发射层和第二电极;驱动晶体管,其包括与驱动栅极节点对应的第一节点、与所述有机发光二极管的所述第一电极电连接的第二节点、和被施加以驱动电压的第三节点;第一晶体管,其由施加至第一栅极节点的第一扫描信号控制,并且电连接在所述驱动晶体管的所述第一节点与所述多个数据线中的一个数据线之间;第二晶体管,其由施加至第二栅极节点的...

【技术特征摘要】
2016.08.31 KR 10-2016-01121761.一种有机发光显示装置,包括:有机发光显示面板,其包括多个数据线、多个扫描线以及由所述多个数据线和所述多个扫描线限定的多个子像素;数据驱动器,其被配置成驱动所述多个数据线;以及扫描驱动器,其被配置成驱动所述多个扫描线,其中,所述多个子像素中的每个包括:有机发光二极管,其包括第一电极、有机发射层和第二电极;驱动晶体管,其包括与驱动栅极节点对应的第一节点、与所述有机发光二极管的所述第一电极电连接的第二节点、和被施加以驱动电压的第三节点;第一晶体管,其由施加至第一栅极节点的第一扫描信号控制,并且电连接在所述驱动晶体管的所述第一节点与所述多个数据线中的一个数据线之间;第二晶体管,其由施加至第二栅极节点的第二扫描信号控制,并且电连接在所述驱动晶体管的所述第二节点与基准电压线之间;第三晶体管,其由施加至第三栅极节点的数据电压控制,并且电连接在所述第二晶体管的所述第二栅极节点与被配置成提供所述第二扫描信号的第二扫描线之间;以及存储电容器,其电连接在所述驱动晶体管的所述第一节点与所述第二节点之间。2.根据权利要求1所述的有机发光显示装置,其中,所述第三晶体管的所述第三栅极节点连接至与所述第一晶体管的漏极节点或源极节点电连接的所述一个数据线。3.根据权利要求1所述的有机发光显示装置,还包括:感测单元,其被配置成当通过采样开关电连接至所述基准电压线时感测所述基准电压线的电压,以及输出与感测电压对应的感测值;以及检测单元,其被配置成基于所述感测值来检测所述有机发光二极管是否短路。4.根据权利要求3所述的有机发光显示装置,其中,在所述采样开关导通前的用于检测所述多个子像素中的第一子像素中的所述有机发光二极管中的短路的短路检测时段期间,关断电平电压的第一扫描信号被施加至所述第一子像素的第一晶体管的第一栅极节点,导通电平电压的数据电压被施加至所述第一子像素的第三晶体管的第三栅极节点,并且当所述第一子像素的第三晶体管导通时,导通电平电压的第二扫描信号被施加至所述第一子像素的第二晶体管的第二栅极节点。5.根据权利要求4所述的有机发光显示装置,其中,在所述短路检测时段之前进行初始化时段,并且在所述初始化时段期间,所述基准电压线被初始化至基准电压,所述第一子像素的有机发光二极管的第二电极被初始化至用于短路检测的接地电压,并且所述第一子像素的第三晶体管的第三栅极节点被施加以关断电平电压,并且所述第二扫描信号是用于关断所述第一子像素的第二晶体管的关断电平电压。6.根据权利要求5所述的有机发光显示装置,其中,用于所述短路检测的接地电压的电压值与用于所述短路检测的基准电压不同,其中,用于所述短路检测的接地电压大于用于图像显示时段的接地电压。7.根据权利要求5所述的有机发光显示装置,其中,所述检测单元基于所述基准电压与所述感测值或所述感测电压之间的比较来检测所述第一子像素的有机发光二极管是否短路。8.根据权利要求5所述的有机发光显示装置,其中,在所述短路检测时段期间,当所述感测电压等于所述基准电压时或者当所述感测电压的变化小于预定变化量时,所述检测单元确定所述第一子像素的有机发光二极管不短路,并且其中,在所述短路检测时段期间,当所述感测电压大于所述基准电压时或者当所述感测电压的变化多于所述预定量时,所述检测单元确定所述第一子像素的有机发光二极管短路。9.根据权利要求4所述的有机...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈柱成
申请(专利权)人:乐金显示有限公司
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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