一种射频集成电路的智能化测试设备及其测试方法技术
An intelligent test device for RF integrated circuit and its testing method
The invention relates to a radio frequency integrated circuit of the intelligent test equipment and testing methods, including RF test, RFIC test load signal board and ATE board test platform, the RFIC test board is connected with the RF signal test load through the DB96 interface connected to the motherboard, the motherboard ATE test platform through the RF signal load European plug test, automatic execution of ATE test platform to complete the RFIC chip program development and test program with application software. The invention adopts the high speed RF signal test load motherboard and RFIC test board, which reduces the test cost, equipped with RFIC test equipment, through the development of software platform of RFIC chip testing procedures, to achieve the intelligent, general RFIC test.
【技术实现步骤摘要】
一种射频集成电路的智能化测试设备及其测试方法
本专利技术涉及射频集成电路(RFIC)测试领域，具体的说是一种射频集成电路的智能化测试设备及其测试方法。
技术介绍
射频集成电路(RFIC)正处在一个高速发展的时期，现阶段的RFIC包括多种功能电路，如低噪声放大器(LNA)、功率放大器、混频器、上变频器、检波器、调制器、压控振荡器(VCO)、移相器、开关、RFIC收发前端等，甚至集信号的编解码、数据处理、控制等功能于一体，在功能强大的同时，对芯片的测试面临更加重大挑战。目前，针对RFIC的测试主要基于逻辑电平和低速电信号的测试方法，采用信号发生器、频谱分析仪、矢量网络分析仪、功率分析仪等组成的分立仪器测试平台，使用信号源和网络分析仪通过探针台或者夹具，对被测芯片提供激励。这种常规测试方法存在功能单一、自动化程度低、标准化差、成本偏高等缺点，芯片测试诊断方法上也存在测试流程集开发难、智能化程度不足等问题。现有技术中通常RFIC测试板是一块整体，同测的所有DUT(被测设备)都集中在一块板上，由于RFIC芯片采用的封装类型众多，这就需要制作多种RFIC测试板，不通用，成本高...
【技术保护点】
一种射频集成电路的智能化测试设备，其特征在于：包括RF信号测试负载母板、RFIC测试子板和ATE测试平台，所述RFIC测试子板连接所述RF信号测试负载母板，所述RF信号测试负载母板通过欧插连接所述ATE测试平台。
【技术特征摘要】
1.一种射频集成电路的智能化测试设备，其特征在于：包括RF信号测试负载母板、RFIC测试子板和ATE测试平台，所述RFIC测试子板连接所述RF信号测试负载母板，所述RF信号测试负载母板通过欧插连接所述ATE测试平台。2.根据权利要求1所述的一种射频集成电路的智能化测试设备，其特征在于：所述RFIC测试子板根据RFIC芯片封装的不同安装有不同的母座，所述RFIC测试子板将不同封装的芯片引脚转换成统一的双路DB96接口，连接于所述RF信号测试负载母板。3.根据权利要求1或2所述的一种射频集成电路的智能化测试设备，其特征在于：所述RF信号测试负载母板包括RFIC芯片工作的外围电路，采用了配置灵活、动态复用的多射频通导智能测试接口设计技术。4.根据权利要求1所述的一种射频集成电路的智能化测试设备，其特征在于：所述ATE测试平台采用LAN总线连接方式，通过智能适配器，可实现微波信号源，任意波信号发生...
【专利技术属性】
技术研发人员：臧宏，苏畅，周元元，刘姚军，彭雪娟，胡明昆，吴日成，
申请(专利权)人：国营芜湖机械厂，
类型：发明
国别省市：安徽,34
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。