一种用于FPC电测的测试架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于FPC电测的测试架，测试架安装在测试机上，且所述测试架上植有用于FPC电测的探针。所述测试架包括一矩形主板，所述矩形主板的两长边对称设有若干用于植针的金手指，任意对称的两金手指通过焊接线路电连接。若干所述金手指沿所述矩形主板的长度方向均匀且相互并行排布，位于所述矩形主板同一长边任意两相邻的金手指的自由端部末端与矩形主板之间的间距均不相等，且位于所述矩形主板同一长边的任意金手指的自由端部较同一金手指的其他部分的横截面要宽。本实用新型专利技术技术方案简单实用，增加了测试架金手指的宽度，降低了成本及电测的误测率。

A test rack for FPC electrical measurement

The utility model discloses a test rack for FPC electrical measurement, which is installed on a test machine and the test rack is planted with a probe for FPC electrical measurement. The test rack comprises a rectangular main board, and the two long edges of the rectangular main board are symmetrically provided with a number of gold fingers for planting needles, and the two symmetrical gold fingers of any symmetry are electrically connected through the welding line. Some of the gold finger along the length direction of the rectangular board are arranged in parallel and uniform spacing, located between the motherboard with a long rectangular edge of any two adjacent finger end and the free end of the rectangular board are not equal, the cross section and the free end is positioned in the rectangular board with any finger a long edge is the same finger of the other part of the wider. The technical scheme of the utility model is simple and practical, and the width of the gold finger of the test rack is increased, and the cost and the error rate of the electrical measurement are reduced.

【技术实现步骤摘要】
一种用于FPC电测的测试架
本技术涉及柔性线路板
，特别涉及一种用于FPC电测的测试架。
技术介绍
FPC是一种用柔性的绝缘基材制成的印刷电路，具有许多硬性印刷电路板不具备的有点，被广泛应用在各个领域。目前，FPC采用大批量自动化生产，才FPC的生产过程中需要对FOC上的线路进行测试。现有技术中，通常将FPC连接在测试架上，再将测试架安装在测试机上进行检测。但是，现有的测试架上用于指针的金手指为直线设计，宽度为0.14mm，智能采用微针，成本为使用普通探针的三倍，而且由于金手指宽度小，容易造成探针与金手指偏位，导致误测，测试效率低。
技术实现思路
本技术的主要目的是提出一种用于FPC电测的测试架，旨在简化结构，增加测试架金手指的宽度，降低成本及电测的误测率。为实现上述目的，本技术提出的一种用于FPC电测的测试架，测试架安装在测试机上，且所述测试架上植有用于FPC电测的探针。所述测试架包括一矩形主板，所述矩形主板的两长边对称设有若干用于植针的金手指，任意对称的两金手指通过焊接线路电连接。若干所述金手指沿所述矩形主板的长度方向均匀且相互并行排布，位于所述矩形主板同一长边任意两相邻的金手指的自由端部末端与矩形主板之间的间距均不相等，且位于所述矩形主板同一长边的任意金手指的自由端部较同一金手指的其他部分的横截面要宽。优选地，位于所述矩形主板同一长边的金手指的自由端部呈交错分布。优选地，任意两相邻的金手指，末端距离矩形主板较近的金手指的自由端部呈葫芦状设置，末端距离矩形主板较远的金手指的自由端部呈瓶装设置。优选地，所述金手指焊接在所述矩形主板上。与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过金手指的交错排布，可以增加金手指的宽度，从而可以在金手指上植上常规探针，大大降低测试成本。同时，可以有效防止探针与金手指的偏位，减少误测，提高测试效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术测试架的结构示意图；图2为本技术测试架A处的局部放大图；本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式本实施例提出的一种用于FPC电测的测试架，测试架安装在测试机(图中未示出)上，且所述测试架上植有用于FPC电测的探针(图中未示出)。将探针与FPC(图中未示出)连接，再将测试架安装在测试机上，即可由测试机对FPC电路进行通电并根据电脑测试程序中的网络关系来进行对比，进而判断FPC各条线路之间是否有开路及短路。如图1所示，测试架包括一矩形主板1，所述矩形主板1的两长边对称设有若干用于植针的金手指2，任意对称的两金手指2通过焊接线路3电连接。若干所述金手指2沿所述矩形主板1的长度方向均匀且相互并行排布，位于所述矩形主板1同一长边任意两相邻的金手指2的自由端部4末端与矩形主板1之间的间距均不相等，且位于所述矩形主板1同一长边的任意金手指2的自由端部4较同一金手指2的其他部分的横截面要宽。应当说明的是，本实施例中金手指2的自由端部4的宽度设置为0.25mm，其他部分的宽度设置为0.14mm。应当说明的是，探针装在金手指2的自由端部4。现有技术中的金手指的自由端部为直线并排均布设置，金手指的自由端部的宽度为0.14mm，探针只能选择微针，微针成本为常规探针的三倍以上。同时，由于金手指的自由端部宽度较小，微针与金手指容易发生偏位，导致误测，测试效率非常低。本实施例中的位于所述矩形主板1同一长边的金手指2的自由端部4采用交错排布的方式，在保证金手指2数量的前提下，大大增加了金手指2的自由端部4的宽度，可以使用常规探针对FPC进行电测，大大降低了测试成本。进一步地，还可以有效避免探针与金手指2发生偏位，防止误测，提高测试效率。同时，金手指2的自由端部4交错排布极大的方便了探针的安装，防止探针的漏装，提高了工作效率。进一步地，如图2所示，任意两相邻的金手指，末端距离矩形主板1较近的金手指201的自由端部401呈葫芦状设置，末端距离矩形主板1较远的金手指202的自由端部402呈瓶装设置。应当说明的是，金手指的自由端部设置为葫芦状或瓶状，保证了金手指自由端部的宽度要求，同时，应当说明的是，金手指由药水蚀刻而成，金手指的连接处面积设置较小，可以方便药水的排出，防止由于药水累积对测试架和FPC造成腐蚀，损坏。进一步地，金手指2焊接在矩形主板1上，提高了金手指2与矩形主板1连接的稳固性，防止金手指2由于外力作用断裂，影响测试架的正常使用。以上仅为本技术的优选实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的
，均同理包括在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于FPC电测的测试架，测试架安装在测试机上，且所述测试架上植有用于FPC电测的探针，其特征在于，所述测试架包括一矩形主板，所述矩形主板的两长边对称设有若干用于植针的金手指，任意对称的两金手指通过焊接线路电连接；若干所述金手指沿所述矩形主板的长度方向均匀且相互并行排布，位于所述矩形主板同一长边任意两相邻的金手指的自由端部末端与矩形主板之间的间距均不相等，且位于所述矩形主板同一长边的任意金手指的自由端部较同一金手指的其他部分的横截面要宽。

【技术特征摘要】
1.一种用于FPC电测的测试架，测试架安装在测试机上，且所述测试架上植有用于FPC电测的探针，其特征在于，所述测试架包括一矩形主板，所述矩形主板的两长边对称设有若干用于植针的金手指，任意对称的两金手指通过焊接线路电连接；若干所述金手指沿所述矩形主板的长度方向均匀且相互并行排布，位于所述矩形主板同一长边任意两相邻的金手指的自由端部末端与矩形主板之间的间距均不相等，且位于所述矩形主板同一长边的任意金手指的自由端部较...

【专利技术属性】
技术研发人员：张道兵，谌新安，
申请(专利权)人：深圳市三德冠精密电路科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44