基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法，装置包括三只均匀分布在被测物体周围的半导体线激光器，三个均匀分布在被测物体周围的摄像机，用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机；半导体激光器分别通过并口连接计算机，摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。本发明专利技术采用三个线结构半导体激光器和三个工业摄像机实现快速横截面轮廓采集，更客观、准确地反映了被测截面的测量信息，测量无需旋转光学系统平台，简化了系统的结构；不用进行复杂的坐标转换和旋转，大大降低了融合错位所造成测量误差的可能性；本发明专利技术的360°轮廓测量过程只需要对三幅图片进行融合，融合方法更简单高效。

360 degree profile measuring device and method based on line structure light

\u672c\u53d1\u660e\u516c\u5f00\u4e86\u4e00\u79cd\u57fa\u4e8e\u7ebf\u7ed3\u6784\u5149\u7684360\u00b0\u8f6e\u5ed3\u6d4b\u91cf\u88c5\u7f6e\u53ca\u65b9\u6cd5\uff0c\u88c5\u7f6e\u5305\u62ec\u4e09\u53ea\u5747\u5300\u5206\u5e03\u5728\u88ab\u6d4b\u7269\u4f53\u5468\u56f4\u7684\u534a\u5bfc\u4f53\u7ebf\u6fc0\u5149\u5668\uff0c\u4e09\u4e2a\u5747\u5300\u5206\u5e03\u5728\u88ab\u6d4b\u7269\u4f53\u5468\u56f4\u7684\u6444\u50cf\u673a\uff0c\u7528\u4e8e\u5bf9\u6444\u50cf\u673a\u91c7\u96c6\u5230\u7684\u56fe\u50cf\u8fdb\u884c\u56fe\u50cf\u5904\u7406\u7684\u8ba1\u7b97\u673a\uff1b\u534a\u5bfc\u4f53\u6fc0\u5149\u5668\u5206\u522b\u901a\u8fc7\u5e76\u53e3\u8fde\u63a5\u8ba1\u7b97\u673a\uff0c\u6444\u50cf\u673a\u5206\u522b\u901a\u8fc7\u56fe\u50cf\u91c7\u96c6\u5361\u4e0e\u8ba1\u7b97\u673a\u76f8\u8fde\u3002 The invention adopts the three line structure of semiconductor lasers and three industrial cameras to achieve rapid cross section contour data, more objectively and accurately reflect the measurement information of the measured section, measurement without rotating the optical system, simplifying the structure of the system; without complex coordinate transformation and rotation, greatly reducing the possibility of measurement error the resulting fusion dislocation 360 degrees; profile measurement during the process of the invention only needs three image fusion, fusion method is more simple and efficient.

【技术实现步骤摘要】
基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法
本专利技术属于轮廓测量
，特别涉及一种基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法。
技术介绍
自上个世界末以来，工业蓬勃发展，轮廓测量技术无论是在工业、制造业、产品开发，还是逆向工程、材料与器件和在线测量等方面都发挥着越来越重要的作用。尤其是近几年来，计算机技术和数字图像技术快速发展，光学测量以其高精度、非接触、无损伤和高效性等优点越发受到人们的青睐。正是因为工业发展迅速，计算机技术和数字图像处理技术的融入，推动轮廓测量技术快速发展，人们对轮廓测量的速度、精度、自动化操作等方面的要求也越来也高。被测量物体由简单的一维长度、二维平面过渡到复杂多变的三维轮廓；测量环境也变得高温、高热、高粉尘、高酸碱以及高振动等苛刻条件；测量信息也希望更加详实准确。近年来，伴随着机器视觉的飞速发展，基于视觉测量的技术已成为三维测量中一个重要方面，而线结构光三维测量技术以精度较高、实时性强等特点，广泛应用于工业生产之中。基于线结构光的三维测量技术是将激光光束投射到被测物体表面，摄像机获取激光光束的二维图像，经过一系列算法处理，并结合相关测量模型来求解被测物体的三维轮廓信息。目前使用的三维轮廓测量方法主要有基于阴影遮挡法的360°轮廓测量方法和基于双摄像机的光切法360°轮廓测量方法。(1)基于阴影遮挡法的360°轮廓测量的原理如图1所示，该方案的测量原理是利用阴影宽度来求解被测物体轮廓直径，故称这种方案为基于阴影遮挡法的360°轮廓测量方法。该方案使用LED作为照明光源，LED光通过组合透镜产生平行光，平行光照射到被测物体表面，被被测物体所遮挡的部分将产生阴影，并经过另外一组透镜聚焦在CMOS摄像机上。通过摄像机的工业摄像机所采集到的数据可计算出阴影宽度，即得到被测物体某一个轮廓直径的尺寸。该方案在系统运行过程中，光学测量系统相对于被测物体在不断旋转，如图2所示，每旋转360°，获得被测物体的一个完整切面轮廓。在工业生产中，若被测物体在沿某个方向运动，则该方案所扫描的轨迹呈现为如图2中所示的螺旋形式。这种测量方法存在以下缺点：缺点一：整个光学系统在运行过程中需要绕被测物体高速旋转，需要借助步进电机来驱动，导致系统复杂，实时性差；缺点二：对运动的被测物体，其测量轨迹呈现螺旋形，不能准确的反映完整切面的轮廓信息；缺点三：该系统的内部对环境要求非常洁净，对于高温、高粉尘和高湿度等恶劣环境来说非常苛刻，因此在连续运行一段时间后，经常出现故障，稳定性较差。(2)基于双摄像机的光切法360°轮廓测量。其测量系统如图3所示，该测量系统在线结构光入射面两侧布置两个摄像机，利用视场互补的原则，适当拉开两个摄像机之间的距离，增大成像光轴夹角，有利于解决被测表面起伏较大时带来的测量死点问题。被测物体放置在旋转台上，O点为旋转台中心，α、β分别为摄像机1和摄像机2成像镜头主光轴与光切面的夹角，f1和f2分别为摄像机1和摄像机2的镜头焦距，物空间坐标系选用柱面坐标系(r,θ,z)，z轴与旋转中心轴O重合，因此三维物体表面可描述为r＝r(θ,z)，r为物体表面距z轴(旋转中心轴)的距离。旋转台由步进电机驱动，线结构光经被测物体表面高度调制后的变形条纹成像于摄像机的像平面，通过确定像平面上各能量分布中心像点在图像空间中位置x1、x2，就可以利用下式分别求出线结构光切面与被测物体表面交线上点A处的径向距离r：其中BO、CO分别表示摄像机1、摄像机2镜头到旋转中心O的距离。然后步进电机驱动旋转台转动一定的角度，即可测得一个完整的360°切面轮廓。理想情况下，r1＝r2。但是该系统的本质是两个常规单摄像机测量系统的并联，两摄像机的有效视场互补，但就单个摄像机而言仍然受到视场死角的影响，因此并非物体表面上所有被测点都是两摄像机的共同测量点。对于共同测量点，测量值为r1和r2，对于摄像机1可测而摄像机2为死角的点只能求得r1，反之则只能求得r2，因此该系统的最终测量终值r为r1和r2的并集：r＝r1∪r2最后对旋转一周所测得的r集合进行合并即可得到一个完整的360°轮廓图像数据。这种测量方法存在以下缺点：缺点一：该方案每次也只能测得被测物体表面上部分轮廓，需要借助旋转台旋转一周才能实现360°全轮廓测量，操作复杂；缺点二：该方案后期数据处理中需要进行偏心补偿及复杂的坐标变换，实时性不强；缺点三：该测量系统由于受到系统结构和人为因素的限制，系统调心的随意性很大，往往存在较大的偏心，容易导致数据融合错位及测量误差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种采用三个线结构半导体激光器和三个工业摄像机实现快速横截面轮廓采集，只需要对三幅图片进行融合，融合方法更简单高效，更客观、准确地反映了被测截面的测量信息的基于线结构光的360°轮廓测量装置及方法。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：基于线结构光的360°轮廓测量装置，包括三只均匀分布在被测物体周围，用于发出能够覆盖被测物体360°完整截面的扇形激光的半导体线激光器；三个均匀分布在被测物体周围，用于采集被测物体360°完整截面的激光照明图像的摄像机；用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机；半导体激光器分别通过并口连接计算机，摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。进一步地，所述摄像机与半导体激光器交叉分布，三个摄像机和半导体激光器固定在同一个刚性金属结构架上，被测物体位于刚性金属结构架的中心位置。进一步地，所述计算机用于对采集到的图像进行锁定成像、均值滤波、图像二值化、图像标定还原、图像融合和图像细化处理。进一步地，所述摄像机的光轴与半导体线激光器发出的线结构光的光切面有一个30°～45°的夹角。本专利技术还提供了一种基于线结构光的360°轮廓测量方法，包括以下步骤：S1、采集物体在包含背景光下的光带图像，启动程序开始测量，计算机通过并口发出高电平，驱动三只半导体线激光器发射激光；计算机通过另一并口发出脉冲信号触发三个摄像机进行图像采集；三个摄像机获取的图像是被测物体在包含背景光下的光带图像，每个摄像机获取大于被测物体表面1/3的部份图像；S2、采集被测物体表面的背景光图像，计算机通过并口发出低电平，驱动半导体线激光器关闭；同时计算机通过另一并口发出脉冲信号通知摄像机获取下一帧图像；此时摄像机获取的图像是被测物体表面的背景光图像，没有激光光带；S3、图像处理，将摄像机采集到的图像上传至计算机，计算机对每个摄像机采集到的两帧图像进行处理，包括以下子步骤：S31、锁定成像，消除背景光，获得被测物体原始的轮廓图像；S32、均值滤波，消除原始轮廓图像噪声；S33、图像二值化，将图像上的像素点的灰度值设置为0或255，减少图像中的数据量，凸显出目标的轮廓；S34、图像标定还原，利用各摄像机的标定参数对畸变图像进行校正；S35、图像融合，对校正后的三幅图像按顺序进行融合；S36、图像细化，提取轮廓骨架。所述步骤S32的具体实现方法为：均值滤波的原理为：其中，g(s,t)为有噪声的原始轮廓图像；f(x,y)为进行均值滤波操作后的图像；Sxy表示中心点在(x,y)处、大小为m×n的矩形子图像窗口的一组坐标；均值滤波的具体操作方法是：利用Sxy窗口模板来滑动遍历整幅本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于线结构光的360°轮廓测量装置，其特征在于，包括三只均匀分布在被测物体周围，用于发出能够覆盖被测物体360°完整截面的扇形激光的半导体线激光器；三个均匀分布在被测物体周围，用于采集被测物体360°完整截面的激光照明图像的摄像机；用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机；半导体激光器分别通过并口连接计算机，摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。

【技术特征摘要】
1.基于线结构光的360°轮廓测量装置，其特征在于，包括三只均匀分布在被测物体周围，用于发出能够覆盖被测物体360°完整截面的扇形激光的半导体线激光器；三个均匀分布在被测物体周围，用于采集被测物体360°完整截面的激光照明图像的摄像机；用于对摄像机采集到的图像进行图像处理的计算机；半导体激光器分别通过并口连接计算机，摄像机分别通过图像采集卡与计算机相连。2.根据权利要求1所述的基于线结构光的360°轮廓测量装置，其特征在于，所述摄像机与半导体激光器交叉分布，三个摄像机和半导体激光器固定在同一个刚性金属结构架上，被测物体位于刚性金属结构架的中心位置。3.根据权利要求1所述的基于线结构光的360°轮廓测量装置，其特征在于，所述计算机用于对采集到的图像进行锁定成像、均值滤波、图像二值化、图像标定还原、图像融合和图像细化处理。4.根据权利要求1所述的基于线结构光的360°轮廓测量装置，其特征在于，所述摄像机的光轴与半导体线激光器发出的线结构光的光切面有一个30°～45°的夹角。5.如权利要求1～4任意一项所述的基于线结构光的360°轮廓测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采集物体在包含背景光下的光带图像，启动程序开始测量，计算机通过并口发出高电平，驱动三只半导体线激光器发射激光；计算机通过另一并口发出脉冲信号触发三个摄像机进行图像采集；三个摄像机获取的图像是被测物体在包含背景光下的光带图像，每个摄像机获取大于被测物体表面1/3的部份图像；S2、采集被测物体表面的背景光图像，计算机通过并口发出低电平，驱动半导体线激光器关闭；同时计算机通过另一并口发出脉冲信号通知摄像机获取下一帧图像；此时摄像机获取的图像是被测物体表面的背景光图像，没有激光光带；S3、图像处理，将摄像机采集到的图像上传至计算机，计算机对每个摄像机采集到的两帧图像进行处理，包括以下子步骤：S31、锁定成像，消除背景光，获得被测物体原始的轮廓图像；S32、均值滤波，消除原始轮廓图像噪声；S33、图像二值化，将图像上的像素点的灰度值设置为0或255，减少图像中的数据量，凸显出目标的轮廓；S34、图像标定还原，利用各摄像机的标定参数对畸变图像进行校正；S35、图像融合，对校正后的三幅图像按顺序进行融合；S36、图像细化，提取轮廓骨架。6.根据权利要求5所述的基于线结构光的360°轮廓测量方法，其特征在于，所述步骤S32的具体实现方法为：均值滤...

【专利技术属性】
技术研发人员：余学才，刘光明，马飞，鲁楷锋，
申请(专利权)人：成都多极子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51