一种模拟加速器调控系统的实验装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种模拟加速器调控系统的实验装置。本发明专利技术用于解决现有技术中加速器不可替代的问题。它通过低电平控制器和外围电路控制带通滤波器，模拟加速器调控系统，在没有加速器的实验条件下，测试低电平调控系统的性能。该实验方法简单，降低了投入的人力和物力。保证调控系统的可靠性和快速性。因此，本发明专利技术可以广泛用于加速器调试技术领域。

【技术实现步骤摘要】
一种模拟加速器调控系统的实验装置
本专利技术涉及加速器调试
，尤其提供了一种模拟加速器调控系统的实验装置。
技术介绍
目前，加速器已经广泛应用于社会发展的各行业之中，在人们日常生活和国家经贸发展中发挥着不可替代的作用。在实际应用中，为了保证束流位置和相位的准确性，加速器会有配套的低电平调控系统，由于加速器造价昂贵，工艺要求高，所以在没有加速器的实验条件下，低电平调控系统就无法验证调控的准确性。为了解决以上问题，必须解决加速器可替代的问题。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是：为了解决现有技术中加速器不可替代的问题，本专利技术提供一种模拟加速器调控系统的实验装置来解决上述问题。本专利技术为解决其技术问题所采用的技术方案是：一种模拟加速器调控系统的实验装置，其特征在于：它包括信号功率源发生器、低电平控制器和上位机；所述低电平控制器分别连接所述信号功率源发生器和所述上位机；其中，所述低电平控制器包括第一功率计、功分器、本征信号发生器、时钟分配器、FPGA、DAC、第一ADC、第二ADC、第三ADC、第一混频器、第二混频器、第三混频器和第四混频器；所述第一功率计的入口连接所述信号功本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种模拟加速器调控系统的实验装置，其特征在于：它包括信号功率源发生器(10)、低电平控制器(20)和上位机(30)；所述低电平控制器(20)分别连接所述信号功率源发生器(10)和所述上位机(30)；其中，所述低电平控制器(20)包括第一功率计(201)、功分器(202)、本征信号发生器(203)、时钟分配器(204)、FPGA(205)、DAC(206)、第一ADC(207)、第二ADC(208)、第三ADC(209)、第一混频器(210)、第二混频器(211)、第三混频器(212)和第四混频器(213)；所述第一功率计(201)的入口连接所述信号功率源发生器(10)，所述第一功率计(201)...

【技术特征摘要】
1.一种模拟加速器调控系统的实验装置，其特征在于：它包括信号功率源发生器(10)、低电平控制器(20)和上位机(30)；所述低电平控制器(20)分别连接所述信号功率源发生器(10)和所述上位机(30)；其中，所述低电平控制器(20)包括第一功率计(201)、功分器(202)、本征信号发生器(203)、时钟分配器(204)、FPGA(205)、DAC(206)、第一ADC(207)、第二ADC(208)、第三ADC(209)、第一混频器(210)、第二混频器(211)、第三混频器(212)和第四混频器(213)；所述第一功率计(201)的入口连接所述信号功率源发生器(10)，所述第一功率计(201)的出口连接所述功分器(202)，所述功分器(202)的出口分别连接所述本征信号发生器(203)和所述时钟分配器(204)，且所述本征信号发生器(203)和所述时钟分配器(204)分别连接所述FPGA(205)；所述FPGA(205)依次连接所述DAC(206)、所述第四混频器(213)、速调管(40)、环路器(50)、定向耦...

【专利技术属性】
技术研发人员：张鹏蛟，陈希，周博文，柯宜金，张文涛，赵鹏，
申请(专利权)人：安德信微波设备有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32