用于确定辐射图的系统和方法技术方案

本发明专利技术提供一种用于确定辐射图的系统和方法。一种用于基于被提供的测试信号来确定包含多个天线元件的天线阵列的辐射图的系统，该系统包括多个探针，该多个探针用于在第一表面和第二表面中测量利用测试信号驱动天线元件时由天线元件所发射的信号的幅度，或用于将测试信号从第一表面和第二表面发射至天线元件，其中探针发射测试信号的情况下，天线元件接收由探针发射的信号并提供相应的测量到的幅度，其中第一表面到天线元件的第一距离小于第二表面到天线元件的第二距离；以及图计算单元，其用于基于所测量的幅度来计算天线阵列的辐射图。

Systems and methods used to determine radiant maps

The present invention provides a system and method for determining a radiation map. A system for determining the radiation pattern of the antenna array including a plurality of antenna elements based on the test signal is provided. The system comprises a plurality of probes, the multi probe for measuring the signal using the test signal to drive the antenna element from the antenna element emitted on the first surface and the second surface of the range, or for the test signal from the first surface and the second surface emission to the antenna element, the probe emission test signal, receiving signal from the antenna element to launch a probe and provide corresponding measurements to the amplitude of the first surface to the first antenna element is less than second from the surface to the antenna element second distance calculation and drawing unit; for, to calculate the radiation pattern of antenna array based on amplitude measurement.

【技术实现步骤摘要】
用于确定辐射图的系统和方法
本专利技术涉及一种用于确定天线阵列的辐射图的系统和方法。
技术介绍
虽然本专利技术可以应用于使用无线信号的任何系统，但是将结合无线通信设备的测试来描述本专利技术。现代无线通信设备使用射频信号来传输数据和/或语音。这种通信设备的制造商总是试图提高通信设备的效率，并且同时必须满足法律法规或标准要求。因此，在开发、生产期间和生产之后，对于这样的通信设备进行大量的测试。这种测试用于质量保证和一致性测试。一个测试包括确定相应设备的天线阵列的远场。
技术实现思路
需要对于RF设备的远场的测试改进。本专利技术提供了一种基于被提供的测试信号来确定天线阵列的辐射图的系统，其中的天线阵列包含多个天线元件，即两个或更多个天线元件。该系统包括若干个(即一个或多个)探针，用于在第一表面和第二表面中测量天线元件以测量信号被驱动时所发射的信号的幅度，或用于将测试信号从第一表面和第二表面发射至天线元件，其中在探针发射测试信号的情况下，天线元件接收由探针发射的信号并提供相应的测量幅度，其中第一表面到天线元件的第一距离小于第二表面到天线元件的第二距离，以及图计算单元，其基于所测量的幅度来计算天线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于基于被提供的测试信号来确定包含多个天线元件的天线阵列的辐射图的系统，所述系统包括：多个探针，用于在第一表面和第二表面中测量所述天线元件在以测试信号被驱动时所发射的信号的幅度，或用于将测试信号从第一表面和第二表面发射至所述天线元件，其中所述探针发射所述测试信号的情况下，所述天线元件接收由所述探针发射的信号并提供相应的测量到的幅度，其中第一表面到所述天线元件的第一距离小于第二表面到所述天线元件的第二距离，以及图计算单元，其基于所测量的幅度来计算所述天线阵列的辐射图。

【技术特征摘要】
2016.08.01 US 62/369,381;2016.12.06 US 15/371,1281.一种用于基于被提供的测试信号来确定包含多个天线元件的天线阵列的辐射图的系统，所述系统包括：多个探针，用于在第一表面和第二表面中测量所述天线元件在以测试信号被驱动时所发射的信号的幅度，或用于将测试信号从第一表面和第二表面发射至所述天线元件，其中所述探针发射所述测试信号的情况下，所述天线元件接收由所述探针发射的信号并提供相应的测量到的幅度，其中第一表面到所述天线元件的第一距离小于第二表面到所述天线元件的第二距离，以及图计算单元，其基于所测量的幅度来计算所述天线阵列的辐射图。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述测试信号在应用于所述天线元件时，驱动所述天线元件发射静态RF信号。3.根据权利要求1所述的系统，其中所述测试信号作为数字命令信号提供给所述天线阵列的信号处理单元。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述测试信号波提供为用于直接驱动单个天线元件的RF信号。5.根据权利要求1所述的系统，其中第一表面到所述天线元件的距离使得所测量的幅度允许区分所述单个天线元件，并且第二表面的距离使得所测量的幅度不允许区分所述单个天线元件。6.根据权利要求1所述的系统，其中第一距离在Δd和两倍Δd之间，其中Δd是所述天线阵列中单个天线元件的最小距离。7.根据权利要求1所述的系统，其中所述天线阵列包括天线罩，并且第一距离是所述天线罩的外表面到所述天线阵列的距离。8.根据权利要求1所述的系统，其中在第一距离处使用的探针的孔径小于在第二距离处使用的探针的孔径。9.根据权利要求8所述的系统，其中在第一距离或第二距离处使用的探针的孔径分别被限定为第一距离或第二距离中弧段的两个端点的距离，所述弧段包括角度其中λ0是所述测试信号的波长，并且Lmax是围绕所述天线阵列的最小球体的半径。10.根据权利要求8所述的系统，其中在第一距离处使用的探针的孔径被限定为其中λ0是所述测试信号的波长。11.根据权利要求8所述的系统，其中在第二距离处使用的探针的孔径被限定为WD2≤D2*tanα，同时其中D2是第二距离，λ0是所述测试信号的波长，并且Lmax是围绕所述天线阵列的最小球体的半径。12.根据权利要求1所述的系统，其中第一表面和/或第二表面包括球体和/或椭圆体和/或圆柱体和/或平面的至少一部分，特别是其中第一表面和/或第二表面包括不同...

【专利技术属性】
技术研发人员：亚当·坦基伦，亨德里克·巴特科，科比特·罗威尔，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE