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本发明提供一种用于确定辐射图的系统和方法。一种用于基于被提供的测试信号来确定包含多个天线元件的天线阵列的辐射图的系统，该系统包括多个探针，该多个探针用于在第一表面和第二表面中测量利用测试信号驱动天线元件时由天线元件所发射的信号的幅度，或用于...
该专利属于罗德施瓦兹两合股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过罗德施瓦兹两合股份有限公司授权不得商用。

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