用于对毫米波进行空中测试的系统和方法技术方案

本发明专利技术提供一种用于测量被测装置(DUT)的方法和系统。根据一个方面，系统包含具有第一天线的第一定位器和具有第二天线的第二定位器。所述系统还包含配置成使所述第一天线向所述DUT辐射测试信号并实施探测模式和干扰模式之一的电路。所述探测模式针对第一天线的至少一个位置中的每个位置，使所述第二天线在其第二组位置中的每个位置处从所述DUT接收信号。所述干扰模式针对第一天线的至少一个位置中的每个位置，使第二天线在其第二组位置中的每个位置处向所述DUT传输干扰信号。

Systems and methods for airborne testing of millimeter waves

The present invention provides a method and a system for measuring a measured device (DUT). According to one aspect, the system consists of a first locator with a first antenna and a second locator with a second antenna. The system also includes a circuit configured to make the first antenna to the DUT radiation test signal and to implement one of the detection modes and interference modes. The detection mode receives signals from the DUT at each location of the second set of positions for each location in the first antenna at least one location. The interference mode aims at each position in at least one location of the first antenna, so that the second antenna can transmit the interference signal to the DUT at every position of its second set of locations.

【技术实现步骤摘要】
用于对毫米波进行空中测试的系统和方法相关申请的交叉引用本申请要求2016年7月22日提交的美国临时申请序列号62/365,588的优先权。
本公开涉及用于电磁测量的方法和系统。
技术介绍
传统的天线方向图测量技术利用使用机械或电子定位系统的球形扫描系统在球坐标中使传输和接收天线相对于彼此移动。定位系统一般设有两个正交的运动轴线(例如，θ和φ)来覆盖对应于球坐标系统的两个角度的均匀间隔的位置。在任何给定实施方案中，每个正交定位器在测试空间的中心旋转被测天线/装置(AUT/DUT)，或者在测试范围的周边周围旋转测量天线(MA)。对于给定测试实施方案，半径(范围长度)的第三球坐标是固定的。结果是，MA在DUT参考坐标中转录DUT周围的球体，其中将半径限定为范围长度，且始终指向该球体的中心。通常还需要沿着测试空间的中心与MA之间的径向方向(即，沿着MA的轴)的第三极化轴。虽然可以使用机械旋转器使单个天线元件围绕始于测试空间中心传播轴线旋转九十度，但常常使用双极化天线和开关以电方式执行极化变化。同样地，可以通过使用处于固定位置的测量天线以电方式实现一个或两个球面运动轴线，并且在它们之间切换。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种配置成经由多个测试模式之一来测试被测装置DUT(1)的系统，所述系统包括：第一定位器(20a)，具有第一天线(19a)；第二定位器(20b)，具有第二天线(19b)；电路(32)，配置成：使所述第一天线(19a)向所述DUT(1)辐射信号；以及实施多个测试模式之一，所述多个测试模式包含：探测模式，其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第二天线(19b)在所述第二天线(19b)的第二组位置中的每个位置处从所述DUT(1)接收信号；以及干扰模式，其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第二天线(19b)在所述第二天线(19b)的所述第二组位置中的每个位...

【技术特征摘要】
2016.07.22 US 62/365,588;2017.03.07 US 15/452,1151.一种配置成经由多个测试模式之一来测试被测装置DUT(1)的系统，所述系统包括：第一定位器(20a)，具有第一天线(19a)；第二定位器(20b)，具有第二天线(19b)；电路(32)，配置成：使所述第一天线(19a)向所述DUT(1)辐射信号；以及实施多个测试模式之一，所述多个测试模式包含：探测模式，其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第二天线(19b)在所述第二天线(19b)的第二组位置中的每个位置处从所述DUT(1)接收信号；以及干扰模式，其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第二天线(19b)在所述第二天线(19b)的所述第二组位置中的每个位置处向所述DUT(1)传输干扰信号。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述电路(32)进一步包括接收电路(18)和传输电路(18)中至少之一，所述接收电路(18)和传输电路(18)安装在所述第二定位器(20b)上且配置成执行以下至少一项：在所述探测模式下从所述DUT(1)接收信号，和在所述干扰模式下向所述DUT(1)传输干扰信号。3.根据权利要求1所述的系统，进一步包括具有第三天线的第三定位器，且其中所述电路进一步配置成实施第二干扰模式，其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第三天线在所述第三天线的第三组位置中的每个位置处向所述DUT(1)传输第二干扰信号。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述多个测试模式进一步包含第三模式，其针对所述第一天线(19a)的至少一个位置中的每个位置使所述第一天线(19a)向所述DUT(1)传输第一通信信号，且针对所述第二天线(19b)的至少一个位置中的每个位置使所述第二天线(19b)向所述DUT(1)传输第二通信信号，以便测试所述DUT(1)的性能。5.一种用于在多个模式之一中测试被测装置DUT(1)的设备，所述设备包括：第一天线(19a)；第一定位器(20a)，配置成将所述第一天线(19a)定位在所述DUT(1)周围；第一通信端点(30a)，与所述第一天线(19a)电连通且配置成向所述DUT(1)传输信号且从所述DUT(1)接收信号；第二天线(19b)；第二定位器(20b)，配置成将所述第二天线(19b)定位在所述DUT(1)周围；以及第二通信端点(30b)，与所述第二天线(19b)电连通且配置成在多个测试模式之一中操作，所述测试模式包含探测模式和干扰模式中至少之一，所述第二通信端点(30b)配置成在所述探测模式下进行接收且在所述干扰模式下进行传输。6.根据权利要求5所述的设备...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·福格利，
申请(专利权)人：美国电磁兼容测试系统公司，
类型：发明
国别省市：美国,US