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本发明提供一种用于测量被测装置(DUT)的方法和系统。根据一个方面，系统包含具有第一天线的第一定位器和具有第二天线的第二定位器。所述系统还包含配置成使所述第一天线向所述DUT辐射测试信号并实施探测模式和干扰模式之一的电路。所述探测模式针对第...
该专利属于美国电磁兼容测试系统公司所有，仅供学习研究参考，未经过美国电磁兼容测试系统公司授权不得商用。

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