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二维坐标测量系统技术方案

技术编号:17245738 阅读:51 留言:0更新日期:2018-02-11 03:14
本实用新型专利技术提出了一种二维坐标测量系统,包括:光学传感器、第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器、测量计算装置、测量平台;所述光源传感器设置于测量平台上,且所述光源传感器的两侧分别设有第一角度测量器、第二角度测量器,所述第一角度测量器的上安装第一光源发射器,所述第二角度测量器上安装第二光源发射器,所述第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器的控制端都与测量计算装置连接。本实用新型专利技术的二维坐标测量系统的优点为:A、测量速度快,效率高;B、测量精度高;C、由于测量为非接触式,所以不损伤曲面;D、制造成本低,可以大范围推广使用,能够应用现场场合测量。

Two dimensional coordinate measuring system

【技术实现步骤摘要】
二维坐标测量系统
本技术涉及测量
,特别涉及一种二维坐标测量系统。
技术介绍
曲面测量即获取零部件的曲面外形数据一直是测量领域比较重要的研究方向。当前的曲面测量装置一般采用划线仪的形式,或是触头测针沿曲线扫掠的形式,存在效率低,测量精度不高的问题。而且,当前的点接触式曲面测量装置体积大,制造成本高,移动不便,其测量方式采用接触测量方式,很容易破坏曲面的,限制了这类装置在一些现场场合的应用。
技术实现思路
本技术的目的旨在至少解决所述技术缺陷之一。为此,本技术的目的在于提出一种二维坐标测量系统,解决传统的曲面测量装置采用接触测量方式,很容易破坏曲面的问题。为了实现上述目的,本技术提供一种二维坐标测量系统,包括光学传感器、第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器、测量计算装置、测量平台;所述光学传感器、第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器都设置于被测曲面与测量平台之间;所述光源传感器设置于测量平台上,且所述光源传感器的两侧分别设有第一角度测量器、第二角度测量器,所述第一角度测量器的上安装第一光源发射器,所述第二角度测量器上安装第二光源发射器,本文档来自技高网...
二维坐标测量系统

【技术保护点】
一种二维坐标测量系统,其特征在于,包括光学传感器、第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器、测量计算装置、测量平台;所述光学传感器、第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器都设置于被测曲面与测量平台之间;所述光源传感器设置于测量平台上,且所述光源传感器的两侧分别设有第一角度测量器、第二角度测量器,所述第一角度测量器的上安装第一光源发射器,所述第二角度测量器上安装第二光源发射器,所述第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器的控制端都与测量计算装置连接。

【技术特征摘要】
1.一种二维坐标测量系统,其特征在于,包括光学传感器、第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器、测量计算装置、测量平台;所述光学传感器、第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器都设置于被测曲面与测量平台之间;所述光源传感器设置于测量平台上,且所述光源传感器的两侧分别设有第一角度测量器、第二角度测量器,所述第一角度测量器的上安装第一光源发射器,所述第二角度测量器上安装第二光源发射器,所述第一光源发射器、第一角度测量器、第二光源发射器、第二角度测量器的控制端都与测量计算装置连接。2.如权利要求1所述的二维坐标测量系统,其特征在于:所述第一光源发射器与所述光学传感器的距离和所述第二光源发射器与所...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩丙虎
申请(专利权)人:韩丙虎
类型:新型
国别省市:北京,11

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