一种检测装置制造方法及图纸

技术编号:17221467 阅读:53 留言:0更新日期:2018-02-08 09:30
本实用新型专利技术提供了一种检测装置,包括:待测测距装置、配合待测测距装置进行测量的测距目标、与待测测距装置或测距目标相连接的驱动结构,以及分别与所述驱动结构和待测测距装置相连接的控制系统;待测测距装置在每一个与测距目标呈设定间距的检测点位处测出测量距离或测量光强,所述控制系统对每个检测点位接收到的实际距离与测量距离或测量光强的距离进行分析计算以对待测测距装置进行修正补偿。本实用新型专利技术提供了一个完整的测试系统,在结构上具有极大的稳定性,与市场现有的测试小车相比,专业性更高,用户体验更好。整台测试小车的制作成本与市场现有的产品相比非常低廉,同时在可靠性上有着不可替代的优势。

【技术实现步骤摘要】
一种检测装置
本技术涉及雷达检测领域,具体涉及一种检测装置。
技术介绍
光学扫描测距装置是一种使用准直光束,通过飞行时间(TimeofFlight,简称为TOF)等方法进行非接触式扫描测距的设备。目前,通常的光学扫描测距装置包括:光发射模块、光学镜头、接收并处理信号的芯片、电机、轴承及导电滑环。光发射模块发出光束,光学镜头位于光发射模块的光路上,经过准直的光束发射到被测物体表面,遇到障碍物后光束被反射到接收芯片上,接收芯片通过测量发射到接收之间的时间、相位差、已知光速,即可求出被测物体到装置的距离。目前广泛应用于机器人环境扫描、规划路径、避障导航、安防检测等。目前,市场上针对这类光学雷达进行距离测量和校准的检测装置,是由电机、驱动器为控制系统构成的,控制检测装置移动来进行针对距离上面的测试。但是市场现有的检测装置大多整个系统不够完整,控制系统不够智能,结构上多使用金属件来搭建结构,重量大而且稳定性不高。用户使用不便并且制造成本过高。
技术实现思路
为了克服上述现有技术的不足,本技术提供一种检测装置及检测方法,解决了现有的检测装置控制系统集成度低并且结构上不稳定的问题。为了实现上述技术目的,本本文档来自技高网...
一种检测装置

【技术保护点】
一种检测装置,其特征在于,包括:待测测距装置、配合待测测距装置进行测量的测距目标、与待测测距装置或测距目标相连接的驱动结构、以及分别与所述驱动结构和待测测距装置相连接的控制系统;所述待测测距装置在每一个与测距目标呈设定间距的检测点位处测出测量距离或测量光强,所述控制系统对每个检测点位接收到的实际距离与测量距离或测量光强进行分析计算以对待测测距装置进行修正补偿。

【技术特征摘要】
1.一种检测装置,其特征在于,包括:待测测距装置、配合待测测距装置进行测量的测距目标、与待测测距装置或测距目标相连接的驱动结构、以及分别与所述驱动结构和待测测距装置相连接的控制系统;所述待测测距装置在每一个与测距目标呈设定间距的检测点位处测出测量距离或测量光强,所述控制系统对每个检测点位接收到的实际距离与测量距离或测量光强进行分析计算以对待测测距装置进行修正补偿。2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,所述控制系统包括中控电路和与中控电路相连接的上位机,所述中控电路连接驱动结构,所述上位机连接待测测距装置。3.根据权利要求2所述的检测装置,其特征在于,所述中控电路上还连接有实时显示中控电路的操作故障的显示屏。4.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在于,还包括导向结构,所述导向结构为导向轴组件或导轨导向组件;所述导轨导向组件包括与设定测试路径平行或重合的导轨和导向件:所述导向件为与导轨的纵向脊相配合的纵向槽,所述纵向槽设置在与驱动结构相连接的待测测距装置或测距目标上;或者,所述导向件为与导轨的纵向槽相配合的纵向脊,所述纵向脊设置在与驱动结构相连接的待测测距装置或测距目标上;或者,所述导向件为抵接在导轨外侧或导轨内侧的导向轮,所述导向轮设置在与驱动结构相连接的待测测距装置上或测距目标上。5.根据权利要求4所述的检测装置,其特征在于,所述导向轮包括与导轨相垂直的固定轴和可转动的套设在固定轴上的转动轮,所述转动轮抵接在导轨外侧或内侧。6.根据权利要求2...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋佳卢锁疏达李远
申请(专利权)人:北醒北京光子科技有限公司
类型:新型
国别省市:北京,11

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