检测装置及显示装置制造方法及图纸

目的在于提供抑制保护层的气泡的检测装置及显示装置。检测装置具备：基板；检测电极，设置在与基板平行的面上，具有多个导电性细线，多个导电性细线配置成网状；连接配线，在检测电极的端部连接多个导电性细线；以及绝缘材料的保护层，覆盖检测电极和连接配线。与整个检测电极相比，在与连接配线相连的端部区域内，导电性细线占每单位面积的表面密度变小。

Detection device and display device

A test device and a display device for providing a bubble to suppress a protective layer. The detection device includes: a substrate; detection electrodes arranged in parallel with the substrate surface, having a plurality of conductive wires, a plurality of conductive wires configured to mesh wires; in the end, the detection electrode is connected with a plurality of conductive wires; and a protective layer of insulating material, cover the detection electrodes and wires. Compared with the entire detection electrode, the conductive thin wire occupies a smaller surface density per unit area in the end region connected with the connecting wiring.

【技术实现步骤摘要】
检测装置及显示装置
本专利技术涉及能够检测静电电容的变化的检测装置，尤其是涉及能够基于静电电容的变化来检测外部接近物体的检测装置及显示装置。
技术介绍
近年来，被称作所谓的触摸面板的、能够检测外部接近物体的检测装置受到关注。触摸面板用于安装在液晶显示装置等的显示装置上或与液晶显示装置等的显示装置一体化的带触摸检测功能的显示装置。而且，带触摸检测功能的显示装置通过在显示装置上显示各种按钮图像等，能够用触摸面板代替普通的机械式按钮来进行信息输入。由于具有这样的触摸面板的带触摸检测功能的显示装置不需要像键盘、鼠标、小键盘那样的输入装置，因此除计算机外，在如便携式电话那样的便携式信息终端等中也处于使用扩大的趋势。作为触摸检测装置的方式，存在光学式、电阻式、静电电容式等若干方式。静电电容式的触摸检测装置在便携式终端等中具有较简单的结构，且能实现低功耗。进而，在能够检测外部接近物体的检测装置中，为了实现薄型化、大屏幕化或高精细化，要求检测电极实现低电阻化。检测电极使用ITO(IndiumTinOxide：氧化铟锡)等透光性导电氧化物作为透光性电极的材料。为了得到低电阻的检测电极，使用金属材料等导电性材料是有效的。但是，如果使用金属材料等导电性材料，则可能腐蚀检测电极。在专利文献1中记载了用保护层覆盖检测电极的检测装置。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2015-176573号公报
技术实现思路
专利技术要解决的技术问题如果检测电极是网状图案，则检测电极成为低电阻。然而，如果检测电极连接于朝与网状图案的延伸方向不同的方向延伸的连接配线，则连接配线会阻挡保护层扩展，导致保护层未填充在检测电极所在的区域内而产生气泡，存在平面内的光不均、可靠性劣化的可能性。本专利技术鉴于上述问题点而提出，其目的在于提供抑制保护层的气泡的检测装置及显示装置。用于解决技术问题的方案根据第一方面，检测装置具备：基板；检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，并具有多个导电性细线和多个电连接部，多个电连接部配置于多个所述导电性细线彼此交叉或弯曲、彼此连接的位置，多个导电性细线配置成网状；连接配线，在所述检测电极的端部连接多个导电性细线和检测部；以及绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，与所述检测电极的整个区域相比，在从最靠近所述连接配线的电连接部到连接配线的端部区域内，导电性细线的面积占每单位面积的表面密度变小。根据第二方面，检测装置具备：基板；检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，具有多个导电性细线，多个导电性细线配置成网状；连接配线，连接于所述多个导电性细线；以及绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，由所述连接配线和所述导电性细线包围的面积大于所述检测电极的一个网眼所包围的面积。附图说明图1是表示实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一构成例的框图。图2是为了说明静电电容式触摸检测方式的基本原理而表示出手指未接触或接近的状态的说明图。图3是示出图2所示的手指未接触或接近的状态的等效电路的实例的说明图。图4是为了说明静电电容式触摸检测方式的基本原理而表示出手指接触或接近的状态的说明图。图5是示出图4所示的手指接触或接近的状态的等效电路的实例的说明图。图6是表示驱动信号及检测信号的波形的一例的图。图7是示出安装了带触摸检测功能的显示装置的模块的一例的图。图8是示出安装了带触摸检测功能的显示装置的模块的一例的图。图9是示出实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置的简要截面结构的截面图。图10是表示实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置中的像素配置的电路图。图11是实施方式1所涉及的检测电极的平面图。图12是用于说明实施方式1所涉及的检测装置的制造方法中的保护层的涂覆工序的工序图。图13是保护层的顶视图。图14是用于说明在比较例所涉及的检测电极的端部连接多个导电性细线的连接配线的示意图。图15是实施方式1的变形例1所涉及的检测电极的平面图。图16是实施方式1的变形例2所涉及的检测电极的平面图。图17是实施方式1的变形例3所涉及的检测电极的平面图。图18是示意性示出实施方式2所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一例的平面图。图19是对实施方式2所涉及的检测电极进行局部放大而示意性示出的平面图。图20是表示实施方式2所涉及的带触摸检测功能的显示装置的简要截面结构的截面图。图21是为了说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理而表示出手指未接触或接近的状态的说明图。图22是为了说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理而表示出手指接触或接近的状态的说明图。图23是表示驱动信号及检测信号的波形的一例的图。图24是示意性示出实施方式3所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一例的平面图。图25是将实施方式3所涉及的检测电极放大而示意性示出的平面图。图26是沿图25的B-B线截取后从箭头方向观察时的示意性截面图。图27是表示实施方式3所涉及的检测装置的简要截面结构的截面图。附图标记说明1、1B、1C带触摸检测功能的显示装置2像素基板3对向基板6液晶层10带触摸检测功能的显示部10a显示区域10b框缘区域11控制部12栅极驱动器13源极驱动器14驱动电极驱动器20显示装置21TFT基板22像素电极30检测装置31基板32滤色片33a导电性细线33s狭缝33x电连接部37、37A、37B配线38保护层40触摸检测部(检测部)42检测信号放大部43A/D转换部44信号处理部45坐标提取部46检测定时控制部52桥接部COML、COMLB驱动电极GCL扫描信号线Pix像素SGL像素信号线SPix子像素TA、TA11、TA12、TA21、TA22、TC、TC1、TC2、TD、TD1、TD2、TD3小电极部TDL、TDLA、TDLB检测电极TrTFT元件Vcom、Vx驱动信号Vdet、Vdet1、Vdet2检测信号Vdisp映像信号Vpix像素信号Vscan扫描信号具体实施方式下面，参照附图，对用于实施专利技术的方式(实施方式)进行详细说明。以下实施方式中所记载的内容并不构成对本专利技术的限定。另外，在以下所记载的构成部分中包括本领域技术人员能够容易设想的、即实质上相同的部分。进而，以下所记载的构成部分能够适当组合。需要说明的是，本公开仅为一例，本领域技术人员容易想到的关于保持专利技术的宗旨的适当变更当然包含于本专利技术的范围内。另外，为了使说明更清楚，附图与实际的方式相比，存在示意性表示各部分的宽度、厚度、形状等的情况，但仅为一例，并不限定本专利技术的解释。另外，在本说明书和各附图中，关于出现过的附图，对与之前说明过的内容相同的部分标注相同的附图标记，并适当省略详细说明。(实施方式1)图1是示出实施方式1所涉及的带触摸检测功能的显示装置的一构成例的框图。带触摸检测功能的显示装置1具备带触摸检测功能的显示部10、控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14及触摸检测部(简称为“检测部”)40。带触摸检测功能的显示部10是将使用液晶显示元件作为显示元件的显示装置20和静电电容式的检测装置30一体化而得的装置。需要说明的是，带触摸检测功能的显示部10也可以是在使用液晶显示元件作为显示元件的显示装置20上安装静电电容式的检测装置30而得的装置。此外，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置，具备：基板；检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，并具有多个导电性细线和多个电连接部，所述多个电连接部配置于多个所述导电性细线彼此交叉或弯曲、彼此连接的位置，多个导电性细线配置成网状；连接配线，用于在所述检测电极的端部连接多个导电性细线和检测部；以及绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，与所述检测电极的整个区域相比，在从最靠近所述连接配线的电连接部到连接配线的端部区域内，导电性细线的面积占每单位面积的表面密度变小。

【技术特征摘要】
2015.11.25 JP 2015-2300681.一种检测装置，具备：基板；检测电极，设置在与所述基板的表面平行的面上，并具有多个导电性细线和多个电连接部，所述多个电连接部配置于多个所述导电性细线彼此交叉或弯曲、彼此连接的位置，多个导电性细线配置成网状；连接配线，用于在所述检测电极的端部连接多个导电性细线和检测部；以及绝缘材料的保护层，覆盖所述检测电极和所述连接配线，与所述检测电极的整个区域相比，在从最靠近所述连接配线的电连接部到连接配线的端部区域内，导电性细线的面积占每单位面积的表面密度变小。2.根据权利要求1所述的检测装置，由所述连接配线和所述导电性细线包围的面积大于将根据所述保护层的边缘的凹凸推测的推测半径的平方和圆周率相乘而得的面积。3.根据权利要求1所述的检测装置，所述检测电极的一个网眼所包围的区域的形状为平行四边形。4.根据权利要求1所述的检测装置，所述检测电极的一个网眼所包围的区域的形状为多边形。5.根据权利要求1所述的检测装置，所述检测电极的一个网眼所包围的区域的形状为圆形。6.根据权利要求5所述的检测装置，所述检测装置具有狭缝，所述狭缝连接多个所述圆形彼此包围的区域和所述圆形内的区域。7.根据权利要求1所述的检测装置，在多个所述导电性细线彼此之间，与所述导电性细线隔开的、不发挥所述检测电极的作用的伪电极设置在与所述基板的表面平行的、和所述导电性细线相同层的面上。8.根据权利要求1所述的检测装置，所述检测电极包括至少一个第一导电性细线和至少一个第二导电性细线，所述第一导电性细线沿第一方向延伸，所述第二导电性细线连接于所述第一导电性细线，并与所述第一方向形成角度。9.根据权利要求1所述的检测装置，具有多个所述导电性细线的多个小电极部配置成岛状，所述检测装置具备导电性的桥接部，所述桥接部层叠在与所述小电极部不同的层上，分别连接于相邻的所述小电极部，...

【专利技术属性】
技术研发人员：石崎刚司，寺本雅博，佐藤裕治，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：日本,JP