简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，包括单片机MCU、接口选择电路、交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1‑T10、晶振电路、LCD接口和供电电路。所述的单片机MCU通过IO管脚与接口选择电路相连接，并通过接口选择电路分别连接交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1‑T10，由单片机MCU通过接口选择电路控制交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1‑T10中哪一个接口与单片机MCU的IO管脚相连通，轮流监测各接口的输入。采用单片机技术对交叉矩阵式电阻触摸按键的按键输入状态进行检测并计数，利用接口选择电路对单片机的IO口进行扩展，通过接口选择控制能够同时连续检测多个交叉矩阵式电阻触摸按键。

【技术实现步骤摘要】
简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置
本技术涉及触摸按键测试
，特别涉及一种简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置。
技术介绍
随着LCD类和TFT类显示模组的广泛应用，与之配套做为输入设备的交叉矩阵式电阻触摸按键类产品的应用范围也在不断扩大。在此类产品出厂前，就需要对“产品是否有误动作”、“不同温度下的误动作次数”等性能进行完整的检测。另外，由于需要出厂检测的产品数量大，如果测试装置只能对单个产品进行检测，则检测效率很低，不适应大批量生产的产品检测需要。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中所述问题，本技术提供一种简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，采用单片机技术对交叉矩阵式电阻触摸按键的按键输入状态进行检测并计数，利用接口选择电路对单片机的IO口进行扩展，通过接口选择控制能够同时连续检测多个交叉矩阵式电阻触摸按键。为了达到上述目的，本技术采用以下技术方案实现：简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，包括单片机MCU、接口选择电路、交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10、晶振电路、LCD接口和供电电路。所述的单片机MCU通过IO管脚与接口选择电路相连接，并通过接口选择电路分别连接交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10，由单片机MCU通过接口选择电路控制交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10中哪一个接口与单片机MCU的IO管脚相连通，轮流监测各接口的输入。所述的交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10与所要测试的1-10号交叉矩阵式电阻触摸按键的接线端子相连接，测试时，当1-10号交叉矩阵式电阻触摸按键中，有按键被按下时，单片机MCU接收到按键信号并进行计数。所述的单片机MCU还连接有LCD接口，并通过LCD接口连接TFT-LCD显示屏，通过TFT-LCD显示屏监测测试结果。所述的接口选择电路包括单片机接口扩展芯片和与之连接的多个三极管开关电路，由接口扩展芯片控制多个三极管开关电路的导通与关断，从而控制交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10中哪一个接口与单片机MCU的IO管脚相连通。所述的供电电路连接USB供电接口，通过USB接口为测试装置的电路板中的单片机MCU、接口选择电路和LCD接口提供直流电源。与现有技术相比，本技术的有益效果是：1、本技术提供了一种简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，能够对交叉矩阵式电阻触摸按键进行计数测试，对产品是否有误动作”、“不同温度下的误动作次数”等性能进行完整的检测。2、本技术的一种简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，能够同时对多个交叉矩阵式电阻触摸按键进行轮流测试，节省了测试时间，提高了产品出厂检测的效率。3、本技术的一种简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置采用单片机芯片电路，适用于不同的环境温度，可在不同温度环境下工作，以检测交叉矩阵式电阻触摸按键的适应环境的能力。附图说明图1为本技术的简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置电路结构示意图；图2为本技术的简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置电路板结构示意图；图3为本技术的具体实施例的交叉矩阵式电阻触摸按键电路结构示意图。具体实施方式以下结合附图对本技术提供的具体实施方式进行详细说明。如图1、2所示，简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，包括单片机MCUU1、接口选择电路U2、交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10、晶振电路、LCD接口J1和供电电路。所述的单片机MCUU1通过IO管脚与接口选择电路U2相连接，并通过接口选择电路U2分别连接交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10，由单片机MCUU1通过接口选择电路U2控制交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10中哪一个接口与单片机MCUU1的IO管脚相连通，由单片机MCUU1轮流监测各接口的输入。所述的交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10与所要测试的1-10号交叉矩阵式电阻触摸按键的接线端子相连接，测试时，当1-10号交叉矩阵式电阻触摸按键中，有按键被按下时，单片机MCUU1接收到按键信号并进行计数。所述的单片机MCUU1还连接有LCD接口，并通过LCD接口连接TFT-LCD显示屏，通过TFT-LCD显示屏监测测试结果。所述的接口选择电路包括单片机接口扩展芯片和与之连接的多个三极管开关电路，由接口扩展芯片控制多个三极管开关电路的导通与关断，从而控制交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10中哪一个接口与单片机MCUU1的IO管脚相连通。所述的供电电路连接USB供电接口J0，通过USB接口J0为测试装置的电路板中的单片机MCUU1、接口选择电路U2和LCD接口J1提供直流电源。所述的单片机MCUU1优选STM32或MSP430系列单片机。所述的接口选择电路的单片机接口扩展芯片优选74HC138芯片。所述的单片机还连接有晶振电路，所述的晶振电路为常规单片机的晶振电路，为单片机提供时钟频率。所述的单片机MCUU1还连接有程序烧写接口J2，方便单片机编程人员下载程序使用。所述的供电电路将外部输入电源按标准转换后，为整个检测系统提供能量。所述的交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10部分用于将多个被测的产品接入系统；LCD显示系统用来将检测结果显示出来。如图3所示，为本实施例提供的一种交叉矩阵式电阻触摸按键电路结构图，其外部端子PAD1-PAD8与本技术装置的交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10中的8个接线点(图2)相连接。当矩阵中有任意一个按键按下时，单片机MCU即对检测到的按键进行计数，并在LCD屏上进行显示。MCU控制系统实时监测各输入接口的按键状态，每发现一个按键按下，就用对应的存储器计数，并在LCD显示系统的对应位置更新显示结果。本技术具体是这样实现的：1)、系统加电后，延迟一定时间，等电源、各转换电路等都达到稳定后，MCU开始工作。MCU控制系统先进行LCD显示系统初始化设置，并显示各按键初始按键次数“0”。2)、之后系统开始依次检测各个接口处是否有按键输入，如果有，就在对应的存储器进行计数，并将对应结果显示在LCD显示系统的数字指示部分。本专利技术的MCU控制系统执行速度相当快，虽然程序中是轮流监测各输入，但相互之间的间隔时间相当短，为ms级。以上实施例在以本技术技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本技术的保护范围不限于上述的实施例。上述实施例中所用方法如无特别说明均为常规方法。本文档来自技高网...

【技术保护点】
简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，其特征在于，包括单片机MCU、接口选择电路、交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1‑T10、晶振电路、LCD接口和供电电路；所述的单片机MCU通过IO管脚与接口选择电路相连接，并通过接口选择电路分别连接交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1‑T10，由单片机MCU通过接口选择电路控制交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1‑T10中哪一个接口与单片机MCU的IO管脚相连通，轮流监测各接口的输入；所述的交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1‑T10与所要测试的1‑10号交叉矩阵式电阻触摸按键的接线端子相连接，测试时，当1‑10号交叉矩阵式电阻触摸按键中，有按键被按下时，单片机MCU接收到按键信号并进行计数。

【技术特征摘要】
1.简易交叉矩阵式电阻触摸按键测试装置，其特征在于，包括单片机MCU、接口选择电路、交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10、晶振电路、LCD接口和供电电路；所述的单片机MCU通过IO管脚与接口选择电路相连接，并通过接口选择电路分别连接交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10，由单片机MCU通过接口选择电路控制交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10中哪一个接口与单片机MCU的IO管脚相连通，轮流监测各接口的输入；所述的交叉矩阵式电阻触摸按键输入接口T1-T10与所要测试的1-10号交叉矩阵式电阻触摸按键的接线端子相连接，测试时，当1-10号交叉矩阵式电阻触摸按键中，有按键被按下时，单片机MCU接收到按键信号并进行计数。2.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：邢树华，
申请(专利权)人：亚世光电股份有限公司，
类型：新型
国别省市：辽宁,21