多目同轴结构光3D检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种多目同轴结构光3D检测装置，包括机架，所述机架下方设置有一环形检测架，所述环形检测架内圈布设有射向环形检测架下方的被测物体的射灯，所述环形检测架上方还悬设有一固定在机架上的中架，所述中架上设置有能投射到被测物体上的DLP，所述机架上方设置有一向垂直指向被测物体的主摄像头，所述机架上还设置有至少二从相对侧面斜指向被测物体的侧摄像头。本实用新型专利技术具有能对引脚翘曲及悬浮高度进行有效检测并能提升产品的检测合格率的优点。

【技术实现步骤摘要】
多目同轴结构光3D检测装置
本技术涉及焊接检测装置，尤其是涉及一种能对引脚翘曲及悬浮高度进行有效检测并能提升产品的检测合格率的多目同轴结构光3D检测装置。
技术介绍
AOI(AutomaticOpticInspection)的全称是自动光学检测，是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的设备。现有AOI设备大多采用2D检测，在实际检测中容易出现误码检与漏检的状况，特别是引脚翘曲及悬浮高度不能检测出来。
技术实现思路
为解决上述问题，本技术的目的在于提供一种能对引脚翘曲及悬浮高度进行有效检测并能提升产品的检测合格率的多目同轴结构光3D检测装置。本技术通过以下技术措施实现的，一种多目同轴结构光3D检测装置，包括机架，所述机架下方设置有一环形检测架，所述环形检测架内圈布设有射向环形检测架下方的被测物体的射灯，所述环形检测架上方还悬设有一固定在机架上的中架，所述中架上设置有能投射到被测物体上的DLP，所述机架上方设置有一向垂直指向被测物体的主摄像头，所述机架上还设置有至少二从相对侧面斜指向被测物体的侧摄像头。作为一种优选方式，所述DLP射向被测物体的投影为珊格阴影。作为一种优选方式，所述中架内设置有将DLP投影从上方向下投射到被测物体上的折射镜。作为一种优选方式，所述主摄像头和侧摄像头都为CCD摄像头。作为一种优选方式，所述被测物体为PCB板。本技术首先利用DLP1(“DigitalLightProcessing”的缩写，即为数字光处理，也就是说这种技术要先把影像信号经过数字处理，然后再把光投影出来)对被测物体进行光投影，再利用一个主摄像头和至少二个侧摄像头从上方和侧面进行3D成像，从而能降低误检漏检的状况，并能对引脚翘曲及悬浮高度等二维检测不能检测到项目进行有效检测，从而能提升产品的检测合格率。附图说明图1为本技术实施例的结构示意图。具体实施方式下面结合实施例并对照附图对本技术作进一步详细说明。一种多目同轴结构光3D检测装置，请参照图1，包括机架3，所述机架3下方设置有一环形检测架5，所述环形检测架5内圈布设有射向环形检测架5下方的被测物体的射灯6，所述环形检测架5上方还悬设有一固定在机架3上的中架7，所述中架7上设置有能投射到被测物体上的DLP1，所述机架3上方设置有一向垂直指向被测物体的主摄像头4，所述机架3上还设置有从相对侧面斜指向被测物体的二侧摄像头2。本装置首先利用DLP1(“DigitalLightProcessing”的缩写，即为数字光处理，也就是说这种技术要先把影像信号经过数字处理，然后再把光投影出来)对被测物体进行光投影，再利用一个主摄像头和二个侧摄像头从上方和侧面进行3D成像，从而能降低误检漏检的状况，并能对引脚翘曲及悬浮高度等二维检测不能检测到项目进行有效检测，从而能提升产品的检测合格率。环形检测架5上的射灯6提供光源支持。在一实施例的多目同轴结构光3D检测装置，请参照图1，在前面技术方案的基础上具体还可以是，DLP1射向被测物体的投影为珊格阴影。现在的2维AOI检测机存在误检漏检状况较多，且对引脚翘曲及悬浮高度不能检测出来；利用DLP1发射珊格阴影射到被测PCB板上，之后利用一个主摄像头和二个侧摄像头进行影像采集之后再通过软件运算形成3D检测效果。在一实施例的多目同轴结构光3D检测装置，请参照图1，在前面技术方案的基础上具体还可以是，中架2内设置有将DLP1投影从上方向下投射到被测物体上的折射镜。在一实施例的多目同轴结构光3D检测装置，请参照图1，在前面技术方案的基础上具体还可以是，主摄像头4和侧摄像头2都为CCD摄像头。在一实施例的多目同轴结构光3D检测装置，在前面技术方案的基础上具体还可以是，在被测物体为PCB板。以上是对本技术多目同轴结构光3D检测装置进行了阐述，用于帮助理解本技术，但本技术的实施方式并不受上述实施例的限制，任何未背离本技术原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本技术的保护范围的内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多目同轴结构光3D检测装置，其特征在于：包括机架，所述机架下方设置有一环形检测架，所述环形检测架内圈布设有射向环形检测架下方的被测物体的射灯，所述环形检测架上方还悬设有一固定在机架上的中架，所述中架上设置有能投射到被测物体上的DLP，所述机架上方设置有一向垂直指向被测物体的主摄像头，所述机架上还设置有至少二从相对侧面斜指向被测物体的侧摄像头。

【技术特征摘要】
1.一种多目同轴结构光3D检测装置，其特征在于：包括机架，所述机架下方设置有一环形检测架，所述环形检测架内圈布设有射向环形检测架下方的被测物体的射灯，所述环形检测架上方还悬设有一固定在机架上的中架，所述中架上设置有能投射到被测物体上的DLP，所述机架上方设置有一向垂直指向被测物体的主摄像头，所述机架上还设置有至少二从相对侧面斜指向被测物体的侧摄像头。2.根据权利要求1所述的多目同轴结构...

【专利技术属性】
技术研发人员：王占良，张明，
申请(专利权)人：深圳盟星科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44