显示面板测试方法和系统技术方案

本发明专利技术提出一种显示面板测试方法和系统，其中，方法包括：通过第一导电部件短接引线区的多个引线，并向多个引线加载第一测试信号，进而第二导电部件中的每一个探针与多个引线中的一个引线电性连接，并向电性连接的引线加载第二测试信号，由测量设备根据加载所述第一测试信号时所述显示面板的第一显示图像，以较为准确地识别出显示面板的目标不良区域，并根据向所述目标不良区域加载所述第二测试信号的探针，确定所述目标不良区域的坐标，从而能够在提高不良区域检测准确度的同时，能够获得不良区域的具体位置。

Display panel test method and system

The invention provides a display panel testing method and system, wherein, a plurality of lead methods: through the first conductive member short fuse region, and a plurality of leads to load the first test signal, and then the second conductive parts of each probe and a plurality of leads in a wire and electrical connection. To connect the electrical leads second loading test signal by measuring equipment according to the first display image of the loading of the first test signal when the display panel, to accurately identify the target side display panel area, and according to the probe to the target area of the second side loading test signal, coordinate the target side area, in order to improve the accuracy of detection of adverse area at the same time, to obtain the specific location of the defective region.

【技术实现步骤摘要】
显示面板测试方法和系统
本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及一种显示面板测试方法和系统。
技术介绍
在完成切割(Cutting)、对合等工艺之后需要对液晶显示面板进行测试(CellTest)确定是否存在不良，进而才能进入模组(Module)工艺流程。现有技术中，一般CellTest采用两种方式。其中，一种方式是短接方式，需要设置如图1所示的短接条(ShortingBar)，从而短接引线区的引线，但这种方式，一方面无法确定出不良的具体位置，另一方面，需要在测试之后进行额外的切削(Trimming)以去除掉图1中的ShortingBar，工艺较为复杂。另一种方式是全接触方式(FullContact)方式，但这种方式容易由于探针与引线之间的位置偏差导致出现假不良，检测准确度较低。可见，现有技术中的两种检测方式，均存在缺陷，导致现有技术中的显示面板测试效果不佳，检测效率较低。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种显示面板测试系统，以在提高不良区域检测准确度的同时，获得不良区域的具体位置，而且能够避免额外的工艺步骤，提高显示面板的检本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板测试系统，其特征在于，包括：第一导电部件、第二导电部件、分别与所述第一导电部件和所述第二导电部件固定连接的传动机构，以及与所述传动机构连接的测量设备；其中，所述第一导电部件，在所述传动机构带动下与显示面板的引线区接触时，短接所述引线区的多个引线，并向所述多个引线加载第一测试信号；所述第二导电部件包括多个探针，所述第二导电部件在所述传动机构带动下与所述显示面板的引线区接触时，所述第二导电部件中的每一个探针与所述多个引线中的一个引线电性连接，并向电性连接的引线加载第二测试信号；所述测量设备，用于根据加载所述第一测试信号时所述显示面板的第一显示图像，确定所述显示面板的目标不良区域；并根据...

【技术特征摘要】
1.一种显示面板测试系统，其特征在于，包括：第一导电部件、第二导电部件、分别与所述第一导电部件和所述第二导电部件固定连接的传动机构，以及与所述传动机构连接的测量设备；其中，所述第一导电部件，在所述传动机构带动下与显示面板的引线区接触时，短接所述引线区的多个引线，并向所述多个引线加载第一测试信号；所述第二导电部件包括多个探针，所述第二导电部件在所述传动机构带动下与所述显示面板的引线区接触时，所述第二导电部件中的每一个探针与所述多个引线中的一个引线电性连接，并向电性连接的引线加载第二测试信号；所述测量设备，用于根据加载所述第一测试信号时所述显示面板的第一显示图像，确定所述显示面板的目标不良区域；并根据向所述目标不良区域加载所述第二测试信号的探针，确定所述目标不良区域的坐标。2.根据权利要求1所述的显示面板测试系统，其特征在于，所述传动机构，用于同步带动所述第一导电部件与所述第二导电部件移动；所述第一导电部件，包括用于与所述引线区接触的第一接触面；所述第二导电部件中的探针，包括用于与所述引线区接触的第二接触面，所述第二接触面凸出于所述第一接触面，使得所述第二接触面与所述引线区接触时，所述第一接触面与所述引线区存在间隙。3.根据权利要求1所述的显示面板测试系统，其特征在于，所述第一导电部件和所述第二导电部件位于所述传动机构的同一表面，且相对设置。4.一种显示面板测试方法，其特征在于，应用于权利要求1-3中任一项所述的显示面板测试系统，包括以下步骤：第一导电部件向显示面板引线区的多个引线加载第一测试信号；测量设备根据加载所述第一测试信号时所述显示面板的第一显示图像，检测所述显示面板的目标不良区域；当检测到所述目标不良区域时，第二导电部件通过探针向对应的引线加载第二测试信号；根据向所述目标不良区域加载所述第二测试信号的探针，所述测量设备确定所述目标不良区域的坐标。5.根据权利要求4所述的显示面板测试方法，其特征在于，所述测量设备根据加载所述第一测试信号时所述显示面板的第一显示图像，检测所述显示面板的目标不良区域，包括：若加载所述第一测试信号时，所述第一显示图像包含未根据第一测试信号进...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹金虎，历伟，于凤武，马明辉，权南仁，曹斌，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11