气体分析器制造技术

本实用新型专利技术涉及一种用于测量测量气体中的两种气体成分的气体分析器，具有：第一发光二极管，其射出具有在第一气体成分的吸收谱线的范围中的第一波长的光；第二发光二极管，其射出具有在第二气体成分的吸收谱线的范围中的第二波长的光；分光器；能由测量气体流过的测量室；测量探测器；基准探测器；和控制和评估装置，其用于交替地驱控发光二极管并且用于评估由测量探测器和基准探测器提供的关于两个气体成分的测量结果的信号。

Gas analyzer

The utility model relates to a gas analyzer, two kinds of gas composition measurement in gas measurement includes: a first light emitting diode, emitting a first gas component having a first wavelength in the absorption spectrum in the range of the light emitting diode; second, the injection has second at the wavelength of second gas absorption line in the range of light; splitter; measurement by measuring the gas flow through the chamber; detector; reference detector; and to assess and control device for alternately driving control LED and signal evaluation on the two gas components of the measurement results from the measuring probe and the reference detector.

【技术实现步骤摘要】
气体分析器
本技术公开了一种用于测量测量气体中的两种气体成分的气体分析器。
技术介绍
从RyoichiHigashi等人的“ANOxandSO2gasanalyzerusingdeep-UVandvioletlight-emittingdiodesforcontinuousemissionsmonitoringsystems”，Proc.SPIE9003，Light-EmittingDiodes:Materials,Devices,andApplicationsforSolidStateLightingXVIII，90031F(2014年2月27日)，已知了用于测量废气中的氮氧化物和二氧化硫的气体分析器，其中包含在废气中的一氧化氮转化为能用气体分析器测量的二氧化氮，从而使由气体分析器测定的二氧化氮的浓度用于度量废气中的氧化氮的浓度。在已知的气体分析器中布置有具有在二氧化硫的吸收范围中大约280nm的发射波长的第一发光二极管和具有在二氧化氮的吸收范围中大约400nm的发射波长的第二发光二极管。其光借助于用于瞄准仪透镜形成平行光束，该光束穿过测量室并且随后聚焦到测量探测器上。借助于瞄准仪本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量测量气体(7)中的两种气体成分的气体分析器，其特征在于，所述气体分析器具有：第一发光二极管(1)，所述第一发光二极管射出具有在第一气体成分的吸收谱线的范围中的第一波长的光；第二发光二极管(2)，所述第二发光二极管射出具有在第二气体成分的吸收谱线的范围中的第二波长的光；分光器(3)；能由所述测量气体(7)流过的测量室(5)；测量探测器(6)；基准探测器(4)；和控制和评估装置(8)，所述控制和评估装置用于交替地驱控所述第一发光二极管(1)和所述第二发光二极管(2)并且用于评估由所述测量探测器(6)和所述基准探测器(4)提供的关于所述第一气体成分和所述第二气体成分的测量结果(9)的信号...

【技术特征摘要】
2017.03.31 DE 202017001743.11.一种用于测量测量气体(7)中的两种气体成分的气体分析器，其特征在于，所述气体分析器具有：第一发光二极管(1)，所述第一发光二极管射出具有在第一气体成分的吸收谱线的范围中的第一波长的光；第二发光二极管(2)，所述第二发光二极管射出具有在第二气体成分的吸收谱线的范围中的第二波长的光；分光器(3)；能由所述测量气体(7)流过的测量室(5)；测量探测器(6)；基准探测器(4)；和控制和评估装置(8)，所述控制和评估装置用于交替地驱控所述第一发光二极管(1)和所述第二发光二极管(2)并且用于评估由所述测量探测器(6)和所述基准探测器(4)提供的关于所述第一气体成分和所述第二气体成分的测量结果(9)的信号，其中，所述分光器(3)在具有底面、顶面和四个侧面的方形的金属块(14)中布置在两个孔(17，18)的交叉范围中，所述孔在分别相对置的所述侧面之间延伸，所述第一发光二极管(1)和所述第二发光二极管(2)在两个相互邻接的侧面上分别对着所述孔(17，18)布置，并且所述测量室(5)和所述基准探测器(4)在所述金属块(14)的两个剩余的相互邻接的侧面上分别对着所述孔布置，所述测量室(5)构造为由金属制成的纵向延伸两侧开放的空心体(21)，所述空心体具有用于所述测量气体(7)的两个在侧面的通道开口，所述测量探测器(6)保持在由金属制成的、包含第一开口(29)的探测器块(28)上，并且方形的所述金属块(14)和所述探测器块(28)经由拉杆(34)相互连接，并且所述测量室(5)在所述金属块和所述探测器块之间夹紧。2.根据权利要求1所述的气体分析器，其特征在于，所述拉杆(34)在形成所述测量室(5)的所述空心体(21)的外壁中的槽(37)中延伸。3.根据权利要求1或2所述的气体分析器，其特征在于，形成所述测量室(5)的所述空心体(21)构造为空心型材体。4.根据权利要求1或2所述的气体分析器，其特征在于，方形的所述金属块(14)在所述金属块的顶面上包含伸入到两个所述孔(17，18)的所述交叉范围中的第二开口(19)，并且所述分光器(3)安装在插入到所述第二开口(19)中的插入物(20)中。5.根据权利要求3所述的气体分析器，其特征在于，方形的所述金属块(14)在所述金属块的顶面上包含伸入到两个所述孔(17，18)的所述交叉范围中的第二开口(19)，并且所述分光器(3)安装在插入到所述第二开口(19)中的插入物(20)中。6.根据权利要求1或2所述的气体分析器，其特征在于，所述第一发光二极管(1)和所述第二发光二极管(2)保持在第一板(10，11)上，所述第一板直接地或在中间放置间隔框(12，13)的状态下安装在方形的所述金属块(14)的相应的所述侧面上。7.根据权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员：卡米尔·黑费斯，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：新型
国别省市：德国,DE