气体分析仪制造技术

提供一种能够以简单的结构来对试样气体所包含的在以往不易分析的一氧化氮气体(NO气体)和二氧化氮气体(NO2气体)这两种成分的气体浓度进行分析或者对一氧化氮气体(NO气体)、二氧化氮气体(NO2气体)及二氧化硫气体(SO2)这三种成分的气体浓度进行分析那样对多成分的气体浓度进行分析的气体分析仪。为如下的气体分析仪：使用气体调整部(41)为氧化输出时的来自透过光接收部(31)和基准光接收部(32)的信号来计算NO2和SO2的气体浓度，使用气体调整部(41)为通常输出时的来自透过光接收部(31)和基准光接收部(32)的信号来计算NO2和SO2的气体浓度，另外，从氧化输出时的NO2的气体浓度减去通常输出时的NO2的气体浓度来计算NO的气体浓度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对试样气体所包含的多种气体的气体浓度进行测量的气体分析仪。
技术介绍
例如在专利文献I中公开了气体分析仪的以往技术。参照图来说明该以往技术。图11是专利文献I所记载的以往技术的吸光分析仪。吸光分析仪300使用紫外线吸收法来测量试样气体所包含的NO2( 二氧化氮)浓度。吸光分析仪300具备紫外线光源301、可见光光源302、参考室(reference cell)303、试样室304、光引导机构305、光检测部306、控制部307以及运算部308。紫外线光源301是发出紫外线的发光二极管。该紫外线的中心发光波长为波长360nm?400nm，如图12的波长-吸光系数特性图所示，包含于NO2的吸光波长带内。当向勵2照射这种紫外线时，NO 2吸光。可见光光源302是发出可见光的发光二极管。该可见光的中心发光波长大于紫外线的波长，因此如图12的波长-吸光系数特性图所示，虽然包含于~02的吸光波长带内，但是与紫外线的中心波长不同。以如下方式设定可见光光源302的波长:当向勵2照射这种可见光时NO2吸光，但是与上述的NO 2对紫外线的吸收相比，NO 2对可见光的吸收小。参本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种气体分析仪，其特征在于，具备：气体调整部，其在氧化输出状态与通常输出状态之间进行切换，在该氧化输出状态下，使试样气体与臭氧气体混合在进行氧化反应之后并进行加热后作为第一测量对象气体而输出，在该通常输出状态下，将上述试样气体以无反应的状态作为第二测量对象气体而输出；NO2气体吸光用发光部，其照射二氧化氮气体即NO2气体会吸收的320nm～600nm的波长的NO2气体吸光用照射光；气体流通室，其具有流通上述第一测量对象气体和上述第二测量对象气体的检测空间以及用于使上述NO2气体吸光用照射光入射到检测空间的光透过窗；透过光接收部，其接收透过上述光透过窗并在气体流通室内传播后的上述NO2气体吸光用...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：东亮一，赤尾幸造，谷口裕，小泉和裕，平山纪友，
申请(专利权)人：富士电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP