一种基于光全散射法的颗粒测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种基于光全散射法的颗粒测量系统，包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机。本实用新型专利技术基于光全散射法原理,通过旋转机构带动分束镜的旋转来实现双光路测量，分别测量射入气溶胶颗粒的入射光和出射光的光强信号，输入计算机中求得气溶胶颗粒系统的粒径分布。该测量系统需测量入射光和出射光信号，操作简便，同时系统中设计的旋转机构有效的减少了分束镜的数量，避免了因为光在分束镜间传输时损失而影响测量数据，测量结果更加精确。

【技术实现步骤摘要】
一种基于光全散射法的颗粒测量系统
本技术涉及一种基于光全散射法的颗粒测量系统。
技术介绍
颗粒存在于人们生活的方方面面，在工业生产中，颗粒的粒径分布和浓度大小产品质量和生产产量有一定的影响；而在人民日常生活中，空气中颗粒分布又会带来各类健康问题，影响到人们的身体健康。因此，对颗粒粒径分布的测量十分重要。测量颗粒粒径分布的方法有多种，有筛分法、沉降法、显微镜法、电感应法等等。这些方法有其适用范围，但是缺点也较明显，例如：精确度过低、耗时较长，操作麻烦，成本高等。在这些方法中，光全散射法是较为简便的一种，它测量范围宽，且测量方法简便。只需测量射入颗粒系统前的入射光和射出后的出射光，再根据相关算法即可求得颗粒系统的粒径分布。
技术实现思路
本技术目的在于:基于光全散射法原理设计一种简便的双光路颗粒测量系统，为光全散射法测量颗粒粒径分布提供一个操作简便、数据准确的实验平台。该系统基于光全散射法原理,利用双光路测量系统，测量射入气溶胶颗粒的入射光和出射光，获得光强信号，输入计算机中求得气溶胶颗粒系统的粒径分布。本技术的技术解决方案是：一种基于光全散射法的颗粒测量系统，所述系统包括LED光源、聚光透镜一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于光全散射法的颗粒测量系统，其特征在于：所述系统包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机；所述LED光源为系统提供不同光强的点光源，所述LED光源发射出的光线通过聚光透镜一、光圈一以及准直透镜，变为系统所需要的平行光线光源，所述平行光线光源照射至分束镜，所述分束镜通过旋转机构控制，能够将光线路线改变为上下两个方向，上下两个方向之间相差180°，通过旋转机构实现切换；光线向上的方向用于测量出射光信号，光线依次通过气溶胶颗粒、聚光透镜二、光圈二以及...

【技术特征摘要】
1.一种基于光全散射法的颗粒测量系统，其特征在于：所述系统包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机；所述LED光源为系统提供不同光强的点光源，所述LED光源发射出的光线通过聚光透镜一、光圈一以及准直透镜，变为系统所需要的平行光线光源，所述平行光线光源照射至分束镜，所述分束镜通过旋转机构控制，能够将光线路线改变为上下两个方向，上下两个方向之间相差180°，通过旋转机构实现切换；光线向上的方向用于测量出射光信号，光线依次通过气溶胶颗粒、聚光透镜二、光圈二以及多元光纤分布板一，光线在气溶胶颗粒中发生散射，从气溶胶颗粒里出射的光线经过聚光透镜二和光圈二后，照射到多元光纤分布板一上，再经过光电倍增和放大管来放大信号，最终将出射光信号传输到电脑中，即为该实验的出射光信号；光线向下的方向用于测量入射光信号，光线依次通过光纤耦合头一、光纤耦合头二以及多元光纤分布板二，所述光纤耦...

【专利技术属性】
技术研发人员：周嵘，赵雪怡，刘演华，
申请(专利权)人：河海大学常州校区，
类型：新型
国别省市：江苏,32