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一种基于光全散射法的颗粒测量系统技术方案
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下载一种基于光全散射法的颗粒测量系统的技术资料
文档序号:17002332
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本实用新型公开了一种基于光全散射法的颗粒测量系统,包括LED光源、聚光透镜一、聚光透镜二、光圈一、光圈二、准直透镜、分束镜、旋转机构、光纤耦合头一、光纤耦合头二、气溶胶颗粒、多元光纤分布板一、多元光纤分布板二、光电倍增管及放大管、计算机。本...
该专利属于河海大学常州校区所有,仅供学习研究参考,未经过河海大学常州校区授权不得商用。
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