卡托气密性的测试治具制造技术

技术编号:16974555 阅读:167 留言:0更新日期:2018-01-07 09:32
本实用新型专利技术提供一种卡托气密性的测试治具,其包括盖板、底座以及连接本体;其中连接本体位于盖板和底座之间,连接本体包括用于与卡托密封连接的通槽,在连接本体对向盖板的一面上设置有圈状的密封件,通槽的一端口位于密封件的内侧;当卡托密封连接在连接本体上时,连接本体、盖板以及密封件内侧壁之间形成用于测试气密性的测试腔,在盖板上设置有用于向测试腔提供气压的吹气孔。本实用新型专利技术的卡托气密性的测试治具通过向测试腔提供一设定的气压,并保持一定的测试时间,从而检测卡托的气密性功能是否合格,提高卡托出产的合格率。

【技术实现步骤摘要】
卡托气密性的测试治具
本技术涉及卡托的检测设备领域,特别涉及一种卡托气密性的测试治具。
技术介绍
现有技术中的移动终端一般都是通过独立的卡托来安装SIM卡(SubscriberIdentificationModule)和存储卡等数据卡,然后再将装载有SIM卡和存储卡的卡托插入到移动终端中,并且现在的很多卡托上都设置有密封件以与移动终端进行密封防水连接,但在现有技术中,设置有密封件的卡托在制造完成后,并不会对其进行气密性测试,或一般仅仅检测密封件与卡托的外形参数,从而间接判断卡托的气密性是否合格,这样就容易出产气密性不合格的产品。故需要提供一种卡托气密性的测试治具来解决上述技术问题。
技术实现思路
本技术提供一种卡托气密性的测试治具,其通过向测试腔提供一设定的气压,并保持一定的测试时间,从而检测卡托的气密性功能是否合格,以解决现有技术中不对卡托进行气密性测试,或通过检测密封件与卡托的外形参数间接判断卡托的气密性是否合格,导致容易出产气密性不合格产品的问题。为解决上述技术问题,本技术的技术方案为:一种卡托气密性的测试治具,用于测试卡托和卡托槽内侧壁之间的连接气密性,所述测试治具包括盖板、底座以及本文档来自技高网...
卡托气密性的测试治具

【技术保护点】
一种卡托气密性的测试治具,用于测试卡托的密封圈和卡托槽内侧壁之间的连接气密性,其特征在于,所述测试治具包括盖板、底座以及连接本体;所述连接本体位于所述盖板和所述底座之间,所述连接本体包括用于与所述卡托密封连接的通槽,在所述连接本体对向所述盖板的一面上设置有圈状的密封件,所述通槽的一端口位于所述密封件的内侧,所述通槽的另一端与外部空气连通;当所述卡托密封连接在所述连接本体上时,所述连接本体、所述盖板以及所述密封件内侧壁之间形成用于测试气密性的测试腔,在所述盖板上设置有用于向所述测试腔提供气压的吹气孔。

【技术特征摘要】
1.一种卡托气密性的测试治具,用于测试卡托的密封圈和卡托槽内侧壁之间的连接气密性,其特征在于,所述测试治具包括盖板、底座以及连接本体;所述连接本体位于所述盖板和所述底座之间,所述连接本体包括用于与所述卡托密封连接的通槽,在所述连接本体对向所述盖板的一面上设置有圈状的密封件,所述通槽的一端口位于所述密封件的内侧,所述通槽的另一端与外部空气连通;当所述卡托密封连接在所述连接本体上时,所述连接本体、所述盖板以及所述密封件内侧壁之间形成用于测试气密性的测试腔,在所述盖板上设置有用于向所述测试腔提供气压的吹气孔。2.根据权利要求1所述的卡托气密性的测试治具,其特征在于,所述卡托的密封圈过盈设置在所述通槽内,过盈干涉量为0.1~0.15mm。3.根据权利要求1所述的卡托气密性的测试治具,其特征在于,在所述连接本体上设置有用于设置所述密封件的设置槽,所述密封件过盈配合在所述设置槽内。4.根据权利要求3所述的卡托气密性的测试治具,其特征在于,在所述密封件的内外两侧设置有凸起部,在所述设置槽的两侧壁上设置有与所...

【专利技术属性】
技术研发人员:雍鹏程
申请(专利权)人:深圳市富创橡塑五金制品有限公司
类型:新型
国别省市:广东,44

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