电阻率测量装置制造方法及图纸

本公开涉及一种电阻率测量装置。该装置包括加热炉、夹紧装置、电阻测量单元和处理单元；夹紧装置，用于从待测样品的两侧夹紧待测样品，以使待测样品固定于加热炉内；电阻测量单元，包括双单电桥测量电路、双臂电桥测量电路和开关，待测样品分别接入双单电桥测量电路和双臂电桥测量电路；开关具有第一工作位和第二工作位，当其位于第一工作位时，利用双单电桥测量电路获取待测样品的阻值，当其位于第二工作位时，利用双臂电桥测量电路获取待测样品的阻值；处理单元用于根据待测样品的阻值以及待测样品与夹紧装置之间的接触面积、待测样品的长度来确定待测样品的电阻率。由此，可以快速、准确地获知待测样品的电阻率，且容易操作。

【技术实现步骤摘要】
电阻率测量装置
本公开涉及电子
，具体地，涉及一种电阻率测量装置。
技术介绍
在玻璃生产中，电助熔有高效、污染少及自动化程度高的特点，其所用的电极为二氧化锡电极砖。获知二氧化锡电极砖从室温到至实际工作温度内的电阻率特性，对于玻璃窑炉设计、玻璃熔炼等具有重要的意义。但在不同温度下，二氧化锡电极砖的电阻率会有很大不同，并且温度越高，二氧化锡的电阻率越小。在高温下，尤其是温度到达1400℃以上时，二氧化锡的电阻会率很小(小于1Ω)，并且电阻率越小，测量的精度越难以把握。因此，迫切需要一套可靠的电阻率测量设备来精确测量二氧化锡电极砖等小电阻率材料的电阻率。
技术实现思路
本公开的目的是针对现有技术中由于难以精确测量高温环境下的小电阻率材料的电阻率的问题，提供一种电阻率测量装置。为了实现上述目的，本公开提供一种电阻率测量装置，该装置包括加热炉、夹紧装置、电阻测量单元和处理单元；所述夹紧装置用于从待测样品的两侧夹紧所述待测样品，以使所述待测样品固定于所述加热炉内；所述电阻测量单元包括双单电桥测量电路、双臂电桥测量电路和开关，其中，所述待测样品分别接入所述双单电桥测量电路和所述双臂电桥测量电路；所述开关具有第一工作位和第二工作位，当所述开关位于所述第一工作位时，所述双单电桥测量电路处于工作状态，以利用所述双单电桥测量电路获取所述待测样品的阻值，当所述开关位于所述第二工作位时，所述双臂电桥测量电路处于工作状态，以利用所述双臂电桥测量电路获取所述待测样品的阻值；所述处理单元用于根据所述待测样品的阻值以及所述待测样品与所述夹紧装置之间的接触面积、所述待测样品的长度来确定所述待测样品的电阻率。所述处理单元还用于根据所述待测样品的阻值，控制所述开关的工作位的切换操作。可选地，所述处理单元用于根据所述待测样品的阻值，控制所述开关的工作位的切换操作，包括：所述处理单元用于在利用所述双单电桥测量电路获取到的所述待测样品的阻值满足第一预设条件时，切换所述开关到所述第二工作位，以切换为利用所述双臂电桥测量电路获取所述待测样品的阻值，其中，所述第一预设条件包括：所述阻值大于或等于目标阻值；或者，所述阻值小于所述目标阻值且与所述目标阻值之差小于第一预设差值；用于在利用所述双臂电桥测量电路获取到的所述待测样品的阻值满足第二预设条件时，切换所述开关到所述第一工作位，以切换为利用所述双单电桥测量电路获取所述待测样品的阻值，其中，所述第二预设条件包括：所述阻值小于或等于所述目标阻值；或者，所述阻值大于所述目标阻值且与所述目标阻值之差小于第二预设差值。可选地，所述夹紧装置包括第一顶丝、第二顶丝、第一固定桩、第二固定桩、第一顶杆、第二顶杆、第一弹簧和第二弹簧，其中，所述第一顶丝、所述第一固定桩、所述第一顶杆和所述第一弹簧位于所述加热炉的一侧，所述第二顶丝、所述第二固定桩、所述第二顶杆和所述第二弹簧位于所述加热炉的另一侧，所述第一顶丝和所述第一顶杆的一端之间通过所述第一弹簧连接，所述第二顶丝和所述第二顶杆的一端之间通过所述第二弹簧连接，其中，所述第一固定桩上设置有第一插孔，所述第一顶丝插入到所述第一固定桩的所述第一插孔内，以通过所述第一固定桩固定所述第一顶丝，所述第二固定桩上设置有第二插孔，所述第二顶丝插入到所述第二固定桩的所述第二插孔内，以通过所述第二固定桩固定所述第二顶丝，所述第一顶杆的另一端和所述第二顶杆的另一端贴附有导电片，所述待测样品夹设于两个导电片之间，并通过所述导电片分别接入所述双单电桥测量电路和所述双臂电桥测量电路。可选地，所述导电片为铂金片。可选地，所述装置还包括：防氧化装置，放置于所述加热炉内，所述防氧化装置内充有保护气体，用于防止所述待测样品被氧化。可选地，所述保护气体为氩气。可选地，所述待测样品为二氧化锡电极砖。可选地，所述处理单元还用于根据所述电阻测量单元获取到的所述待测样品的阻值以及所述待测样品与所述夹紧装置的接触面积、所述待测样品的长度来确定所述待测样品的电阻率。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：通过夹紧装将待测样品固定于加热炉内，然后通过双单电桥测量电路或双臂电桥测量电路来获取待测样品的阻值，并根据该阻值以及待测样品与夹紧装置之间的接触面积、待测样品的长度来确定待测样品的电阻率，这样，可以快速、准确地获知待测样品的电阻率，且容易操作。此外，电阻测量单元的结构简单、成本低。本公开的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。附图说明附图是用来提供对本公开的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本公开，但并不构成对本公开的限制。在附图中：图1是根据一示例性实施例示出的一种电阻率测量装置的结构示意图。图2A是根据一示例性实施例示出的一种双单电桥测量电路的示意图。图2B是根据一示例性实施例示出的一种双臂电桥测量电路的示意图。图3是根据另一示例性实施例示出的一种电阻率测量装置的结构示意图。图4是根据另一示例性实施例示出的一种电阻率测量装置的结构示意图。图5A是根据另一示例性实施例示出的一种电阻率测量装置的结构示意图。图5B是根据另一示例性实施例示出的一种电阻率测量装置的结构示意图。图6是根据一示例性实施例示出的一种待测样品的温度与电阻率之间的对应曲线图。图7是根据一示例性实施例示出的一种电阻率测量方法的流程图。附图标记说明1加热炉2夹紧装置3电阻测量单元4处理单元5待测样品6防氧化装置11下底12绝缘片21第一顶丝22第二顶丝23第一固定桩24第二固定桩25第一顶杆26第二顶杆27第一弹簧28第二弹簧29导电片31双单电桥测量电路32双臂电桥测量电路33开关具体实施方式以下结合附图对本公开的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本公开，并不用于限制本公开。图1是根据一示例性实施例示出的一种电阻率测量装置的结构示意图。如图1所示，该电阻率测量装置可以包括加热炉1、夹紧装置2、电阻测量单元3和处理单元4。该夹紧装置2可以用于从待测样品5的两侧夹紧待测样品5，以使该待测样品5固定于加热炉1内。电阻测量单元3可以包括双单电桥测量电路31、双臂电桥测量电路32和开关33。其中，开关33具有第一工作位和第二工作位，当开关33位于第一工作位时，双单电桥测量电路31处于工作状态，此时，可以利用该双单电桥测量电路31获取待测样品5的阻值，当开关33位于第二工作位时，双臂电桥测量电路32处于工作状态，此时可以利用该双臂电桥测量电路32获取待测样品5的阻值。双“单电桥”是指两个“单电桥”或两次“单电桥”，双单电桥测量电路31可以用于测量小电阻材料的阻值，其工作原理如图2A所示。其中，R0为标准电阻，Rx为待测样品的阻值，rx、r0为电阻箱，G为平衡指示仪，A、B为R0的电压接头，C、D为Rx的电压接头，A’、B’、C’、D’分别为A、B、C、D相对应的电流接头，Rf为B、C两电压接头之间的总电阻(其中，包括B、C之间的所有接触电阻和导线电阻)，S为一刀双掷开关，E为30V以下的直流电源。当开关S与X侧接触(即S与Rx的电压接头接触)、且平衡指示仪G达到平衡时，电阻箱r0、rx的数值分别为r0x、rxx，即有当开关S与O侧接触(即S与R0本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电阻率测量装置，其特征在于，包括加热炉(1)、夹紧装置(2)、电阻测量单元(3)和处理单元(4)；所述夹紧装置(2)用于从待测样品(5)的两侧夹紧所述待测样品(5)，以使所述待测样品(5)固定于所述加热炉(1)内；所述电阻测量单元(3)包括双单电桥测量电路(31)、双臂电桥测量电路(32)和开关(33)，其中，所述待测样品(5)分别接入所述双单电桥测量电路(31)和所述双臂电桥测量电路(32)；所述开关(33)具有第一工作位和第二工作位，当所述开关(33)位于所述第一工作位时，所述双单电桥测量电路(31)处于工作状态，以利用所述双单电桥测量电路(31)获取所述待测样品(5)的阻值，当所述开关(33)位于所述第二工作位时，所述双臂电桥测量电路(32)处于工作状态，以利用所述双臂电桥测量电路(32)获取所述待测样品(5)的阻值；所述处理单元(4)用于根据所述待测样品(5)的阻值以及所述待测样品(5)与所述夹紧装置(2)之间的接触面积、所述待测样品(5)的长度来确定所述待测样品(5)的电阻率。

【技术特征摘要】
1.一种电阻率测量装置，其特征在于，包括加热炉(1)、夹紧装置(2)、电阻测量单元(3)和处理单元(4)；所述夹紧装置(2)用于从待测样品(5)的两侧夹紧所述待测样品(5)，以使所述待测样品(5)固定于所述加热炉(1)内；所述电阻测量单元(3)包括双单电桥测量电路(31)、双臂电桥测量电路(32)和开关(33)，其中，所述待测样品(5)分别接入所述双单电桥测量电路(31)和所述双臂电桥测量电路(32)；所述开关(33)具有第一工作位和第二工作位，当所述开关(33)位于所述第一工作位时，所述双单电桥测量电路(31)处于工作状态，以利用所述双单电桥测量电路(31)获取所述待测样品(5)的阻值，当所述开关(33)位于所述第二工作位时，所述双臂电桥测量电路(32)处于工作状态，以利用所述双臂电桥测量电路(32)获取所述待测样品(5)的阻值；所述处理单元(4)用于根据所述待测样品(5)的阻值以及所述待测样品(5)与所述夹紧装置(2)之间的接触面积、所述待测样品(5)的长度来确定所述待测样品(5)的电阻率。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述处理单元(4)还用于根据所述待测样品(5)的阻值，控制所述开关(33)的工作位的切换操作。3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述处理单元(4)用于根据所述待测样品(5)的阻值，控制所述开关(33)的工作位的切换操作，包括：所述处理单元(4)用于在利用所述双单电桥测量电路(31)获取到的所述待测样品(5)的阻值满足第一预设条件时，切换所述开关(33)到所述第二工作位，以切换为利用所述双臂电桥测量电路(32)获取所述待测样品(5)的阻值，其中，所述第一预设条件包括：所述阻值大于或等于目标阻值；或者，所述阻值小于所述目标阻值且与所述目标阻值之差小于第一预设差值；用于在利用所述双臂电桥测量电路(32)获取到的所述待测样品(5)的阻值满足第二预设条件时，切换所述开关(33)到所述第一工作位，以切换为利用所述双单电桥测量电路(31)获取所述待测样品...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志勇，郑权，王丽红，闫冬成，李俊锋，张广涛，
申请(专利权)人：东旭科技集团有限公司，东旭集团有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11