一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置，包括外罩，所述外罩内设有载物台，所述载物台上方设有X射线发生器，所述载物台正前方设有分析晶体，所述分析晶体前设有计数管，所述载物台上沿中心线对称设有样品夹，所述样品夹之间夹有两个样品板，所述样品夹之间的载物台部分镂空，所述载物台镂空部分后设有激光打码器，所述激光打码器连接有路由器，所述计数管连接有光电耦合开关输入端，所述光电耦合开关输出端连接有PIC单片机，所述PIC单片机还连接有WIFI模块，所述WIFI模块连接路由器，所述路由器连接有主机，本实用新型专利技术利用条形码和实验数据一一对应并及时传送到主机，利于数据的大量处理和高效运作。

A device capable of analyzing and counting the EDXRF fluorescence sample data

The utility model discloses a device capable of analyzing and counting of EDXRF fluorescent samples data includes a housing, a stage of the cover, X ray generator is arranged above the stage, the stage in front of a crystal is analyzed, the analysis of crystal is arranged in front of the counter. The stage along the center line of symmetry is provided with a sample clamp, two sample plate is clamped between the sample holder between the sample holder of the carrier part hollow, a laser marking device of the stage after the hollow part, laser marking device connected to a router, the the counter is connected with a photoelectric coupling switch input end of the photoelectric coupling switch output end is connected with a PIC microcontroller, the PIC MCU is also connected with the WIFI module, the WIFI module is connected to the router, the router is connected with the host, the utility The model uses bar code and experimental data to correspond to and transmit to the host in time, which is beneficial to the large amount of processing and efficient operation of the data.

【技术实现步骤摘要】
一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置
本技术涉及能谱分析设备领域，具体为一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置。
技术介绍
X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行样品成分分析和化学态研究的方法，目前用于科学研究或者是检测机构需要对样品进行大量的统计分析，当进行大量的样品分析时，分析的数据和样品难以一一对应，传统的记录方法容易搞混，而且工作效率低，不利于快速高效的进行分析。
技术实现思路
针对以上问题，本技术提供了一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置，利用条形码和实验数据一一对应并及时传送到主机，利于数据的大量处理和高效运作，可以有效解决
技术介绍
中的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置，包括外罩，所述外罩内设有载物台，所述载物台上方设有X射线发生器，所述载物台正前方设有分析晶体，所述分析晶体前设有计数管，所述载物台上沿中心线对称设有样品夹，所述样品夹之间夹有两个样品板，所述样品夹之间本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置，包括外罩(1)，所述外罩(1)内设有载物台(2)，所述载物台(2)上方设有X射线发生器(3)，所述载物台(2)正前方设有分析晶体(4)，所述分析晶体(4)前设有计数管(5)，其特在于，所述载物台(2)上沿中心线对称设有两个样品夹(6)，所述样品夹(6)之间夹有样品板(7)，所述两个样品夹(6)之间的载物台(2)部分镂空，所述载物台(2)镂空部分后设有激光打码器(8)，所述激光打码器(8)连接有路由器(9)，所述计数管(5)连接有光电耦合开关(10)输入端，所述光电耦合开关(10)输出端连接有PIC单片机(11)，所述PIC单片机(11)还连...

【技术特征摘要】
1.一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置，包括外罩(1)，所述外罩(1)内设有载物台(2)，所述载物台(2)上方设有X射线发生器(3)，所述载物台(2)正前方设有分析晶体(4)，所述分析晶体(4)前设有计数管(5)，其特在于，所述载物台(2)上沿中心线对称设有两个样品夹(6)，所述样品夹(6)之间夹有样品板(7)，所述两个样品夹(6)之间的载物台(2)部分镂空，所述载物台(2)镂空部分后设有激光打码器(8)，所述激光打码器(8)连接有路由器(9)，所述计数管(5)连接有光电耦合开关(10)输入端，所述光电耦合开关(10)输出端连接有PIC单片机(11)，所述PIC单片机(11)还连接有WIFI模块(12)，所述WIFI模块(12)连接路由器...

【专利技术属性】
技术研发人员：何剑锋，任印权，汪雪元，游胜玉，何璘琳，
申请(专利权)人：东华理工大学，
类型：新型
国别省市：江西,36