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本实用新型公开了一种能够对EDXRF荧光样品数据进行分析和计数的装置，包括外罩，所述外罩内设有载物台，所述载物台上方设有X射线发生器，所述载物台正前方设有分析晶体，所述分析晶体前设有计数管，所述载物台上沿中心线对称设有样品夹，所述样品夹之间...
该专利属于东华理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过东华理工大学授权不得商用。

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