一种冲击测试仪制造技术

一种冲击测试仪。涉及一种仪器仪表，尤其涉及一种冲击测试仪。提供了一种数值显示稳定精确的冲击测试仪。包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。本发明专利技术中在采用了双峰值保持电路和阈值比较电路后，只有达到峰值的一定比例时，脉冲峰值和脉宽数据才能得到更新，有效地抑制了次波，脉冲峰值和脉宽数据稳定、精确，并且主波的峰值和脉宽能得到自动更新。

An impact tester

An impact tester. It relates to a kind of instrument, especially an impact tester. A numerical display, stable and accurate impact tester is provided. Including pulse suppression circuit and peak suppression circuit, the pulse width and the peak suppression circuit connected suppression circuit, the peak suppression circuit includes a pulse width definition circuit, wave suppression circuit, threshold comparison circuit and peak holding circuit; the pulse circuit is connected with the definition wave suppression circuit, the harmonic suppression circuit, threshold the comparison circuit and peak holding circuit, the peak holding circuit is respectively connected with a voltage meter and digital tube display. In the present invention adopts the Shuangfeng value holding circuit and threshold comparison circuit, only up to a certain percentage of peak value, pulse amplitude and pulse width data to be updated, effectively inhibited the secondary wave, pulse amplitude and pulse width data is stable and accurate, and the main wave peak value and pulse width can be automatically updated.

【技术实现步骤摘要】
一种冲击测试仪
本专利技术涉及一种仪器仪表，尤其涉及一种冲击测试仪。
技术介绍
许多设备在出厂之前需要进行冲击测试，也就是将产品放置在冲击台上进行冲击试验，并记录冲击试验过程中的相关参数，原来的冲击测量仪在测量脉冲的峰值、宽度时，没有采用双峰值保持电路，也没有采用阈值比较电路，不能抑制次波，从而脉冲峰值显示和脉宽显示跳动，不稳定，不精确。国家知识产权局2016-1-27公开一项专利技术专利申请（CN105277305A，定量测量低冲击功的冲击试验装置）公开了包括机架，冲击块体，释放装置和测速系统；所述机架包括导轨，安放试样的支撑卡槽，所述支撑卡槽位于机架正中间；所述冲击块体设置在导轨上并能滑动；所述释放装置包含电磁铁吸盘；所述测速系统为两个对称放置的激光测速仪，高度低于试样支撑卡槽，与冲击块体凹槽平齐。它主要解决了此类仪器脆性材料冲击功不易测，造价高等问题，从而提供了一种廉价的简易、实用试验装置。它采用自由落体冲击，测速仪精确测速计算冲击功，并以数百元的造价优势即可替代造价数万元一台传统的落球或摆锤冲击试验机。并未针对冲击波的显示电路做出改进，在测量过程中仍然存在显示不稳定不精确的问本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种冲击测试仪，包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，其特征在于，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。

【技术特征摘要】
1.一种冲击测试仪，包括脉宽抑制电路和峰值抑制电路，其特征在于，所述脉宽抑制电路与所述峰值抑制电路连接，所述峰值抑制电路包括脉宽定义电路、次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路；所述脉宽定义电路连接次波抑制电路，所述次波抑制电路、阈值比较电路和峰值保持电路顺次连接，所述峰值保持电路分别连接电压表和数码管数字显示器。2.根据权利要求1所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述次脉宽抑制电路包括反向放大器N7A、反向放大器N7B、比较器N8、双D触发器N9B、单稳态触发器N11B；所述反向放大器N7A的引脚二分别连接电阻R28和电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一和引脚二之间设有电阻R29，所述反向放大器N7A的引脚一连接所述反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7A的引脚三接地；所述N7A的引脚一和所述N7B的引脚六之间设有电阻R30，所述反向放大器N7B的引脚六由电阻R32a与峰值保持电路V2P相连，所述反向放大器N7B的引脚五接地，所述反向放大器N7B的引脚七连接反向放大器N7B的引脚六，所述反向放大器N7B的引脚七和反向放大器N7B的引脚六之间设有电阻R31；所述比较器N8的引脚三连接反向放大器N7B的引脚七，所述比较器N8的引脚三和比较器N7B的引脚七之间设有电阻R32b，所述比较器N8的引脚三和比较器N8的引脚六之间设有电阻R33，所述比较器N8的引脚二分别连接电阻R35和电阻R34，所述电阻R35的一端连接比较器N8的引脚二，所述电阻R35的另一端接地，所述比较器R34的一端连接比较器N8的引脚二，所述比较器R34的另一端接正电源；所述比较器N8的引脚六连接双D触发器N9B的引脚十一，所述比较器N8的引脚六和双D触发器N9B的引脚十一之间设有电阻R36，所述触发器N9B的引脚十一和电阻R36之间设有二级管D10，所述二极管D10的阴极接双D触发器N9B的引脚十一，所述二极管D10的阳极接地；所述双D触发器N9B的引脚十二连接双D触发器N9B的引脚十，所述双D触发器的引脚九连接单稳态触发器N11B的引脚十一；所述单稳态触发器N11B的引脚十五和引脚十二分别接地，所述触发器的引脚十五和引脚十四之间设有电容C6，所述触发器N11B的引脚十四连接电阻R39后连接正电源，所述触发器N11B的引脚十三连接正电源，所述触发器N11B的引脚九接数码管数字显示器。3.根据权利要求2所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述脉宽定义电路包括反向放大器N6A和比较器N6B，反向放大器N6A的引脚二上设有电阻R23，反向放大器N6A的引脚二连接反向放大器N6A的引脚一，反向放大器N6A的引脚三接地，反向放大器N6A的引脚二和反向放大器N6A的引脚一之间设有电阻R24，反向放大器N6A的引脚一连接反向放大器N6B的引脚六，反向放大器N6A的引脚一和比较器N6B的引脚六之间设有电阻R25；比较器N6B的引脚六分别连接电阻R27和电阻R26，所述比较器N6B的引脚五接地，电阻R27连接电位器RS2，所述电位器RS2的一端接正电源，所述电位器RS2的另一端接负电源，所述电阻R26接峰值保持电路V2P；输入信号VIN经由电阻R23与所述反向放大器N6A的引脚二相连，峰值保持电路V2P经过电阻R26所述比较器N6B的引脚六相连，这部分电路的输出为VIN-V2P/10；所述比较器N6B的引脚七分别连接双D触发器N9B的引脚十三和单稳态触发器N11A的引脚四。4.根据权利要求3所述的一种冲击测试仪，其特征在于，所述阈值比较电路包括加法器N5A和比较器N5B，加法器N5A的引脚一连接加法器N5A的引脚二，加法器N5A的引脚一和加法器N5A的引脚二之间设有电阻R17，加法器N5A的引脚一连接比较器N5B的引脚五，加法器N5A的引脚一和比较器N5B的引脚五之间设有电阻R18，加法器N5A的引脚二经由电阻R16与峰值保持器电路的V2P相连，加法器N5A的引脚三经由电阻R15与峰值保持电路的V1P相连；比较器N5B的引脚五连接比较器N5B的引脚七，比较器N5B的引脚五和比较器N5B的引脚七之间设有电阻R19，比较器N5B的引脚六分别接电阻R20和电阻R21，所述电阻R21接地，所述电阻R20连接电位器RS1，电位器RS1的一端接正电源，电位器RS1的另一端接负电源；比较器N5B的引脚七接...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜寿余，
申请(专利权)人：扬州昀昇电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32