一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置，属于电子元器件测试装置领域。本实用新型专利技术包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。本实用新型专利技术的有益效果为：适用于少量的电子元器件的测试检验，与自动化控制装置相比，成本大大降低，结构简单，操作便捷。

An artificial test control device for semiconductor testing system

The utility model provides an artificial test and control device for a semiconductor test system, which belongs to the field of the electronic component testing device. The utility model comprises a communication interface, test start module, control module, display module, the control module and the communication interface is connected through a semiconductor test system, the test start module and the output end of the control processing module is connected with the input end of the control processing module, the display module and the output end of the input end connected. The beneficial effect of the utility model is that it is suitable for testing and testing a small number of electronic components. Compared with the automatic control device, the cost is greatly reduced, the structure is simple, and the operation is convenient.

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置
本技术涉及一种测控装置，尤其涉及一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置。
技术介绍
半导体测试系统的测试控制装置都是自动控制，设备体积大，价格较高；对于少量的电子元器件测试检验，使用自动控制装置成本非常高，为此，需要一种简易、成本低廉的人工测试控制装置。
技术实现思路
为解决现有技术中的问题，本技术提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置。本技术包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。本技术作进一步改进，还包括指示模块，所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连。用于指示测试产品结果是合格还是不合格。本技术作进一步改进，所述指示模块包括开关SW3、2个不同颜色的LED灯的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3，所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连，所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地，所述三极管Q2和三极管Q3的发射极分别通过灯组的不同LED灯接电阻R21的一端，所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。本技术作进一步改进，所述控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元，所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连，所述电阻R22另一端接电源，所述晶振单元与微处理器A1的第18引脚和第19引脚相连。本技术作进一步改进，所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3，所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端相连，所述晶振X1的另一端分别与微处理器A1的第19引脚和电容C3一端相连，所述电容C2和电容C3的另一端接地。本技术作进一步改进，所述控制处理模块还包括重置模块，所述重置模块包括重置按键SW1、有极性电容C1和电阻R23，所述重置按键SW1、有极性电容C1并联后，有极性电容C1的正极端接电源，所述有极性电容C1的负极端分别与电阻R23一端和微处理器A1的第9引脚相连，所述电阻R23另一端接地。本技术作进一步改进，所述测试启动模块包括电阻R24、电容C4和启动按钮SW2，所述电容C4和启动按钮SW2并联后一端接地，另一端分别与电阻R24一端和微处理器A1的第5引脚相连，所述电阻R24另一端接电源。本技术作进一步改进，所述显示模块包括显示灯板DY1、开关管Q4、开关管Q5，所述显示灯板DY1包括十位数灯管和个位数灯管，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的十位数灯管的显示，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的个位数灯管的显示。本技术作进一步改进，所述显示灯板DY1的十位数灯管和个位数灯管分别为七段数码管。本技术作进一步改进，所述通讯接口为40500接口芯片U1。与现有技术相比，本技术的有益效果是：适用于少量的电子元器件的测试检验，与自动化控制装置相比，成本大大降低，结构简单，操作便捷。附图说明图1为本技术结构示意图；图2为本技术的电路原理图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术做进一步详细说明。如图1所示，本技术包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。为了明确直观的知道电子元器件检测是合格还是不合格的测试结果，本技术还包括指示模块，所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连，用于指示测试产品结果是合格还是不合格。如图2所示，作为本例的一个实施例，所述指示模块包括开关SW3、由红色LED灯和绿色LED灯组成的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3，所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连，所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地，所述三极管Q2的发射极通过绿色LED灯接电阻R21的一端，所述三极管Q3的发射极通过红色LED灯接电阻R21的一端，所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。开关SW3用来控制整个电路电源的通断，所述红灯亮时，表示测试不合格，绿灯亮时，表示测试合格。本例的控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元，所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连，所述电阻R22另一端接电源，所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3，所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端相连，所述晶振X1的另一端分别与微处理器A1的第19引脚和电容C3一端相连，所述电容C2和电容C3的另一端接地。晶振模块用于向测试系统发送1ms的低电平脉冲信号来控制系统进行测试。此外，本例控制处理模块还包括重置模块，所述重置模块包括重置按键SW1、有极性电容C1和电阻R23，所述重置按键SW1、有极性电容C1并联后，有极性电容C1的正极端通过开关SW3接电源，所述有极性电容C1的负极端分别与电阻R23一端和微处理器A1的第9引脚相连，所述电阻R23另一端接地，与测试启动模块相对应，顾名思义，所述重置模块用于将所述人工测试控制装置显示重置。本例测试启动模块包括电阻R24、电容C4和启动按钮SW2，所述电容C4和启动按钮SW2并联后一端接地，另一端分别与电阻R24一端和微处理器A1的第5引脚相连，所述电阻R24另一端接通过开关SW3接电源。本例显示模块包括显示灯板DY1、开关管Q4、开关管Q5，所述显示灯板DY1包括十位数灯管和个位数灯管，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的十位数灯管的显示，所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的个位数灯管的显示。具体地，所述三极管Q4的基极通过电阻R19与微处理器A1的第22引脚相连，所述三极管Q5的基极通过电阻R19与微处理器A1的第23引脚相连；所述三极管Q4和三极管Q5的发射极通过开关SW3接电源，所述三极管Q4的集电极与显示灯板DY1的十位数灯管输入端相连，所述三极管Q5的集电极与显示灯板DY1的个位数灯管输入端相连。本例显示灯板DY1的十位数灯管和个位数灯管分别为七段数码管，所述十位数七段数码管的g、h、a、f四个引脚单独接一个电阻R9～R12，分别与微处理器A1的第32～34、39引脚相连，所述个位数七段数码管的d、e、b、c四个引脚单独接一个电阻R13～R16，分别与微处理器A1的第35～38引脚相连。所述电阻R1串在微处理器A1的第39引脚和第40引脚之间，所述电阻R2串在微处理器A1的第38引脚和第40引脚之间，以此类推，电阻R3～R8分别接微处理器A1的第37～32引脚和第40引脚之间。本例的通讯接口为40500接口芯片U1，包括50个通讯引脚。本例的工作原理为：本技术使用时，通过通讯接口与测试系统相连接，微处理器A1接收到测试启动模块的信号后，微处理器向测试系统发送1ms的低电平脉冲信号来控制系统进行测试，当微处理器检测到测试系统发送的2ms低电平信号作为测试结束信号，微处理器通过引本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置，其特征在于：包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置，其特征在于：包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块，所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连，所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连，所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。2.根据权利要求1所述的人工测试控制装置，其特征在于：还包括指示模块，所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连。3.根据权利要求2所述的人工测试控制装置，其特征在于：所述指示模块包括开关SW3、2个不同颜色的LED灯的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3，所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连，所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地，所述三极管Q2和三极管Q3的发射极分别通过灯组的不同LED灯接电阻R21的一端，所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。4.根据权利要求1-3任一项所述的人工测试控制装置，其特征在于：所述控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元，所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连，所述电阻R22另一端接电源，所述晶振单元与微处理器A1的第18引脚和第19引脚相连。5.根据权利要求4所述的人工测试控制装置，其特征在于：所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3，所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤优培，郭昭雄，
申请(专利权)人：广州新星微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44