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一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置制造方法及图纸
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下载一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置的技术资料
文档序号:16845888
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本实用新型提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置,属于电子元器件测试装置领域。本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块,所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连,所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输...
该专利属于广州新星微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广州新星微电子有限公司授权不得商用。
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