劣化诊断装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种劣化诊断装置。当在相同元器件中存在个体差异、在元器件间劣化速度存在差异的元器件、或在自身的芯片内不具有EEPROM等非易失性存储器的元器件混在一起时，不存在能恰当地对因历时变化等引起的劣化状态进行诊断的劣化诊断装置，因此，对于低精度或历时老化程度严重、且不具有校正功能的电子元器件(5a)，将用于对其精度、性能劣化进行评价、校正的工作原理(方法)制作入劣化诊断装置(100)，并在产品出货后的产品使用时，使用所制作的劣化判定单元来对劣化状态进行诊断。

Deterioration diagnosis device

The present invention provides a deterioration diagnosis device. When there are individual differences, in the same components in components between deterioration rate differences between the components, or in its chip does not have EEPROM non volatile memory components mixed together, does not exist can appropriately deterioration diagnosis device for diagnosing deterioration caused by the diachronic changes etc. Therefore, for low accuracy or aging severity, duration and do not have the electronic correction function (5a), which will be used on the precision, performance deterioration evaluation and correction principle (method) to make into a deterioration diagnostic device (100), and in product shipments of products after use, determine unit for the diagnosis of deterioration of state deterioration made.

【技术实现步骤摘要】
劣化诊断装置
本专利技术涉及对因电子元器件的历时变化等所导致的特性劣化的状况进行诊断的劣化诊断装置。
技术介绍
电子元器件被使用在各领域的产品中。在工业厂房的设备机器、或搭载于汽车的动力总成(powertrain)用电子元器件等中，要求维持可靠性并可以长时间运作。然而，电气、电子设备因环境应力、电气应力、机械应力等种种应力而发生劣化，因此需要在适当的时期进行预防性维修以及维修管理。对于搭载于汽车的电气、电子设备，符合功能安全标准也变得很重要，在动力总成ECU(ElectronicControlUnit：电子控制单元)中，严格要求搭载电子元器件的特性、精度以及对故障判定基准的应对。在MCU(MicroControlUnit：微控制单元)或昂贵的通用IC中，使用个体差异、历时老化程度较小的昂贵材料，并存在有以下材料：即，为了对特性进行校正，在自身芯片内保有EEPROM(ElectricallyErasableProgrammableRead-OnlyMemory：电可擦可编程只读存储器)等非易失性存储器，从而根据历时变化程度对动作状态进行校正。例如，在引擎控制的领域中，利用行列式或模型来实现致动器控制量与燃烧参数的相关性、以及燃烧参数与引擎输出值的相关性，从而能将合适的致动器作业量导出至目标引擎输出，因此，通过使其具有学习相对于环境条件变化、历时老化的依赖性较高的燃烧参数的致动器控制量运算的功能，从而与关系变化相对应(专利文献1)。该专利文献1所公开的技术中，对于相同控制量多次检测燃烧参数，在平常时采用平均值，在使用过渡时的情况下采用加权，从而实现学习功能。此外，在专利文献2中，相对于在充满空气/燃料混合气体的气缸内的1个或多个连续点火火花释放，对引起混合气体点火的火花进行识别，根据火花释放对保证内燃机进行规定的机械动力供给的时间间隔进行评价，并对燃料喷射器的开阀时刻进行修正，使后续的点火在规定时刻进行，从而使最恰当的点火火花为一次。此外，在专利文献3中，在喷射器的1个周期所对应的燃料喷射量(总燃料喷射量)超过切换喷射量阈值的情况下，基于由废气氧浓度传感器检测出的废气氧浓度对EGR单元进行控制，在所述燃料喷射量为切换喷射量阈值以下的情况下，基于由新鲜气体量传感器检测出的新鲜气体量对上述EGR单元进行控制。此外，在喷射量学习时，预先求出所指令的燃料喷射量与实际喷射出的燃料喷射量之间的差作为学习值，并根据该学习值对切换喷射量阈值映射的各切换喷射量阈值进行校正，从而使其与因喷射器的历时老化等引起的喷射量偏差相对应。此外，在专利文献4中，公开有下述引擎性能诊断系统，该引擎性能诊断系统包括：对与引擎性能有关的物理量进行测量的传感器；在诊断模式下自动地将引擎负载条件以及引擎转速设定为固定、并自动地对与利用传感器检测到的引擎性能有关的物理量进行存储的控制器；以及对与存储于控制器的引擎性能有关的物理量的历时老化程度进行显示的显示器，根据引擎负载条件、引擎转速的不同从而引擎性能也不同，然而控制器每次都自动地将这些实验条件设定为固定，从而能容易地进行高精度的引擎性能诊断。并且，即使因引擎或机械而导致测量数据中存在偏差，也可以针对相同机体的引擎，对从新车开始就利用传感器检测出的与引擎性能有关的物理量的测量数据进行存储、累积，从而能准确地把握引擎性能的历时老化程度，并能准确地判定是否需要进行大修。此外，由于利用显示器对与引擎性能有关的物理量的测量数据的历时老化进行显示，因此在测量出数据的当场就能进行引擎性能诊断。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2011－94588号公报专利文献2：日本专利特开2004-521222号公报专利文献3：日本专利特开2007－192136号公报专利文献4：日本专利特开2003－65098号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题通用的ECU由MCU、通用IC、以及独立电子元器件构成，并整合了ASIC(ApplicationSpecificIntegratedCircuit：专用集成电路)。ECU上的各构成部件中，不仅在相同元器件中存在个体差异，在元器件间的历时老化速度不同的情况也很多，若包含校正单元在内全部使用劣化程度较小的高精度元器件，则成本变高而无法获利。然而，根据劣化的部位、程度不同，有可能对ECU的基本功能造成影响，并有可能显著地对可靠性造成损害。本专利技术的目的在于提供一种即使在相同元器件中存在个体差异或在元器件间劣化速度存在差异的元器件、或在自身的芯片内不具有EEPROM等非易失性存储器的元器件混在一起时，也能恰当地对因历时变化等引起的劣化状态进行诊断的劣化诊断装置。解决技术问题所采用的技术方案本专利技术的劣化诊断装置具有作为对象的独立电子元器件在处于未劣化状态下相对于参照对象的输出信息、以及作为对象的电子元器件在规定的使用时刻下相对于参照对象的劣化状态下的输出信息，接收独立电子元器件相对于参照对象的输出信号，并基于未劣化状态下的输出信息、与劣化状态下的输出信息来对独立电子元器件的劣化状态进行评价诊断。专利技术效果根据本专利技术，通过具备对低精度或劣化较严重的独立电子元器件的劣化状态进行诊断的功能，从而能使用低精度或劣化较严重的独立电子元器件，并能基于劣化状态的诊断来对独立电子元器件的输出进行校正。附图说明图1是示出本专利技术实施方式1的概念的结构图。图2是示出本专利技术的实现步骤的概念图。图3是示出本专利技术的开发工序的步骤的流程图。图4是示出本专利技术的实际评价与校正单元的流程图。图5是本专利技术的实施方式1的结构图。图6是示出电流检测装置例的结构图。图7A是示出条件参照对象表的图。图7B是示出条件参照对象表的图。图7C是示出条件参照对象表的图。图8是示出劣化特性表的图。图9是示出特定条件下的参照对象的理想值与其劣化量的关系图。图10是示出校正算法的示例的图。图11是示出实测值的校正的示例的图。图12A是示出插值参数表的图。图12B是示出插值参数表的图。图13是示出特定条件下的实测值的校正概念的关系图。图14是示出本专利技术实施方式2的流程图。图15是本专利技术实施方式3的结构图。图16是本专利技术实施方式4的结构图。具体实施方式实施方式1以下，作为本专利技术的实施方式1，对将本专利技术适用于通用的ECU的情况进行说明。通用的ECU100如图1所示，由MCU11、通用IC12、第1独立电子元器件13A以及第2独立电子元器件13B构成，ASIC(ApplicationSpecificIntegratedCircuit：专用集成电路)14整合有第2独立电子元器件13B。此处，第1独立电子元器件13A为高精度或历时老化程度较小、并具有校正功能的电子元器件，第2独立电子元器件13B为低精度或历时老化较大、且不具有校正功能的电子元器件。此外，在图中，同一标号表示各相同或相当部分。构成ECU100的元器件中，不仅在相同元器件中存在个体差异，在元器件间历时老化速度不同的情况也很多，若包含校正单元在内全部使用劣化程度较小的高精度元器件，则成本变高而无法获利。因此，对于低精度或历时老化程度较大、且不具备校正功能的第2独立电子元器件13B，使用其他电子元器件来进行劣化的诊断，并根据需要进行警告、或对用于评价的参数进行校正、或对第2独立电子元本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种劣化诊断装置(100)，其特征在于，具有作为对象的电子元器件(5a)在处于未劣化状态下相对于参照对象的输出信息、以及作为对象的电子元器件在规定的使用时刻下相对于参照对象处于劣化状态下的输出信息，接收所述电子元器件(5a)相对于参照对象的输出信号，并基于所述未劣化状态下的输出信息与所述劣化状态下的输出信息，来对所述电子元器件(5a)的劣化状态进行评价诊断。

【技术特征摘要】
2016.06.08 JP 2016-1140551.一种劣化诊断装置(100)，其特征在于，具有作为对象的电子元器件(5a)在处于未劣化状态下相对于参照对象的输出信息、以及作为对象的电子元器件在规定的使用时刻下相对于参照对象处于劣化状态下的输出信息，接收所述电子元器件(5a)相对于参照对象的输出信号，并基于所述未劣化状态下的输出信息与所述劣化状态下的输出信息，来对所述电子元器件(5a)的劣化状态进行评价诊断。2.一种劣化诊断装置(100)，其特征在于，包括：参照对象生成装置(51)，该参照对象生成装置(51)生成参照对象；非易失性存储器(57)，该非易失性存储器(57)存储作为对象的电子元器件相对于所述参照对象处于未劣化状态下的输出信息、以及作为对象的电子元器件在规定的使用时刻下相对于所述参照对象处于劣化状态下的输出信息；以及控制装置(52)，该控制装置(52)接收所述电子元器件根据来自所述参照对象生成装置(51)的参照对象所产生的输出，并根据存储于所述非易失性存储器(57)的所述未劣化状态下的输出信息、与所述劣化状态下的输出信息，对所述电子元器件的劣化状态进行诊断。3.如权利要求2所述的劣化诊断装置，其特征在于，所述电子元器件(5a)为电流检测电路，所述非易失性存储器(57)中保有根据所述电子元器件(5a)的劣化状态对所述电子元器件(5a)的测定值进行校正的程序，并根据所述电子元器件(5a)的劣化状态，对所述电子元器件(5a)的测定值进行...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗本昌宪，岩上祐希，西马由岳，矢内隆之，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP