一种用于光学材料亚表面损伤检测的定位装夹装置制造方法及图纸

一种用于光学材料亚表面损伤检测的定位装夹装置，包括壳体和连杆，壳体固定在底座上，壳体两侧设有矩形槽，壳体内部设有弹簧；连杆穿过矩形槽置于弹簧上，连杆一端设有指针，另一端设有试样夹头；壳体顶面设有螺纹孔，螺栓压杆通过螺纹孔压在连杆上。通过压紧螺杆调节试样浸入腐蚀液的位置，控制试样的浸入深度和侵入时间，获得具有若干腐蚀台阶的试样，便于试样亚表面损伤检测。采用本实用新型专利技术获得的腐蚀试样，能够获得每个腐蚀时段的表面形貌，并避免多次检测误差，提高光学材料亚表面损伤检测的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光学材料亚表面损伤检测的定位装夹装置
本技术属于专用夹具
，涉及一种用于光学材料亚表面损伤检测的定位装夹装置。
技术介绍
光学材料目前已被广泛应用于激光技术、光电通讯、航空航天和国防工业等领域。然而，光学材料的表面和亚表面质量制约其在相关领域中的使用质量和寿命，尤其是亚表面损伤的存在严重影响光学元件的镀膜质量、激光损伤阈值和关键力学强度。因此，亚表面损伤的准确检测成为光学元件无损伤加工的关键。光学材料亚表面损伤检测目前常用的技术包括损伤性检测技术和无损伤检测技术。其中，损伤性检测技术由于其具有获得损伤信息直观、精度较高和内容丰富等优点，成为检测连续性损伤和验证新型亚表面检测技术的必要技术手段。损伤性检测技术主要包括截面显微法、角度抛光法(含磁流变抛光法)和化学蚀刻法。截面显微法和角度抛光法只能检测亚表面裂纹损伤层的深度，而化学蚀刻法能检测整个损伤层深度(包括裂纹层和变形层)。化学蚀刻法通常是将试样整体浸入腐蚀液中，通过测量单位时间内试样的质量或者厚度变化，以腐蚀速率的拐点时刻定义腐蚀到基体的时间，进而确定亚表面损伤深度。该方法主要存在以下三个缺陷：(1)需要高精度台阶仪本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光学材料亚表面损伤检测的定位装夹装置，包括壳体和连杆，其特征在于，壳体固定在底座上，壳体两侧设有矩形槽，壳体内部设有弹簧；连杆穿过矩形槽置于弹簧上，连杆一端设有指针，另一端设有试样夹头；壳体顶面设有螺纹孔，螺栓压杆通过螺纹孔压在连杆上。

【技术特征摘要】
1.一种用于光学材料亚表面损伤检测的定位装夹装置，包括壳体和连杆，其特征在于，壳体固定在底座上，壳体两侧设有矩形槽，壳体内部设有弹簧；连杆穿过矩形槽置于弹簧上，连杆一端设有指针，另一端设有试样夹头；壳体顶面设有螺纹孔，螺栓压杆通过螺纹孔压在连杆上。2.根据权利要求1所述的一种用于光学材料亚表面损伤检测的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王华东，黄平，何力钧，庞佩，
申请(专利权)人：浙江师范大学，
类型：新型
国别省市：浙江,33