指纹芯片检测方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种指纹芯片检测方法、装置、触摸屏开发板及电子终端，其中，指纹芯片检测方法包括：控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间；根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果。通过本发明专利技术实施例，有效提升了检测效率，并且，通过相应的运行参数确定检测结果，使得检测结果比较准确，减小了检测误差。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】指纹芯片检测方法、装置及系统
本专利技术实施例涉及芯片检测
，尤其涉及一种指纹芯片检测方法、装置及系统。
技术介绍
生物特征识别的芯片，如指纹芯片，因可以实现终端设备使用者的身份识别验证，被广泛应用于终端设备中。但随着指纹芯片的广泛使用，对其产品质量的要求也越来越高，指纹芯片的使用寿命就是其中重要的一项质量指标。因为指纹芯片中的电子元件在正常使用的过程中会因为发热、空气氧化等外界因素导致最终损坏，影响了其使用寿命，因此，需要在生产前即对其使用寿命这一质量指标进行检测，以确定其是否符合产品质量标准，满足用户的使用需求。然而，目前对指纹芯片的质量检测多采用人工检测的方式，使得检测效率低下且检测误差较大，对指纹芯片的生产和使用造成了严重影响。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种指纹芯片检测方案，以解决现有指纹芯片检测方案效率低下且检测误差较大的问题。根据本专利技术实施例的第一方面，提供了一种指纹芯片检测方法，包括：控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间；根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果。根据本专利技术实施例的第二方面，还提供了一种指纹芯片检测装置，包括：测试执行模块，用于控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间；结果确定模块，用于根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果。根据本专利技术实施例的第三方面，还提供了一种指纹芯片检测系统，包括基础开发板、指纹芯片和适配器，其中所述基础开发板通过所述适配器连接到所述指纹芯片，所述基础开发板包括处理单元，所述处理单元用于执行如第一方面所述的指纹芯片检测方法所对应的操作。根据本专利技术实施例的第四方面，还提供了一种计算机存储介质，所述计算机可读存储介质存储有：用于控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间的可执行指令；用于根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果的可执行指令。根据本专利技术实施例提供的指纹芯片检测方案，通过控制指纹芯片重复执行用于测试指纹芯片使用寿命的测试指令，以检测指纹芯片的使用寿命。若指纹芯片在执行某次测试指令时，出现测试结果异常，则说明指纹芯片的某个或某些电子元件出现了异常，使用寿命终止，进而，通过此时的运行参数，可以进一步对导致指纹芯片使用寿命终止的原因进行分析，确定最终的检测结果；若指纹芯片在设定测试时间内未出现异常，则可根据测试达到设定测试时间时的运行参数，确定指纹芯片的状态，据此评估指纹芯片的使用寿命，获得最终的检测结果。可见，通过本专利技术实施例的方案，相比较于现有检测方式，有效提升了检测效率，并且，通过相应的运行参数确定检测结果，使得检测结果比较准确，减小了检测误差。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为根据本专利技术实施例一的一种指纹芯片检测方法的步骤流程图；图2为根据本专利技术实施例二的一种指纹芯片检测方法的步骤流程图；图3为根据本专利技术实施例三的一种指纹芯片检测方法的步骤流程图；图4为图3所示实施例中的检测指纹芯片的环境示意图；图5为根据本专利技术实施例四的一种指纹芯片检测装置的结构框图；图6为根据本专利技术实施例五的一种指纹芯片检测装置的结构框图。具体实施方式为使得本专利技术实施例的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术实施例一部分实施例，而非全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术实施例保护的范围。实施例一参照图1，示出了根据本专利技术实施例一的一种指纹芯片检测方法的步骤流程图。本实施例的指纹芯片检测方法包括以下步骤：步骤S102：控制指纹芯片重复执行用于测试指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间。本专利技术实施例中，指纹芯片检测方法可以由任意适当的终端设备中的具有数据处理功能的装置或者设备实现，包括但不限于基础开发板。其中，用于测试指纹芯片使用寿命的测试指令可以由本领域技术人员根据实际需求适当设置，可测试出指纹芯片使用寿命即可。例如，上电指令、采图指令、识别指令、休眠指令、断电指令、中断上报指令、写入固件配置指令、读取OTP(OneTimeProgramable，一次性可编程芯片)指令、ESD(Electro-Staticdischarge，静电释放)检测指令、芯片重置指令等等。设定异常条件和设定测试时间也可以由本领域技术人员根据实际情况适当设置，如，异常条件可以设置为测试结果指示指纹芯片的运行参数超出对应的标准值或者正常值等等；测试时间需要满足一定的时间长度，以使测试指令能够被执行足够多的次数。步骤S104：根据指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定指纹芯片的检测结果。若指纹芯片在执行某次测试指令时，出现测试结果异常，则说明指纹芯片的某个或某些电子元件出现了异常，使用寿命终止，得到指纹芯片使用寿命的检测结果，进而，可以根据出现异常时的运行参数，确定异常原因，得到更为准确的检测结果；若指纹芯片在设定测试时间内未出现异常，则可根据测试达到设定测试时间时的运行参数，确定指纹芯片的状态，据此评估指纹芯片的使用寿命，获得最终的检测结果。其中，运行参数包括但不限于：与固件配置写入错误、OTP读取参数错误(如芯片ID、TCode值、checksum值等)芯片重置失败、上电重启返回错误、芯片模式切换错误或失败时的错误中断值、中断上报波形内容与芯片设定规定的标准在特定模式下不一致等等有关的参数。根据本实施例，通过控制指纹芯片重复执行用于测试指纹芯片使用寿命的测试指令，以检测指纹芯片的使用寿命。若指纹芯片在执行某次测试指令时，出现测试结果异常，则使用寿命终止，进而，通过此时的运行参数，可以进一步对导致指纹芯片使用寿命终止的原因进行分析，确定最终的检测结果；若指纹芯片在设定测试时间内未出现异常，则可根据测试达到设定测试时间时的运行参数，确定指纹芯片的状态，据此评估指纹芯片的使用寿命，获得最终的检测结果。可见，通过本实施例的方案，相比较于现有检测方式，有效提升了检测效率，并且，通过相应的运行参数确定检测结果，使得检测结果比较准确，减小了检测误差。实施例二参照图2，示出了根据本专利技术实施例二的一种指纹芯片检测方法的步骤流程图。本实施例的指纹芯片检测方法包括以下步骤：步骤S202：控制指纹芯片按照设定频率重复执行用于测试指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种指纹芯片检测方法，包括：控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间；根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种指纹芯片检测方法，包括：控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间；根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述测试指令包括以下指令至少之一：指示所述指纹芯片进行生物特征采集的采图指令、指示所述指纹芯片对所述生物特征进行识别的识别指令、指示所述指纹芯片上电的上电指令、指示所述指纹芯片断电的断电指令、指示所述指纹芯片休眠的休眠指令。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测试时间的步骤包括：向所述指纹芯片发送所述测试指令，并获得测试结果；判断所述测试结果是否满足设定异常条件；若满足，则执行所述根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果的步骤；若不满足，则判断测试是否达到设定测试时间；若未达到所述设定测试时间，则返回所述向所述指纹芯片发送所述测试指令，并获得测试结果的步骤继续执行；否则，执行所述根据所述指纹芯片在测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果的步骤。4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其中，所述运行参数包括：所述指纹芯片执行所述测试指令时，所述指纹芯片所在的终端设备中运行的寄存器的运行参数。5.根据权利要求4所述的方法，其中，根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果的步骤包括：比较所述寄存器的运行参数与设定运行参数，根据比较结果确定所述指纹芯片的检测结果。6.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其中，所述控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令的步骤包括：控制指纹芯片按照设定频率重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令。7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其中，根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，确定所述指纹芯片的检测结果的步骤包括：根据所述指纹芯片在测试结果达到设定异常条件或者测试达到设定测试时间时的运行参数，生成测试报告；根据所述测试报告确定所述指纹芯片的检测结果。8.一种指纹芯片检测装置，包括：测试执行模块，用于控制指纹芯片重复执行用于测试所述指纹芯片使用寿命的测试指令，直至测试结果达到设定异常条件和/或测试达到设定测...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐杰，
申请(专利权)人：深圳市汇顶科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44