一种掉电保护电路的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种掉电保护电路的测试方法及系统，所述掉电保护电路的测试方法包括：充电测试：对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；放电测试：将所述掉电保护电路连接一模拟负载并检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间。其中，可以对所述掉电保护电路进行循环的充电测试和放电测试。本发明专利技术可以实现对掉电保护电路的全自动化充电测试和放电测试，有效保证掉电保护电路的可靠性，而且发明专利技术结构简单，控制灵活，使用简单，方便产线人员进行测试，具有广泛的适用性。

A test method and system for power down protection circuit

The invention provides a power down protection circuit test method and system, including the power down protection circuit test method: charging test: the electricity protection circuit in the storage component for charging and detecting the storage element on whether the charging voltage reaches a first preset voltage value in a first predetermined time; discharge test: the electricity protection circuit is connected to a load simulation and detection of the analog load by the energy storage element discharge load voltage is reached second preset voltage value and the discharge time of the storage element is up to second preset time. Among them, the charging test and discharge test can be circulated to the power protection circuit. The invention can realize full automatic charging test and discharge test for the power failure protection circuit, effectively guarantee the reliability of the power failure protection circuit, and has the advantages of simple structure, flexible control and simple operation, and is convenient for the production line personnel to carry out the test, and has wide applicability.

【技术实现步骤摘要】
一种掉电保护电路的测试方法及系统
本专利技术涉及电子电路
，具体为一种掉电保护电路的测试方法及系统。
技术介绍
激光器作为一种精密产品，其必须工作在一种稳定的状态下。如果发生突然掉电，内部精密光学器件容易发生不可逆转的损坏，所以需要有掉电保护设计。用于掉电保护设计的掉电保护电路主要是依靠不间断电源(UPS)，在激光器突然掉电时，不间断电源(UPS)继续为激光器提供电能，使得激光器可以继续工作一段时间后及时正常关机，以防止激光器由于意外突然掉电时受到损坏。掉电保护电路在实际生产中有较多应用，为了保证其能在掉电情况下，稳定可靠工作，需要设计一套系统来模拟实际环境，对掉电保护电路进行测试。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种掉电保护电路的测试方法及系统，用于解决现有技术中无法对掉电保护电路进行测试从而无法预知掉电保护电路的可靠性的问题。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种掉电保护电路的测试方法，所述掉电保护电路的测试方法包括：充电测试：对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；放电测试：将所述掉电保护电路连接一模拟负载并检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间。于本专利技术的一实施例中，所述掉电保护电路的测试方法还包括：对所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值进行指示；对所述模拟负载上的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间进行指示。于本专利技术的一实施例中，所述掉电保护电路的测试方法还包括：对所述掉电保护电路进行循环的充电测试和放电测试。于本专利技术的一实施例中，所述循环的充电测试和所述放电测试的循环次数大于2。为实现上述目的，本专利技术还提供一种掉电保护电路的测试系统，所述掉电保护电路的测试系统包括：微处理器；充电测试模块，包括：供电电源，用于在与所述掉电保护电路导通时对所述掉电保护电路内的储能元件进行充电；第一继电器，分别与所述供电电源、所述储能元件以及所述微处理器相连，用于控制所述供电电源和所述掉电保护电路之间的通断；第一检测电路，集成于所述微处理器上并与所述掉电保护电路中的储能元件相连，用于检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；第一指示元件，集成于所述微处理器上并与所述第一检测电路相连，用于对所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值进行指示；放电测试模块，包括：模拟负载，与所述掉电保护电路相连，第二继电器，分别与所述模拟负载、所述储能元件以及所述微处理器相连，用于控制所述模拟负载和所述储能元件之间的通断；第二检测电路，集成于所述微处理器上并与所述模拟负载相连，用于在所述供电电源和所述掉电保护电路之间断开且所述模拟负载和所述储能元件之间导通时，检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间；第二指示元件，集成于所述微处理器上并与所述第二检测电路相连，用于对所述模拟负载上的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间进行指示。于本专利技术的一实施例中，所述储能元件为电容或蓄电池。于本专利技术的一实施例中，所述第一检测电路包括：第一电压采样电路，用于对所述储能元件上的充电电压进行采样；第一模数转换电路，与所述第一电压采样电路相连，用于对所述第一电压采样电路获取的采样电压进行模数转换；第一比较器，用于将模数转换后的采样电压与预设的第一预设电压值进行比较并输出比较信号；第一计时器，用于对所述储能元件的充电时间进行计时。于本专利技术的一实施例中，所述第一指示元件包括：第一电压指示灯，与所述第一比较器相连，用于根据所述第一比较器的比较结果进行指示；充电时间指示灯，与所述第一计时器相连，用于对所述第一计时器的计时时间是否达到预设的第一预设时间进行指示。于本专利技术的一实施例中，所述第二检测电路包括：第二电压采样电路，用于对所述模拟负载上的负载电压进行采样；第二模数转换电路，与所述第二电压采样电路相连，用于对所述第二电压采样电路获取的采样电压进行模数转换；第二比较器，用于将模数转换后的采样电压与预设的第二预设电压值进行比较并输出比较信号；第二计时器，用于对所述储能元件的放电时间进行计时。于本专利技术的一实施例中，所述第二指示元件包括：第二电压指示灯，与所述第二比较器相连，用于根据所述第二比较器的比较结果进行指示；放电时间指示灯，与所述第二计时器相连，用于对所述第二计时器的计时时间是否达到预设的第二预设时间进行指示。如上所述，本专利技术的一种掉电保护电路的测试方法及系统，具有以下有益效果：1、本专利技术可以实现对掉电保护电路的全自动化充电测试和放电测试，有效保证掉电保护电路的可靠性。2、本专利技术结构简单，控制灵活，使用简单，方便产线人员进行测试，具有广泛的适用性。附图说明图1显示为本专利技术的一种掉电保护电路的测试方法的流程示意图。图2显示为本专利技术的一种掉电保护电路的测试方法的具体实施示意图。图3显示为本专利技术的一种掉电保护电路的测试系统的原理框图。图4显示为本专利技术的一种掉电保护电路的测试系统的结构示意图。元件标号说明100掉电保护电路的测试系统101微处理器102充电测试模块103放电测试模块200掉电保护电路201储能元件S101～S102步骤具体实施方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。本实施例的目的在于提供一种掉电保护电路的测试系统，用于解决现有技术中无法对掉电保护电路进行测试从而无法预知掉电保护电路的可靠性的问题。以下将详细阐述本实施例的一种掉电保护电路的测试系统的原理及实施方式，使本领域技术人员不需要创造性劳动即可理解本实施例的一种掉电保护电路的测试系统。本实施例提供一种掉电保护电路的测试方法，具体地，如图1所示，所述掉电保护电路的测试方法包括以下步骤：步骤S101，充电测试：对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值。步骤S102，放电测试：将所述掉电保护电路连接一模拟负载并检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间。以下对步骤S101至步骤S102进行详细说明。步骤S101，充电测试：对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值。其中，于本实施例中，所述掉电保护电路的结构并不限定，为现有中惯用的掉电保护电路，所述储能元件为电容或蓄电池。充电测试即将掉电保护电路接入外部电源，例如24V电源，让掉电保护电路对电容、电池等储能元件进行充电。判断掉电保护电路内的储能元件是否能正常充电的方法主要通过对储能元件的电压进行检测，当储能元件的电压超本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种掉电保护电路的测试方法，其特征在于：所述掉电保护电路的测试方法包括：充电测试：对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；放电测试：将所述掉电保护电路连接一模拟负载并检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间。

【技术特征摘要】
1.一种掉电保护电路的测试方法，其特征在于：所述掉电保护电路的测试方法包括：充电测试：对掉电保护电路内的储能元件进行充电并检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；放电测试：将所述掉电保护电路连接一模拟负载并检测所述模拟负载上由所述储能元件放电产生的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间。2.根据权利要求1所述的掉电保护电路的测试方法，其特征在于：所述掉电保护电路的测试方法还包括：对所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值进行指示；对所述模拟负载上的负载电压是否达到第二预设电压值和所述储能元件的放电时间是否达到第二预设时间进行指示。3.根据权利要求1所述的掉电保护电路的测试方法，其特征在于：所述掉电保护电路的测试方法还包括：对所述掉电保护电路进行循环的充电测试和放电测试。4.根据权利要求3所述的掉电保护电路的测试方法，其特征在于：所述循环的充电测试和所述放电测试的循环次数大于2。5.一种掉电保护电路的测试系统，其特征在于：所述掉电保护电路的测试系统包括：微处理器；充电测试模块，包括：供电电源，用于在与所述掉电保护电路导通时对所述掉电保护电路内的储能元件进行充电；第一继电器，分别与所述供电电源、所述储能元件以及所述微处理器相连，用于控制所述供电电源和所述掉电保护电路之间的通断；第一检测电路，集成于所述微处理器上并与所述掉电保护电路中的储能元件相连，用于检测所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值；第一指示元件，集成于所述微处理器上并与所述第一检测电路相连，用于对所述储能元件上的充电电压是否在第一预设时间内达到第一预设电压值进行指示；放电测试模块，包括：模拟负载，与所述掉电保护电路相连，第二继电器，分别与所述模拟负载、所述储能元件以及所述微处理器相连，用于控制所述模拟负载和所述储能元件之间的通断；第二检测电路，集成于所述微处理器上并与所述模拟负载相连，用于在所述供电电源和所述掉电...

【专利技术属性】
技术研发人员：李彤欣，张博，胡雪原，
申请(专利权)人：国神光电科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31