一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪技术

本发明专利技术公开了一种优化波长矫正方法，包括如下步骤：测量标准白板在不同像元处的信号光强度

An optimized wavelength correction method and a light spectrophotometer using this method

The present invention discloses an optimized wavelength correction method, including the following steps: measuring the signal light intensity of a standard white board at different pixels

【技术实现步骤摘要】
一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪
本专利技术涉及分光测试仪，具体是一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪。
技术介绍
颜色测量仪器是将颜色这一心理物理量量化的常规测量仪器。评价颜色测量仪器最关键的两个指标是测量重复性和示值误差。颜色测量仪器从测量原理上来分有两种：光电积分式测色仪和分光测色仪。光电积分式测色仪器是在可见光范围内采用单颗硅光电二极管配合滤光片调整仪器的光谱响应，通过积分测量测得样品颜色的三刺激值X、Y、Z。这种技术手段很难达到较低的示值误差。目前主流的颜色测量仪器是分光测色仪，这种方法同样是通过测量被测样品表面的反射光谱率来计算颜色数据的，可达到较好的测量重复性和较低的示值误差。在基于分光法的仪器设计原理如图1所示，通常使用在可见光范围内有充足分布的氙灯、卤钨灯作为照明光源，采用阵列探测器作为传感器，光栅作为色散器件。照明光源发出的光照在被测样品上，反射光进入分光色散系统，分光色散系统将反射光以一定波长分辨率分开投射在阵列传感器上，使阵列传感器获得整个可见光范围内的光谱分布。由于替代了传统的机械扫描式分光色散结构，分光法的测试时间很短，大大降低了对照明本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种优化波长矫正方法，包括如下步骤：测量标准白板在不同像元处的信号光强度I′white‑pixel(npixel)；测量标准黑板在不同像元处的信号光强度I′black‑pixel(npixel)；测量标准绿板在不同像元处的信号光强度I′green‑pixel(npixel)；通过白板和黑板的采样结果，计算绿板在不同像元处的光谱反射曲线

【技术特征摘要】
1.一种优化波长矫正方法，包括如下步骤：测量标准白板在不同像元处的信号光强度I′white-pixel(npixel)；测量标准黑板在不同像元处的信号光强度I′black-pixel(npixel)；测量标准绿板在不同像元处的信号光强度I′green-pixel(npixel)；通过白板和黑板的采样结果，计算绿板在不同像元处的光谱反射曲线在仪器出厂前对仪器进行定标测量，取R′green-pixel(npixel)的最大值对应像元npixel-max记录至仪器内部；在用户实际使用仪器时，每次开机后进行以上校正过程，得到R′green-pixel(npixel)的最大值对应像元n′pixel-max，看n′pixel-max与npixel-max是否相同；如果相同，则证明仪器的传感器像元和波长之间的对应关系没有出现偏差；如果不相同则证明仪器的传感器像元和波长之间的对应关系出现了偏差，需要进行修正；正常偏差范围的确定方法为：将仪器放在一个恒温试验箱中，模拟仪器的使用温度从5℃变化为75℃，每变化10摄氏度进行一次测量，最大反射率的位置随温度变化，温度变化过程中，最大值对应像元的...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁琨，吴逸萍，
申请(专利权)人：杭州彩谱科技有限公司，中国计量学院，
类型：发明
国别省市：浙江,33