【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种多波长特征X射线衍射测量装置,包括X射线管(1)、高压发生器(2)、入射狭缝(3)、样品台(4)、接收狭缝(5)、测角仪(6)、探测器(7)、多道分析器(8)、运动控制器(9)、计算机(10)、电源(11)等,其特征在于:所述X射线管(1)的阳极靶由Cu、Mo、Ag、W、Au、Pt等原子序数Z>10的金属或合金制成;且高压发生器(10)输出到X射线管(1)的管电压大于阳极靶的金属或合金的K系特征X射线激发电压的3倍;所述探测器(7)探测衍射的X射线经所述的多道分析器(8)完成特征X射线单色化和获得该衍射角2θ的能量色散衍射谱,并将记录的衍射的特征X射线光子数量和该2θ角的能量色散衍射谱输出到计算机(9),2θ定时扫描测量,即可测得位于样品台(4)上被测样品被测部位的靶材某一特征X射线的衍射谱,以及各2θ角的能量色散衍射谱。
【技术特征摘要】
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