机器的运动测量系统以及用于操作运动测量系统的方法技术方案
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】机器的运动测量系统以及用于操作运动测量系统的方法本专利技术涉及机器的运动测量系统、包括运动测量系统的机器、用于操作机器的运动测量系统的方法、以及用于操作包括运动测量系统的机器的方法。诸如坐标测量机或机床等的机器通常具有可移动部分，所述可移动部分例如携带有用于捕捉工件的坐标的传感器、或者携带有用于对工件进行处理的处理工具。因此所述可移动部分具体是传感器载体。所述可移动部分是相对于所述机器的另一部分、例如相对于基座可在移动范围内移动的。举例而言，所述坐标测量机(缩写为CMM)的传感器是安装在所述CMM的可移动部分(例如，套筒或臂)上的测量头。在所述测量头上，可以安装探查器(例如，探针)，具体而言，CMM使用所述探查器来以触觉方式探查工件的表面以生成所述测量头的传感器信号。因此，具体而言，用于对有待测量的工件进行触觉探查的探查器也是传感器的实例或所述传感器的一部分。所述测量头具有传感器系统，具体而言，所述传感器系统生成测量信号，评估所述测量信号使得能够确定坐标。然而，在坐标测量技术中还存在其他传感器。举例而言，传感器可以仅启动对坐标的测量。例如开关式测量头就是这种情况，所...
【技术保护点】
一种用于操作机器的、尤其是坐标测量机(1)或机床(11)的运动测量系统(10，13，23，31)的方法，其中·被安排在所述机器的第一部分(2)上的图像记录装置(13；23)记录所述机器的第二部分(7)的至少一个记录图像，其中所述第一部分(2)和所述第二部分(7)是相对于彼此可移动的，·由所述第二部分(7)形成的和/或被安排在所述第二部分(7)上的捕捉结构(31；41)被所述至少一个记录图像捕捉到并且·使用关于所述捕捉结构(31；41)的实际外观的信息、根据所述至少一个记录图像与所述捕捉结构(31；41)的实际外观之间的差异来确定所述第一部分(2)和所述第二部分(7)的相对移动的速度。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2015.03.30 DE 102015205738.01.一种用于操作机器的、尤其是坐标测量机(1)或机床(11)的运动测量系统(10，13，23，31)的方法，其中·被安排在所述机器的第一部分(2)上的图像记录装置(13；23)记录所述机器的第二部分(7)的至少一个记录图像，其中所述第一部分(2)和所述第二部分(7)是相对于彼此可移动的，·由所述第二部分(7)形成的和/或被安排在所述第二部分(7)上的捕捉结构(31；41)被所述至少一个记录图像捕捉到并且·使用关于所述捕捉结构(31；41)的实际外观的信息、根据所述至少一个记录图像与所述捕捉结构(31；41)的实际外观之间的差异来确定所述第一部分(2)和所述第二部分(7)的相对移动的速度。2.如权利要求1所述的方法，其中，关于所述捕捉结构(31；41)的实际外观的信息包括所述捕捉结构(31；41)的参考图像，并且其中，通过评估所述参考图像与由所述图像记录装置(13；23)所记录的所述至少一个记录图像之间的差异来确定所述相对移动的速度。3.如权利要求2所述的方法，其中，通过将所述参考图像与所述记录图像的、所述捕捉结构(31；41)被成像于其中的区域进行数学卷积，来确定所述卷积的卷积核，并且根据所述卷积核来确定所述相对移动的速度。4.如权利要求3所述的方法，其中，将所述卷积核解释为以下几何结构：所述几何结构的外部尺寸与所述参考图像的外部尺寸和所述记录图像中的、所述捕捉结构(31；41)被成像于其中的所述区域的外部尺寸相对应，并且其中，根据所述卷积核的部分结构(53，54)的至少一种几何特性来确定所述相对移动的速度。5.如权利要求4所述的方法，其中，所述记录图像和所述参考图像是二维图像，并且其中，根据所述卷积核的部分结构(54)的几何形状来确定所述相对移动的速度的绝对值和/或方向。6.如权利要求1至5中任一项所述的方法，其中，所述捕捉结构(41)是以下结构：所述结构的、变换到频域的位置函数在频率范围内不为零，所述频率范围以频率零开始但不包含频率零并且以预先限定的最大频率结束。7.如权利要求6所述的方法，其中，将所述最大频率预先限定成使得，它不小于所述相机的奈奎斯特频率。8.如权利要求6或7所述的方法，其中，所述捕捉结构的被变换到频域的位置函数的函数值在整个频率范围内大于预先限定的最小值。9.如权利要求8所述的方法，其中，所述预先限定的最小值大于所述记录图像的图像值的统计波动幅值，所述统计波动幅值是由于记录所述记录图像以及确定所述速度而...
【专利技术属性】
技术研发人员：N哈弗坎普，D塞茨，T托伊贝尔，L奥姆洛尔，
申请(专利权)人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE
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